[發明專利]確定導電滑環壽命影響因素最優組合的方法、裝置及設備

在審

• 申請號: 201711260892.9
• 申請日: 2017-12-04
• 公開（公告）號: CN107862417A
• 公開（公告）日: 2018-03-30
• 發明（設計）人: 蔡益軍
• 申請（專利權）人: 深圳市晶沛電子有限公司
• 主分類號: G06Q10/04
• 分類號: G06Q10/04
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司11227
• 代理人: 羅滿

1.一種確定導電滑環壽命影響因素最優組合的方法，其特征在于，包括：

確定多個影響導電滑環壽命的影響因素；

確定各個所述影響因素下多個水平因素；

根據所述影響因素以及所述水平因素，確定多組正交試驗對象，各組所述正交試驗對象之間滿足正交性；

根據各組所述正交試驗對象進行試驗，得到多個試驗數據；

分析所述試驗數據，確定各個所述影響因素的最優組合。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述影響因素以及所述水平因素，確定多組正交試驗對象包括：

根據所述影響因素以及所述水平因素，確定因素水平表；

根據所述因素水平表，確定多組正交試驗對象。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述分析所述試驗數據，確定各個所述影響因素的最優組合包括：

分析所述試驗數據，分別確定各個所述影響因素下各個所述水平因素所在的試驗的試驗數據總和；

根據所述試驗數據總和，分別確定各個所述影響因素下，所述試驗數據總和中的最大試驗數據總和；

確定各個所述影響因素下，與所述最大試驗數據總和對應的最優水平因素；

根據各個所述影響因素下的所述最優水平因素，確定影響因素最優組合。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，在所述根據所述試驗數據總和，分別確定各個所述影響因素下，所述試驗數據總和中的最大試驗數據總和之后，還包括：

根據所述試驗數據總和，分別確定各個所述影響因素下，所述試驗數據總和中的最小試驗數據總和；

分別計算出各個所述影響因素下，所述最大試驗數據總和與所述最小試驗數據的試驗數據差值；

根據所述試驗數據差值，確定各個所述影響因素的主次性。

5.如權利要求1-4任意一項所述的方法，其特征在于，所述分析所述試驗數據，確定各個所述影響因素的最優組合包括：

分別判斷各個所述試驗數據是否在預設范圍內；

若各個所述試驗數據均在預設范圍內，則分析所述試驗數據，確定各個所述影響因素的最優組合。

6.一種確定導電滑環壽命影響因素最優組合的裝置，其特征在于，包括：

影響因素確定模塊：用于確定多個影響導電滑環壽命的影響因素；

水平因素確定模塊：用于確定各個所述影響因素下多個水平因素；

正交試驗對象確定模塊：用于根據所述影響因素以及所述水平因素，確定多組正交試驗對象，各組所述正交試驗對象之間滿足正交性；

試驗模塊：用于根據各組所述正交試驗對象進行試驗，得到多個試驗數據；

最優組合確定模塊：用于分析所述試驗數據，確定各個所述影響因素的最優組合。

7.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述正交試驗對象確定模塊包括：

因素水平表確定單元：用于根據所述影響因素以及所述水平因素，確定因素水平表；

正交試驗對象確定單元：用于根據所述因素水平表，確定多組正交試驗對象。

8.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述最優組合確定模塊包括：

判斷單元：用于分別判斷各個所述試驗數據是否在預設范圍內；

最優組合確定單元：用于若各個所述試驗數據均在預設范圍內，則分析所述試驗數據，確定各個所述影響因素的最優組合。

9.一種確定導電滑環壽命影響因素最優組合的設備，其特征在于，包括：

存儲器：用于存儲計算機程序；

處理器：用于執行所述計算機程序以實現如權利要求1-5任意一項所述的確定導電滑環壽命影響因素最優組合的方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上保存有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1-5任意一項所述的確定導電滑環壽命影響因素最優組合的方法的步驟。