[發明專利]一種高精度控制光纖長度的制作工藝

有效

• 申請號: 201711187452.5
• 申請日: 2017-11-24
• 公開（公告）號: CN107942433B
• 公開（公告）日: 2019-11-15
• 發明（設計）人: 岳寶花;周豐;李明;王恩現;陸兆輝;高澤仁;蘆春鋒;張銘;李娜;孫亞斌
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第八研究所
• 主分類號: G02B6/02
• 分類號: G02B6/02;G02B6/25
• 代理公司: 11241 北京雙收知識產權代理有限公司
• 代理人: 王菊珍<國際申請>=<國際公布>=<進入

1.一種高精度控制光纖長度的制作工藝，其特征在于，包括如下步驟：

1)固化環境

根據光纖或光纜的使用環境，確定制作和測試的環境溫度和濕度，并在整個制作測試過程中保持恒溫、恒濕；

2)靜置光纖或光纜，釋放應力

將整盤光纖或光纜在恒溫、恒濕的環境中放置，在放置過程中，每隔4小時測量該盤光纖或光纜的長度，直至最近兩次測得的該盤光纖或光纜的長度值變化量≤1cm，進入下一個環節；

3)粗下料

根據目標長度L_目，將光纖或光纜分段，段長為L_目+0.1m；

4)對下料后的光纖或光纜的左端進行標準接頭的制作；

5)檢測左端標準接頭的端面研磨質量，若端面的曲率半徑、頂點偏移、光纖高度符合要求，則進入下一生產環節，若曲率半徑、頂點偏移、光纖高度不符合要求，則重新制作該標準接頭，直至其曲率半徑、頂點偏移、光纖高度符合要求為止；

6)對下料后的光纖或光纜的右端制作Ф2.5mm的光插針；

7)檢測光插針的研磨端面質量，若光插針的曲率半徑、頂點偏移、光纖高度符合要求，則進入下一環節，若曲率半徑、頂點偏移、光纖高度不符合要求，則重新制作光插針，直至光插針的曲率半徑、頂點偏移、光纖高度符合要求為止；

8)測量左端標準接頭的光學性能參數，若符合要求，則進入下一生產環節，若不符合要求，則重新制作左端標準接頭，直至該標準接頭的光學性能參數滿足要求時，再進入下一生產環節；

9)測量該段光纖的長度，測量多次取平均值，得到數值L₁；

10)根據右端標準接頭的類型，確定制作該標準接頭的露纖長度L_纖，根據L_余＝L₁-L_目-L_纖來計算需要截去多余的光纖長度；

11)將長為L_余的光纖或光纜截去；

12)根據右端標準接頭的類型來確定剝除長度，對于光纜，剝除纜皮長度為L_皮，而對于光纖，涂覆層的剝除長度為L_涂；

13)剝完涂覆層后，用純乙醇擦拭光纖表面殘留物，測量已剝除涂覆層長度，得到數值L_已涂，若L_已涂＜L_涂，涂覆層需再剝除L_涂-L_已涂，隨后再次用純乙醇擦拭其表面殘留物，直至L_涂-L_已涂≤0.001mm時，進入下一環節；

14)在右端標準接頭固化前，測量露纖長度L_已纖，︱L_已纖-L_纖︱≥0.001mm，調整光纖的位置，若L_已纖-L_纖≤0.001mm，開始固化；

15)對右端標準接頭進行研磨；

16)對成品的相關技術指標進行測試。

2.根據權利要求1所述的一種高精度控制光纖長度的制作工藝，其特征在于：在步驟9)中，采用測量10次取平均值的方法來獲取數值L₁。