[發明專利]功率管測試電路及功率管測試裝置

有效

• 申請號: 201711274145.0
• 申請日: 2017-12-04
• 公開（公告）號: CN108051719B
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發明（設計）人: 江雪晨;馮宇翔
• 申請（專利權）人: 廣東美的制冷設備有限公司;美的集團股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

本發明公開一種功率管測試電路及功率管測試裝置，該電路包括主控制器、主測試電路及按鍵控制電路，主測試電路包括多個測試開關，主控制器的多個按鍵信號輸入端與按鍵控制電路的多個按鍵信號輸出端一一對應連接，主控制器的多個控制端與多個測試開關的受控端一一對應連接；按鍵控制電路接收用戶輸入的按鍵指令，并將按鍵指令對應的按鍵信號輸出至主控制器；主控制器根據按鍵信號控制主測試電路中對應的測試開關閉合，以組成相應的測試支路，實現功率管的多組動態參數和/或靜態參數測試。本發明根據測試需求，通過測試開關將功率管的動態參數和靜態參數測試支路集成于主測試電路中，從而在同一個設備中同時實現功率管多組動態參數和靜態參數測試。

技術領域

本發明涉及電子電路技術領域，特別涉及一種功率管測試電路及功率管測試裝置。

背景技術

IGBT作為一種大功率半導體功率開關器件，廣泛應用于電機變頻調速、高性能電源及工業電氣自動化等領域，具有著廣闊的市場。為了優化IGBT器件的設計，如何準確測試IGBT實際應用時的各項參數變得十分重要。

根據測試條件的不同，IGBT的被測參數可以分為兩大類：靜態參數和動態參數。IGBT的靜態參數的需要測試的項目多且雜，并且針對不同的參數需要采用測試設備，通過相應的測試方法來進行，每套設備只能測試特定的項目，設備利用率低，且無法在同一個設備中同時實現多組動態參數和靜態參數測試，就必須配置多套測試設備，測試成本較高。

發明內容

本發明的主要目的是提出一種功率管測試電路及功率管測試裝置，旨在在同一個設備中同時實現功率管的動態參數和靜態參數測試。

為實現上述目的，本發明提出一種功率管測試電路，包括主控制器、主測試電路及按鍵控制電路，所述主測試電路包括多個測試開關，所述主控制器的多個按鍵信號輸入端與所述按鍵控制電路的多個按鍵信號輸出端一一對應連接，所述主控制器的多個控制端與多個所述測試開關的受控端一一對應連接；

所述按鍵控制電路，用于接收用戶輸入的按鍵指令，并將所述按鍵指令對應的按鍵信號輸出至所述主控制器；

所述主控制器，用于根據所述按鍵信號控制所述主測試電路中對應的測試開關閉合，以組成相應的測試支路，實現功率管的動態參數和/或靜態參數測試。

優選地，所述主測試電路通過所述多個測試開關組成用于測試所述功率管的動態參數的雙脈沖測試支路、用于測試所述功率管的開啟電壓V_GE(th)的V_GE(th)測試支路、用于測試所述功率管的門極擊穿電壓V_GES和柵射極漏電流I_GES的V_GES-IGES測試支路、用于測試所述功率管的集電極發射極間耐壓V_CES和集電極發射極間漏電流I_CES的V_CES-I_CES測試支路，以及測試所述功率管的飽和導通壓降V_CE(sat)的V_CE(sat)測試支路。

優選地，所述雙脈沖測試支路包括第一測試開關、第二測試開關、第三測試開關、第四測試開關、第一二極管、第二二極管、第一電感、第一可變電阻器及儲能電容，所述第一測試開關的輸入端與所述主控制器的脈沖信號輸出端連接，所述第一測試開關的輸出端經所述第一可變電阻器與所述功率管的受控端連接；所述第二測試開關的輸入端與所述功率管的輸入端、所述第一電感的第一端及所述第一二極管的陽極互連，所述第二測試開關的輸出端與所述第二二極管的陰極連接；所述第二二極管的陽極與所述功率管的輸出端及所述儲能電容的第一端互連，并接地；所述第一電感的第二端與所述第一二極管的陰極及所述第三測試開關的輸入端互連；所述第三測試開關的輸出端與所述第四測試開關的輸入端連接；所述第四測試開關的輸出端與所述儲能電容的第二端連接。