[發(fā)明專利]功率管測試電路及功率管測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711274145.0
• 申請日: 2017-12-04
• 公開（公告）號: CN108051719B
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 江雪晨;馮宇翔
• 申請（專利權(quán)）人: 廣東美的制冷設(shè)備有限公司;美的集團(tuán)股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 胡海國

1.一種功率管測試電路，其特征在于，包括主控制器、主測試電路及按鍵控制電路，所述主測試電路包括多個測試開關(guān)，多個所述測試開關(guān)之間相互連接，所述主控制器的多個按鍵信號輸入端與所述按鍵控制電路的多個按鍵信號輸出端一一對應(yīng)連接，所述主控制器的多個控制端與多個所述測試開關(guān)的受控端一一對應(yīng)連接；

所述按鍵控制電路，用于接收用戶輸入的按鍵指令，并將所述按鍵指令對應(yīng)的按鍵信號輸出至所述主控制器；

所述主控制器，用于根據(jù)所述按鍵信號控制所述主測試電路中對應(yīng)的測試開關(guān)閉合，以組成相應(yīng)的測試支路，實(shí)現(xiàn)功率管的動態(tài)參數(shù)和/或靜態(tài)參數(shù)測試。

2.如權(quán)利要求1所述的功率管測試電路，其特征在于，所述主測試電路通過所述多個測試開關(guān)組成用于測試所述功率管的動態(tài)參數(shù)的雙脈沖測試支路、用于測試所述功率管的開啟電壓V_GE(th)的V_GE(th)測試支路、用于測試所述功率管的門極擊穿電壓V_GES和柵射極漏電流I_GES的V_GES-I_GES測試支路、用于測試所述功率管的集電極發(fā)射極間耐壓V_CES和集電極發(fā)射極間漏電流I_CES的V_CES-I_CES測試支路，以及測試所述功率管的飽和導(dǎo)通壓降V_CE(sat)的V_CE(sat)測試支路。

3.如權(quán)利要求2所述的功率管測試電路，其特征在于，所述雙脈沖測試支路包括第一測試開關(guān)、第二測試開關(guān)、第三測試開關(guān)、第四測試開關(guān)、第一二極管、第二二極管、第一電感、第一可變電阻器及儲能電容，所述第一測試開關(guān)的輸入端與所述主控制器的脈沖信號輸出端連接，所述第一測試開關(guān)的輸出端經(jīng)所述第一可變電阻器與所述功率管的受控端連接；所述第二測試開關(guān)的輸入端與所述功率管的輸入端、所述第一電感的第一端及所述第一二極管的陽極互連，所述第二測試開關(guān)的輸出端與所述第二二極管的陰極連接；所述第二二極管的陽極與所述功率管的輸出端及所述儲能電容的第一端互連，并接地；所述第一電感的第二端與所述第一二極管的陰極及所述第三測試開關(guān)的輸入端互連；所述第三測試開關(guān)的輸出端與所述第四測試開關(guān)的輸入端連接；所述第四測試開關(guān)的輸出端與所述儲能電容的第二端連接。

4.如權(quán)利要求3所述的功率管測試電路，其特征在于，所述V_GES-I_GES測試支路包括第五測試開關(guān)，所述第五測試開關(guān)的輸入端與所述第一電感的第一端連接，所述第五測試開關(guān)的第二端與所述第一二極管的陽極連接。

5.如權(quán)利要求3所述的功率管測試電路，其特征在于，所述V_GE(th)測試支路包括第六測試開關(guān)及第七測試開關(guān)，所述第六測試開關(guān)的輸入端與所述第一可變電阻器連接，所述第六測試開關(guān)的輸出端與所述功率管的輸入端及所述第七測試開關(guān)的輸入端互連；所述第七測試開關(guān)的輸出端與所述第一電感的第二端及第三測試開關(guān)的輸入端互連。

6.如權(quán)利要求5所述的功率管測試電路，其特征在于，所述V_CES-I_CES測試支路包括第八測試開關(guān)及第二可變電阻器，所述第八測試開關(guān)并聯(lián)設(shè)置于所述功率管的受控端與輸出端；所述第二可變電阻器并聯(lián)設(shè)置于所述第三測試開關(guān)的輸入端與輸出端。

7.如權(quán)利要求6所述的功率管測試電路，其特征在于，所述主控制器在接收到所述按鍵控制電路輸出的V_CE(sat)測試按鍵信號時(shí)，控制所述第一測試開關(guān)、所述第四測試開關(guān)及所述第七測試開關(guān)閉合，以形成所述V_CE(sat)測試支路。