[發(fā)明專利]基于數(shù)控系統(tǒng)二次開發(fā)的零件形位公差在線測量方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711210756.9
• 申請日: 2017-11-28
• 公開（公告）號: CN108000237A
• 公開（公告）日: 2018-05-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 孔志學(xué);蹇悅;楊葉;郭國強(qiáng);潘華東;周井文;唐水英;梁星慧
• 申請（專利權(quán)）人: 上海航天精密機(jī)械研究所
• 主分類號: B23Q17/22
• 分類號: B23Q17/22
• 代理公司: 上海航天局專利中心 31107
• 代理人: 張緒成

1.一種基于數(shù)控系統(tǒng)二次開發(fā)的零件形位公差在線測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

S11、OCX控件開發(fā)；

S12、利用界面配置工具配置界面；

S13、嵌入式腳本程序開發(fā)，建立與數(shù)控系統(tǒng)的通訊，同時調(diào)用OCX控件封裝的功能，對零件的形位公差進(jìn)行分析計算；

S14、工控機(jī)啟動測量功能；

S15、數(shù)控設(shè)備執(zhí)行測量程序，檢測探頭測量零件；

S16、測量子程序?qū)y量數(shù)據(jù)存儲在數(shù)控系統(tǒng)全局變量中，腳本程序根據(jù)特征測量的完成情況，調(diào)用OCX控件中測量特征對應(yīng)的算法函數(shù)對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，獲得零件形位公差并存儲在本地；

S17、顯示測量結(jié)果。

2.如權(quán)利要求1所述的基于數(shù)控系統(tǒng)二次開發(fā)的零件形位公差在線測量方法，其特征在于，在S11中，通過編譯標(biāo)準(zhǔn)OCX組件的開發(fā)工具，在OCX內(nèi)部封裝所需文件讀寫、網(wǎng)絡(luò)訪問、形位公差計算、界面設(shè)計功能的具體實現(xiàn)過程。

3.如權(quán)利要求1所述的基于數(shù)控系統(tǒng)二次開發(fā)的零件形位公差在線測量方法，其特征在于，在S12中，通過數(shù)控系統(tǒng)的界面配置工具將OCX控件開發(fā)的控件配置到數(shù)控系統(tǒng)中，并使用系統(tǒng)自帶的控件配置風(fēng)格與數(shù)控系統(tǒng)相對統(tǒng)一的測量界面。

4.如權(quán)利要求1所述的基于數(shù)控系統(tǒng)二次開發(fā)的零件形位公差在線測量方法，其特征在于，在S13中，對數(shù)控系統(tǒng)進(jìn)行加載、啟動數(shù)控程序的操作，響應(yīng)數(shù)控設(shè)備復(fù)位操作。

5.如權(quán)利要求1所述的基于數(shù)控系統(tǒng)二次開發(fā)的零件形位公差在線測量方法，其特征在于，在S14中，工控機(jī)端外部控制軟件基于以太網(wǎng)通訊TCP/IP協(xié)議與數(shù)控系統(tǒng)OPC協(xié)議，遠(yuǎn)程啟動測量功能，或者在測量界面端，手動啟動測量功能。

6.如權(quán)利要求1所述的基于數(shù)控系統(tǒng)二次開發(fā)的零件形位公差在線測量方法，其特征在于，在S15中，數(shù)控機(jī)床執(zhí)行數(shù)控程序，調(diào)用檢測探頭，根據(jù)測量子程序定義的測量路徑針對零件形位公差測量要求進(jìn)行特征點點位的測量。

7.如權(quán)利要求1所述的基于數(shù)控系統(tǒng)二次開發(fā)的零件形位公差在線測量方法，其特征在于，在S17中，整個特征測量過程完成后，腳本程序根據(jù)需求調(diào)用OCX控件函數(shù)，將測量結(jié)果在測量界面顯示或通過OCX控件函數(shù)將測量結(jié)果發(fā)送到工控機(jī)端顯示。