[發(fā)明專利]確定導電滑環(huán)壽命影響因素最優(yōu)組合的方法、裝置及設備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711260892.9 | 申請日: | 2017-12-04 |
| 公開(公告)號: | CN107862417A | 公開(公告)日: | 2018-03-30 |
| 發(fā)明(設計)人: | 蔡益軍 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市晶沛電子有限公司 |
| 主分類號: | G06Q10/04 | 分類號: | G06Q10/04 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11227 | 代理人: | 羅滿 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市寶*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 確定 導電 滑環(huán) 壽命 影響 因素 最優(yōu) 組合 方法 裝置 設備 | ||
技術領域
本發(fā)明涉及導電滑環(huán)測試領域,特別是涉及一種確定導電滑環(huán)壽命影響因素最優(yōu)組合的方法、裝置、設備以及一種計算機可讀存儲介質(zhì)。
背景技術
導電滑環(huán)屬于電接觸滑動連接應用范疇,是實現(xiàn)兩個相對轉(zhuǎn)動機構(gòu)的圖像傳輸、數(shù)據(jù)信號傳輸及動力傳遞的精密輸電裝置。影響導電滑環(huán)壽命的因素有很多種,例如刷線、銅環(huán)、電流與刷壓等,由于導電滑環(huán)的刷線和銅環(huán)始終需要保持壓力接觸才能保證傳輸信號或者電流順利的不間斷的傳輸,而壓力接觸和過電流會導致刷線與銅環(huán)機械磨損,從而影響導電滑環(huán)壽命。導電滑環(huán)的刷線及銅環(huán)等部件分很多類型,例如,銅環(huán)分為H62鍍銀200uin、H62鍍金10uin和H62鍍金50uin等,因此,確定影響導電滑環(huán)壽命的最優(yōu)組合是延長導電滑環(huán)使用壽命的重要方法。
傳統(tǒng)確定導電滑環(huán)影響因素最優(yōu)組合的方法有兩種,下面分別對其進行介紹。一種方法通過對獨立單因素組合進行測試,也就是變化一個因素而固定其他因素進行測試,這種方法一般一次只能一個因素,比如固定相同銅環(huán)、刷壓與電流情況下,把4種刷線分別與它們搭配測試壽命,測試4種刷線哪個最優(yōu),從而確定最優(yōu)組合。但是這種方法只能得出哪種刷線與固定的銅環(huán)、刷壓與電流的匹配性能最好的結(jié)論,而忽略了其他刷線與該固定的銅環(huán)、刷壓與電流的匹配性能可能更好的情況,因此這種方法準確度較低。
另一種方法為全面試驗方法,對各影響因素和各個影響因素下的水平因素之間的關系剖析得比較清楚。但這種試驗方法試驗數(shù)量較大,特別是當影響因素數(shù)量多,每個影響因素下的水平因素也多時,試驗量大得驚人。例如,選4個影響因素,每個影響因素下4個水平因素的話,全面試驗的試驗次數(shù)高達256次,試驗數(shù)量過大,試驗繁瑣,試驗效率低。
可見,如何精準高效的確定影響導電滑環(huán)壽命的最優(yōu)組合,是丞待本領域技術人員解決的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種確定導電滑環(huán)壽命影響因素最優(yōu)組合的方法、裝置、設備以及一種計算機可讀存儲介質(zhì),用以解決確定導電滑環(huán)壽命影響因素最優(yōu)組合時準確度低,試驗繁瑣,效率低的問題。
為解決上述技術問題,本發(fā)明提供一種確定導電滑環(huán)壽命影響因素最優(yōu)組合的方法,包括:
確定多個影響導電滑環(huán)壽命的影響因素;
確定各個所述影響因素下多個水平因素;
根據(jù)所述影響因素以及所述水平因素,確定多組正交試驗對象,各組所述正交試驗對象之間滿足正交性;
根據(jù)各組所述正交試驗對象進行試驗,得到多個試驗數(shù)據(jù);
分析所述試驗數(shù)據(jù),確定各個所述影響因素的最優(yōu)組合。
其中,所述根據(jù)所述影響因素以及所述水平因素,確定多組正交試驗對象包括:
根據(jù)所述影響因素以及所述水平因素,確定因素水平表;
根據(jù)所述因素水平表,確定多組正交試驗對象。
其中,所述分析所述試驗數(shù)據(jù),確定各個所述影響因素的最優(yōu)組合包括:
分析所述試驗數(shù)據(jù),分別確定各個所述影響因素下各個所述水平因素所在的試驗的試驗數(shù)據(jù)總和;
根據(jù)所述試驗數(shù)據(jù)總和,分別確定各個所述影響因素下,所述試驗數(shù)據(jù)總和中的最大試驗數(shù)據(jù)總和;
確定各個所述影響因素下,與所述最大試驗數(shù)據(jù)總和對應的最優(yōu)水平因素;
根據(jù)各個所述影響因素下的所述最優(yōu)水平因素,確定影響因素最優(yōu)組合。
其中,在所述根據(jù)所述試驗數(shù)據(jù)總和,分別確定各個所述影響因素下,所述試驗數(shù)據(jù)總和中的最大試驗數(shù)據(jù)總和之后,還包括:
根據(jù)所述試驗數(shù)據(jù)總和,分別確定各個所述影響因素下,所述試驗數(shù)據(jù)總和中的最小試驗數(shù)據(jù)總和;
分別計算出各個所述影響因素下,所述最大試驗數(shù)據(jù)總和與所述最小試驗數(shù)據(jù)的試驗數(shù)據(jù)差值;
根據(jù)所述試驗數(shù)據(jù)差值,確定各個所述影響因素的主次性。
其中,其特征在于,所述分析所述試驗數(shù)據(jù),確定各個所述影響因素的最優(yōu)組合包括:
分別判斷各個所述試驗數(shù)據(jù)是否在預設范圍內(nèi);
若各個所述試驗數(shù)據(jù)均在預設范圍內(nèi),則分析所述試驗數(shù)據(jù),確定各個所述影響因素的最優(yōu)組合。
本發(fā)明還提供了一種確定導電滑環(huán)壽命影響因素最優(yōu)組合的裝置,包括:
影響因素確定模塊:用于確定多個影響導電滑環(huán)壽命的影響因素;
水平因素確定模塊:用于確定各個所述影響因素下多個水平因素;
正交試驗對象確定模塊:用于根據(jù)所述影響因素以及所述水平因素,確定多組正交試驗對象,各組所述正交試驗對象之間滿足正交性;
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