[發明專利]一種檢測光學薄膜平整度的裝置

在審

• 申請號: 201711147526.2
• 申請日: 2017-11-17
• 公開（公告）號: CN107782263A
• 公開（公告）日: 2018-03-09
• 發明（設計）人: 劉志國;陳毅;謝雨江
• 申請（專利權）人: 成都菲奧姆光學有限公司
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種檢測裝置，具體涉及一種檢測光學薄膜平整度的裝置。

背景技術

在各種試驗臺架中，平臺基座是用于安裝精密機械部件的基礎，常與土建結構的鋼筋骨架焊接在一起，為保證機械部件安裝精度和穩定性，其安裝面與平臺基座表面應能緊密接合，因此對平臺基座表面的平面度和水平度有一定要求。由于平臺基礎是在土建施工時安裝好的，因此平臺基座表面的平面度和傾斜度檢測必須在現場進行，必要的平面打磨也只能現場手工作業。

而較先進的，利用水準高差法檢測大型平板工件平面度時，需要測量工件表面各測量點的高差，具體做法是將帶有刻度的標尺分別置于工件表面各測量點，用架設好的水準儀瞄準標尺刻度，通過刻度讀數得到各測量點的高差。通常用于水準測量的標尺僅為一帶水泡水準器的普通直尺，沒有任何調平機構，通過瞄準尺身上的刻線來讀數，刻線最小分度為0.5mm，尺身垂直精度和刻線瞄準精度都很低，進而使最終的平面度檢測數據精度大大降低。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是對光學薄膜的平整度的檢測困難，通常只能抽樣檢查，不能做到全面、快速的檢測，目的在于提供一種檢測光學薄膜平整度的裝置，解決上述的問題。

本發明通過下述技術方案實現：

一種檢測光學薄膜平整度的裝置，包括檢測裝置和底盤，所述底盤下端面設置有兩組滑輪，檢測裝置一端設置有進入口，檢測裝置的另一端設置有出入口，所述檢測裝置內設置有固定滾筒和抬升滾筒，所述固定滾筒和抬升滾筒的旋轉方向相反，將從進入口進入的光學薄膜向出入口方向滾出，所述滾出方向上還設置有檢測板，檢測板上設置有若干個紅外檢測頭，通過紅外檢測頭檢測光學薄膜平整度。目前，現有的檢測方式通常是人工抽檢，通過手持或者精密的紅外檢測儀器對光學薄膜的平整度進行檢測，這樣檢測的效率不高，并且僅能夠進行抽樣檢測。而本發明采用兩個滾筒進行光學薄膜收緊，可以大量、快速的對光學薄膜進行收集，并將呈卷軸狀的光學薄膜快速鋪平，檢測后推出，在接入卷揚機的話，就可以在完成平整度檢測后，將光學薄膜重新卷好。這樣做能夠有效的提高檢測效率，并且能夠將一整卷的光學薄膜快速進行檢測，并通過紅外檢測儀器上的對射式紅外傳感器進行快速掃描，并通過外接PC或者顯示器將數據進行顯示、處理。

進一步地，所述抬升滾筒通過抬升裝置進行抬升，所述抬升裝置一端設置在底盤上端面，另一端與抬升滾筒側端面上的固定架連接。設置的抬升裝置是為了避免光學薄膜在裝置工作時卡在裝置內部，通過調節抬升裝置的高度，可以調節抬升滾筒和固定滾筒的緊密度，讓光學薄膜能夠更好的進行檢測。

進一步地，所述抬升裝置包括固定板和升降桿，所述抬升裝置在裝置啟動后，升降桿向上抬升至與固定滾筒相匹配。通過升降桿進行調節，一般選用氣壓或液壓裝置進行抬升，通過遠程遙控抬升、下降，或者也可以通過在檢測裝置外部設置電磁開關控制抬升裝置的上升和下降。

進一步地，所述固定滾筒和抬升滾筒設置有兩組，分別設置在進入口內側和出入口內側，檢測板設置在兩組滾筒中間。設置兩組的固定滾筒和抬升滾筒相配合，可以讓光學薄膜在通過檢測板時，更為平穩，增加檢測的準確性。

本發明與現有技術相比，具有如下的優點和有益效果：

1、本發明一種檢測光學薄膜平整度的裝置，能夠進行全面檢測，檢測效率高；

2、本發明一種檢測光學薄膜平整度的裝置，通過設置滑輪，便于進行移動，可以適用于各種環境。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本發明實施例的進一步理解，構成本申請的一部分，并不構成對本發明實施例的限定。在附圖中：

圖1為本發明結構示意圖。

附圖中標記及對應的零部件名稱：

1-檢測裝置，11-固定滾筒，12-抬升滾筒，13-進入口，14-出入口，2-底盤，21-滑輪，3-檢測板，31-紅外檢測頭，4-抬升裝置，41-固定板，42-升降桿。

具體實施方式

為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚明白，下面結合實施例和附圖，對本發明作進一步的詳細說明，本發明的示意性實施方式及其說明僅用于解釋本發明，并不作為對本發明的限定。

實施例