[發(fā)明專利]一種芯片測(cè)試的方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711216394.4
• 申請(qǐng)日: 2017-11-28
• 公開（公告）號(hào): CN108333497A
• 公開（公告）日: 2018-07-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李強(qiáng);席與凌;高金德;王繼華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海華力微電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 上海申新律師事務(wù)所 31272
• 代理人: 俞滌炯

1.一種芯片測(cè)試的方法，應(yīng)用于芯片測(cè)試系統(tǒng)中，通過所述芯片測(cè)試系統(tǒng)對(duì)芯片執(zhí)行測(cè)試以及將所述芯片的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行保存，所述測(cè)試芯片系統(tǒng)中包括多個(gè)測(cè)試項(xiàng)，其特征在于，于所述測(cè)試系統(tǒng)中創(chuàng)建一測(cè)試線程，以及一存儲(chǔ)線程；

預(yù)先在所述測(cè)試系統(tǒng)的一個(gè)處理周期內(nèi)，定義所述測(cè)試線程執(zhí)行測(cè)試的測(cè)試時(shí)間以及所述存儲(chǔ)線程執(zhí)行存儲(chǔ)的存儲(chǔ)時(shí)間，其中所述處理周期等于所述測(cè)試時(shí)間和所述存儲(chǔ)時(shí)間之和；

包括以下步驟：

步驟S1、所述測(cè)試線程被啟動(dòng)后，在所述測(cè)試時(shí)間內(nèi)調(diào)用所述測(cè)試項(xiàng)對(duì)所述芯片執(zhí)行測(cè)試，以獲得測(cè)試結(jié)果；

步驟S2、所述測(cè)試線程于測(cè)試結(jié)束后，調(diào)用所述存儲(chǔ)線程，所述存儲(chǔ)線程在所述存儲(chǔ)時(shí)間內(nèi)對(duì)所述測(cè)試結(jié)果進(jìn)行保存。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，獲取所述測(cè)試時(shí)間以及所述存儲(chǔ)時(shí)間的方法為：

步驟A1、將所述測(cè)試線程單獨(dú)執(zhí)行測(cè)試占用的時(shí)間定為R；

步驟A2、將所述存儲(chǔ)線程單獨(dú)保存所述測(cè)試結(jié)果占用的時(shí)間定為S；

步驟A3、根據(jù)R/(R+S)，獲取所述測(cè)試線程的權(quán)重；

步驟A4、根據(jù)S/(R+S)，獲取所述存儲(chǔ)線程的權(quán)重；

步驟A5、根據(jù)所述測(cè)試線程的權(quán)重、所述存儲(chǔ)線程的權(quán)重以及所述處理周期，分別獲取所述測(cè)試線程的所述測(cè)試時(shí)間和所述存儲(chǔ)線程的所述存儲(chǔ)時(shí)間。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試系統(tǒng)包括一處理器，所述測(cè)試系統(tǒng)包括一內(nèi)存以及外部存儲(chǔ)單元；

在所述測(cè)試線程調(diào)用所述測(cè)試項(xiàng)對(duì)所述測(cè)試芯片執(zhí)行測(cè)試，并將所述測(cè)試結(jié)果記錄在所述內(nèi)存中，所述存儲(chǔ)線程于所述內(nèi)存中將所述測(cè)試結(jié)果存儲(chǔ)至所述外部存儲(chǔ)單元。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試線程執(zhí)行測(cè)試的方法包括，包括以下步驟：

步驟B1、判斷所述測(cè)試線程執(zhí)行的所述測(cè)試時(shí)間是否結(jié)束；

若是，執(zhí)行步驟S2；

步驟B2、所述測(cè)試線程繼續(xù)調(diào)用所述測(cè)試項(xiàng)對(duì)所述芯片執(zhí)行測(cè)試，以形成所述測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述存儲(chǔ)線程執(zhí)行測(cè)試的方法，包括以下步驟：

步驟C1、判斷所述存儲(chǔ)線程執(zhí)行的所述存儲(chǔ)時(shí)間是否結(jié)束；

若是，進(jìn)入下一所述處理周期，并返回步驟S1；

步驟C2、所述存儲(chǔ)線程繼續(xù)將獲取的所述測(cè)試結(jié)果進(jìn)行保存。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試系統(tǒng)包括一處理器，所述處理周期為所述處理器的時(shí)間周期。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試線程的啟動(dòng)優(yōu)先級(jí)高于所述存儲(chǔ)線程的啟動(dòng)優(yōu)先級(jí)。

8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述外部存儲(chǔ)單元為非易失性存儲(chǔ)器。