[發(fā)明專利]自定位牙齒計(jì)算機(jī)斷層掃描方法及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711234671.4
• 申請日: 2017-11-30
• 公開（公告）號: CN107874778A
• 公開（公告）日: 2018-04-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃佳銘
• 申請（專利權(quán)）人: 慧友安控電子（深圳）有限公司
• 主分類號: A61B6/14
• 分類號: A61B6/14;A61B6/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種自定位牙齒計(jì)算機(jī)斷層掃描方法，其特征在于，所述自定位牙齒計(jì)算機(jī)斷層掃描方法包括：

在被測牙齒內(nèi)側(cè)放置X‐光圖像傳感器；

在被測牙齒外側(cè)對應(yīng)設(shè)置X‐光源；

在X光光路上設(shè)置若干遮光標(biāo)點(diǎn)；

控制所述X‐光源繞被測牙齒旋轉(zhuǎn)，在旋轉(zhuǎn)過程中，控制X‐光圖像傳感器獲取若干張CT二維圖像；

計(jì)算每張CT二維圖像對應(yīng)的x‐光源位置及角度；以及

利用若干張CT二維圖像及對應(yīng)的x‐光源位置和角度生成被測牙齒的3D圖像。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自定位牙齒計(jì)算機(jī)斷層掃描方法，其特征在于：所述若干遮光標(biāo)點(diǎn)設(shè)置在所述X‐光源的殼體上。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的自定位牙齒計(jì)算機(jī)斷層掃描方法，其特征在于：遮光標(biāo)點(diǎn)的數(shù)量為四個，四個遮光標(biāo)點(diǎn)呈矩形分布。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自定位牙齒計(jì)算機(jī)斷層掃描方法，其特征在于：在所述計(jì)算每張CT二維圖像對應(yīng)的x‐光源位置及角度的步驟前還包括對圖像動態(tài)增益補(bǔ)正的預(yù)處理步驟。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自定位牙齒計(jì)算機(jī)斷層掃描方法，其特征在于：所述X‐光源旋轉(zhuǎn)角度為50～160度。

6.一種自定位牙齒計(jì)算機(jī)斷層掃描裝置，其特征在于，所述自定位牙齒計(jì)算機(jī)斷層掃描裝置包括：

可置于被測牙齒內(nèi)側(cè)的X‐光圖像傳感器；

可置于被測牙齒外側(cè)并繞所述牙齒旋轉(zhuǎn)的X‐光源；

控制所述X‐光源旋轉(zhuǎn)的轉(zhuǎn)動控制裝置；

設(shè)置在所述X‐光源的光路上的若干遮光標(biāo)點(diǎn)；以及

與所述X‐光圖像傳感器連接的處理裝置，該處理裝置包括：

標(biāo)點(diǎn)識別定位裝置，用于計(jì)算CT二維圖像對應(yīng)的x‐光源位置及角度；以及

3D圖形生成裝置，用于利用若干CT二維圖像及對應(yīng)的x‐光源位置和角度生成所述牙齒的3D圖像。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自定位牙齒計(jì)算機(jī)斷層掃描裝置，其特征在于：所述若干遮光標(biāo)點(diǎn)設(shè)置在所述X‐光源的殼體上。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的自定位牙齒計(jì)算機(jī)斷層掃描裝置，其特征在于：遮光標(biāo)點(diǎn)的數(shù)量為四個，四個遮光標(biāo)點(diǎn)呈矩形分布。

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自定位牙齒計(jì)算機(jī)斷層掃描裝置，其特征在于：所述處理裝置還包括用于對圖像動態(tài)增益補(bǔ)正的預(yù)處理裝置。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的自定位牙齒計(jì)算機(jī)斷層掃描裝置，其特征在于，所述用于對圖像動態(tài)增益補(bǔ)正的預(yù)處理裝置包括：

讀取X‐光圖像傳感器中像素對應(yīng)的第一感度函數(shù)的模塊；

讀取X‐光源旋轉(zhuǎn)角度對應(yīng)的第二感度函數(shù)的模塊；以及

用對應(yīng)的第一感度函數(shù)和第二感度函數(shù)對各像素的亮度值進(jìn)行補(bǔ)正的模塊。