[發明專利]一種芯片測試的方法

在審

• 申請號: 201711216394.4
• 申請日: 2017-11-28
• 公開（公告）號: CN108333497A
• 公開（公告）日: 2018-07-27
• 發明（設計）人: 李強;席與凌;高金德;王繼華
• 申請（專利權）人: 上海華力微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海申新律師事務所 31272
• 代理人: 俞滌炯

本發明提供了一種芯片測試的方法，應用于芯片測試系統中，通過芯片測試系統對芯片執行測試以及將芯片的測試結果進行保存，測試芯片系統中包括多個測試項，其中，于測試系統中創建一測試線程，以及一存儲線程；預先在測試系統的一個處理周期內，定義測試線程執行測試的測試時間以及存儲線程執行存儲的存儲時間，其中處理周期等于測試時間和存儲時間之和；包括以下步驟：步驟S1、測試線程被啟動后，在測試時間內調用測試項對芯片執行測試，以獲得測試結果；步驟S2、測試線程于測試結束后，調用存儲線程，存儲線程在存儲時間內對測試結果進行保存。其技術方案的有益效果在于，有效減少數據存儲消耗的時間，提高了測試效率的芯片測試。

技術領域

本發明涉及半導體測試技術領域，尤其涉及一種芯片測試的方法。

背景技術

傳統半導體芯片的測試是通過編寫測試程序,操縱自動測試機的測試資源，對待測試芯片進行功能和特性的篩選和表征,進行生產質量的把關以及設計性能的驗證。隨著摩爾定律的演進，對芯片良率、可靠性等質量要求的持續提高，除了傳統的良率測試以外，能夠在線進行大量芯片特性數據的收集，用于進行良率提升以及生產質量穩定性管控，成為了一種迫切需求。因此需要對芯片進行測試以獲得關于芯片特異性數據的測試結果，然而傳統芯片的良率測試和數據的存儲，在測試過程中是串行執行的，都是計算在良率測試總時間之內。因此芯片測試形成的測試結果數據過大時其收集測試結果勢必嚴重影響測試總時間，增加良率測試的成本、降低其可操作性。

發明內容

針對現有技術中測試芯片中存在的上述問題，現提供一種旨在對芯片執行測試的同時可將測試形成的測試結果進行保存，從而有效減少數據存儲消耗的時間，有效的提高了測試效率的芯片測試的方法。

具體技術方案如下：

一種芯片測試的方法，應用于芯片測試系統中，通過所述芯片測試系統對芯片執行測試以及將所述芯片的測試結果進行保存，所述測試芯片系統中包括多個測試項，其中，于所述測試系統中創建一測試線程，以及一存儲線程；

預先在所述測試系統的一個處理周期內，定義所述測試線程執行測試的測試時間以及所述存儲線程執行存儲的存儲時間，其中所述處理周期等于所述測試時間和所述存儲時間之和；

包括以下步驟：

步驟S1、所述測試線程被啟動后，在所述測試時間內調用所述測試項對所述芯片執行測試，以獲得測試結果；

步驟S2、所述測試線程于測試結束后，調用所述存儲線程，所述存儲線程在所述存儲時間內對所述測試結果進行保存。

優選的，獲取所述測試時間以及所述存儲時間的方法為：

步驟A1、將所述測試線程單獨執行測試占用的時間定為R；

步驟A2、將所述存儲線程單獨保存所述測試結果占用的時間定為S；

步驟A3、根據R/(R+S)，獲取所述測試線程的權重；

步驟A4、根據S/(R+S)，獲取所述存儲線程的權重；

步驟A5、根據所述測試線程的權重、所述存儲線程的權重以及所述處理周期，分別獲取所述測試線程的所述測試時間和所述存儲線程的所述存儲時間。

優選的，所述測試系統包括一處理器，所述測試系統包括一內存以及外部存儲單元；

在所述測試線程調用所述測試項對所述測試芯片執行測試，并將所述測試結果記錄在所述內存中，所述存儲線程于所述內存中將所述測試結果存儲至所述外部存儲單元。

優選的，所述測試線程執行測試的方法包括，包括以下步驟：

步驟B1、判斷所述測試線程執行的所述測試時間是否結束；

若是，執行步驟S2；