[發明專利]高精度幅寬在線測量裝置

在審

• 申請號: 201711266253.3
• 申請日: 2017-12-05
• 公開（公告）號: CN107860320A
• 公開（公告）日: 2018-03-30
• 發明（設計）人: 武宏昌;張偉;尹建兵;彭朝東;陳志忠;林飛
• 申請（專利權）人: 深圳精創視覺科技有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明屬于光學檢測領域，尤其涉及玻璃及光學膜產業用高精度幅寬在線測量裝置。

背景技術

眾所周知，在光學行業中，玻璃制品及光學膜產品在光學產品中占據著很高的比例，在玻璃制品及光學膜產品的加工制造過程中，對玻璃制品及光學膜產品的幅寬指標進行控制是至關重要的一步。隨著科學技術和工業生產的高速發展，人們對測量要求也越來越高，并開始向著高速、高精度、小型化、智能化等方面發展，尤其是在科技高速發展的今天，對零件尺寸測量精度要求越來越高。

在人類的日常生活中，測量占據了舉足輕重的地位。在傳統測量領域里，玻璃制品及光學膜產品的幅寬測量是在線下另行完成的，且以卷尺、鋼尺等接觸式測量為主，這種檢測方式主要存在以下幾種缺陷：（1）檢測過程需要耗費大量人力物力，人工成本高，費時費力，檢測效率低，無法進行快速在線測量，更無法根據在線測量結果對玻璃及光學膜進行實時監控和調整，不能滿足現代社會規模化生產要求；（2）檢測精度低，測量數據對制程的反饋嚴重滯后，不利于玻璃及光學膜產品品質的提升，而且傳統的測量方式常常由于測量者不同得到的結果也不一樣，測量結果的一致性很差，導致玻璃及光學膜的質量不穩定；（3）檢測范圍有限，對于大尺寸的玻璃及光學膜的幅寬測量，難以通過卷尺、鋼尺等傳統檢測方式獲得高精度的測量結果；（4）由于傳統檢測方式主要是通過接觸式測量，檢測過程中容易對玻璃及光學膜等待檢樣品表面造成劃損，影響玻璃及光學膜的使用性能。

發明內容

本發明的目的是解決上述現有技術的不足，提供一種測量效率高、測量范圍廣、測量精度高、省時省力且不會對待測樣品造成劃損的高精度幅寬在線測量裝置。

本發明解決上述現有技術的不足所采用的技術方案是：

一種高精度幅寬在線測量裝置，其特征在于，包括：

機架，用于承載設置在其上的模組；

測量模組，設置在所述機架上，用于對待檢樣品進行幅寬測量；

運動模組，設置在所述機架上，所述測量模組在所述運動模組的帶動下進行左右位移；

外圍驅動模組，分別與所述測量模組、運動模組電性連接。

優選的，本發明中所述測量模組是在所述機架上設有第一取像元件和第二取像元件，所述第一取像元件和第二取像元件對待測樣品進行圖像采集。通過利用第一取像元件和第二取像元件對待測樣品進行圖像采集，避免測量過程中與待測樣品接觸對待測樣品表面造成劃損，能夠有效提高玻璃及光學膜等待測樣品的品質及使用性能。

優選的，本發明還包括圖像處理元件，所述第一取像元件和第二取像元件分別連接所述圖像處理元件，所述第一取像元件和第二取像元件分別將采集的圖像傳送給所述圖像處理元件。由圖像處理元件接收第一取像元件和第二取像元件的圖像信息，測量時可實時得到精確的測量結果，制程人員能夠根據實時測量數據反饋及時對上道工序做出修正，并且測量數據也能夠為下道工序提供參考。

優選的，本發明中所述運動模組是在所述機架上橫設有固定載板，所述固定載板上設有第一運動模組和第二運動模組，所述第一取像元件、第二取像元件分別設置在所述第一運動模組、第二運動模組上，所述第一取像元件、第二取像元件分別在所述第一運動模組、第二運動模組的帶動下進行左右位移。

優選的，本發明中所述第一運動模組是在所述機架上設有第一左右位移滑軌和第一左右位移驅動電機，所述第一左右位移滑軌上設有可沿其自由滑動的第一左右位移滑座，所述第一左右位移驅動電機與所述第一左右位移滑座相連，所述第一取像元件設置在所述第一左右位移滑座上；所述第二運動模組是在所述機架上設有第二左右位移滑軌和第二左右位移驅動電機，所述第二左右位移滑軌上設有可沿其自由滑動的第二左右位移滑座，所述第二左右位移驅動電機與所述第二左右位移滑座相連，所述第二取像元件設置在所述第二左右位移滑座上。

優選的，本發明中所述固定載板與所述第一左右位移滑軌末端相對應處設有第一極限位置傳感器，所述固定載板與所述第二左右位移滑軌末端相對應處設有第二極限位置傳感器，所述第一極限位置傳感器和第二極限位置傳感器均與所述外圍驅動模組相連。通過設置第一極限位置傳感器和第二位置傳感器，能夠防止第一左右位移滑座和第二左右位移滑座從第一左右位移滑軌和第二左右位移滑軌上脫落，增強本發明裝置的操作安全性。