[發明專利]一種平板玻璃板微米級顆粒物取樣方法有效
| 申請號： | 201711185038.0 | 申請日： | 2017-11-23 |
| 公開（公告）號： | CN108287086B | 公開（公告）日： | 2020-10-27 |
| 發明（設計）人： | 焦宗平 | 申請（專利權）人： | 彩虹顯示器件股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N1/10 | 分類號： | G01N1/10 |
| 代理公司： | 西安通大專利代理有限責任公司 61200 | 代理人： | 徐文權 |
| 地址： | 712021 陜*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 平板 玻璃板 微米 顆粒 取樣 方法 | ||
1.一種平板玻璃板微米級顆粒物取樣方法,其特征在于，包括以下步驟：
S1、將平板玻璃固定在檢查臺，采用AOI設備檢測平板玻璃上的顆粒物(3)，根據AOI設備檢測的圖像中顆粒物(3)的坐標，在平板玻璃上確定顆粒物(3)的初步位置；
S2、在暗場條件下采用光源傾斜照射所述初步位置，尋找初步位置的顆粒物(3)，所述顆粒物(3)為對比度小于1000的亮點；
移動光源的照射角度，根據顆粒物影子的尺寸以及顆粒物影子與顆粒物(3)是否重合，確定顆粒物(3)位于平板玻璃的下表面或上表面；
若顆粒物影子的尺寸大于顆粒物(3)，且與顆粒物(3)部分重合，則顆粒物(3)接近平板玻璃的下表面；
若顆粒物無影子或影子小于顆粒物(3)且與顆粒物(3)不重合，則顆粒物(3)接近平板玻璃上表面；
所述光源傾斜照射的角度為5°～70°；
S3、對步驟S2中的顆粒物(3)進行位置標定；
S4、將所述步驟S3中的標定的位置進行切割，切割取樣時，在平板玻璃的顆粒物(3)位置的兩側貼附PE膜(6)后進行切割，提取平板玻璃樣品(8)。
2.根據權利要求1所述一種平板玻璃板微米級顆粒物取樣方法,其特征在于，在步驟S1中所述初步位置的確定方法為，采用量具在平板玻璃上確定所述坐標的位置，并以該坐標位置為中心在平板玻璃的表面標定一個直徑為10mm的圓。
3.根據權利要求1所述一種平板玻璃板微米級顆粒物取樣方法,其特征在于，所述光源為15-20K Lux LED燈。
4.根據權利要求1所述一種平板玻璃板微米級顆粒物取樣方法,其特征在于，在所述步驟S3中，位置標定的方法為以顆粒物(3)為中心標定一個直徑為0.5mm的圓。
5.根據權利要求1所述一種平板玻璃板微米級顆粒物取樣方法,其特征在于，所述平板玻璃樣品(8)的尺寸為(20～30)mm×(20～30)mm。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于彩虹顯示器件股份有限公司，未經彩虹顯示器件股份有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711185038.0/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：一種液壓控制的原狀土取土裝置
- 下一篇：一種顆粒狀食品檢測用取樣器
