[發明專利]JTAG調試器的調試方法、調試器及系統

在審

• 申請號: 201711276058.9
• 申請日: 2017-12-06
• 公開（公告）號: CN108107351A
• 公開（公告）日: 2018-06-01
• 發明（設計）人: 田軍;段媛媛;賈紅;程顯志;陳維新;韋嶔
• 申請（專利權）人: 西安智多晶微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185
• 代理公司: 西安嘉思特知識產權代理事務所(普通合伙) 61230
• 代理人: 劉長春

1.一種JTAG調試器的調試方法，其特征在于：包括：

(a)接收上位機傳輸的SVF文件；

(b)解析所述SVF文件并生成調試信號；

(c)輸出所述調試信號。

2.根據權利要求1所述的調試方法，其特征在于，所述調試信號包括：TCK信號、TMS信號、TDI信號。

3.根據權利要求2所述的調試方法，其特征在于：步驟(b)包括：

(b1)解析所述SVF文件并生成時序參數、JTAG狀態機數據、TCK數據、TDI數據；

(b2)將所述時序參數、JTAG狀態機數據、所述TCK數據、所述TDI數據轉換形成時序控制信號、所述TMS信號、所述TCK信號、所述TDI信號。

4.根據權利要求1所述的調試方法，其特征在于：步驟(c)之后還包括：

(x1)讀取TDO信號并生成TDO數據；

(x2)將所述TDO數據與SVF文件的期望值進行對比產生對比結果；

(x3)輸出所述對比結果和所述TDO數據。

5.一種JTAG調試器，其特征在于：包括：

接收芯片，用于接收從上位機傳輸的SVF文件；

解析芯片，與所述接收芯片連接，用于解析所述SVF文件并輸出調試信號。

6.根據權利要求5所述的JTAG調試器，其特征在于：所述調試信號包括：TCK信號、TMS信號、TDI信號。

7.根據權利要求6所述的JTAG調試器，其特征在于：所述解析芯片包括：

SVF解析模塊，用于解析所述SVF文件并產生調試數據；

JTAG狀態機模塊，用于產生所述TMS信號；

TCK產生模塊，用于產生所述TCK信號；

TDI數據輸出模塊，用于產生所述TDI信號；

TDO數據讀取模塊，用于讀取TDO信號；

時序參數模塊，用于產生時序控制信號。

8.根據權利要求5所述的JTAG調試器，其特征在于：所述JTAG調試器通過USB端口或網口或串口或wifi或藍牙或ZigBee連接所述上位機。

9.根據權利要求5所述的JTAG調試器，其特征在于：所述JTAG調試器同時測試一個或多個測試芯片。

10.一種JTAG調試系統，其特征在于：包括：上位機和權利要求5～9中任一項所述的JTAG調試器。