[發明專利]基于數控系統二次開發的零件形位公差在線測量方法

在審

• 申請號: 201711210756.9
• 申請日: 2017-11-28
• 公開（公告）號: CN108000237A
• 公開（公告）日: 2018-05-08
• 發明（設計）人: 孔志學;蹇悅;楊葉;郭國強;潘華東;周井文;唐水英;梁星慧
• 申請（專利權）人: 上海航天精密機械研究所
• 主分類號: B23Q17/22
• 分類號: B23Q17/22
• 代理公司: 上海航天局專利中心 31107
• 代理人: 張緒成

本發明提供基于數控系統二次開發的零件形位公差在線測量方法，包括：OCX控件開發；利用界面配置工具配置界面；嵌入式腳本程序開發，建立與數控系統的通訊，同時調用OCX控件封裝的功能，對零件的形位公差進行分析計算；啟動測量功能；數控設備執行測量程序，檢測探頭測量零件；對測量數據進行分析，獲得零件形位公差；顯示測量結果。本發明提供的基于數控系統二次開發的零件形位公差在線測量方法，將形位公差的測量過程封裝在數控子程序的執行之中，可以實現零件生產過程中形位公差的高效檢測，有效避免了人工檢測過程中的錯檢、漏檢問題的發生，提高了零件檢驗效率；對零件生產過程數據進行了有效保存，為零件生產過程質量追溯提供了數據依據。

技術領域

本發明涉及自動化制造技術領域，特別涉及一種基于數控系統二次開發的零件形位公差在線測量方法。

背景技術

目前，大多數數控設備都具備測量功能，可以探測工件在機床中的具體位置，常用于工件零點設置、工件安裝等操作過程，部分高端數控系統具備簡單的形位公差檢測方法，但受限于測量點數，測量結果的可靠性并不高。零件的尺寸及形位公差主要還是依賴操作人員與檢驗人員人工檢測，零件檢驗效率低，存在錯檢、漏檢等問題，零件生產過程質量數據管理難度大，出現批次性質量問題風險高。

發明內容

本發明的目的在于提供一種基于數控系統二次開發的零件形位公差在線測量方法，以解決零件形位公差數控設備在線測量功能缺乏，人工離線測量效率低、風險大的問題。

為了解決上述技術問題，本發明的技術方案是：提供一種基于數控系統二次開發的零件形位公差在線測量方法，包括以下步驟：

S11、OCX控件開發；

S12、利用界面配置工具配置界面；

S13、嵌入式腳本程序開發，建立與數控系統的通訊，同時調用OCX控件封裝的功能，對零件的形位公差進行分析計算；

S14、工控機啟動測量功能；

S15、數控設備執行測量程序，檢測探頭測量零件；

S16、測量子程序將測量數據存儲在數控系統全局變量中，腳本程序根據特征測量的完成情況，調用OCX控件中測量特征對應的算法函數對測量數據進行分析，獲得零件形位公差并存儲在本地；

S17、顯示測量結果。

進一步地，在S11中，通過編譯標準OCX組件的開發工具，在OCX內部封裝所需文件讀寫、網絡訪問、形位公差計算、界面設計功能的具體實現過程。

進一步地，在S12中，通過數控系統的界面配置工具將OCX控件開發的控件配置到數控系統中，并使用系統自帶的控件配置風格與數控系統相對統一的測量界面。

進一步地，在S13中，對數控系統進行加載、啟動數控程序的操作，響應數控設備復位操作。

進一步地，在S14中，工控機端外部控制軟件基于以太網通訊TCP/IP協議與數控系統OPC協議，遠程啟動測量功能，或者在測量界面端，手動啟動測量功能。

進一步地，在S15中，數控機床執行數控程序，調用檢測探頭，根據測量子程序定義的測量路徑針對零件形位公差測量要求進行特征點點位的測量。

進一步地，在S17中，整個特征測量過程完成后，腳本程序根據需求調用OCX控件函數，將測量結果在測量界面顯示或通過OCX控件函數將測量結果發送到工控機端顯示。