[發明專利]一種檢測光學薄膜平整度的裝置在審
| 申請號： | 201711147526.2 | 申請日： | 2017-11-17 |
| 公開（公告）號： | CN107782263A | 公開（公告）日： | 2018-03-09 |
| 發明（設計）人： | 劉志國;陳毅;謝雨江 | 申請（專利權）人： | 成都菲奧姆光學有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/30 | 分類號： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 610000 四川省成都市雙流區*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 檢測 光學薄膜 平整 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種檢測光學薄膜平整度的裝置，其特征在于，包括檢測裝置(1)和底盤(2)，所述底盤(2)下端面設置有兩組滑輪(21)，檢測裝置(1)一端設置有進入口(13)，檢測裝置(1)的另一端設置有出入口(14)，所述檢測裝置(1)內設置有固定滾筒(11)和抬升滾筒(12)，所述固定滾筒(11)和抬升滾筒(12)的旋轉方向相反，將從進入口(13)進入的光學薄膜向出入口(14)方向滾出，所述滾出方向上還設置有檢測板(3)，檢測板(3)上設置有若干個紅外檢測頭(31)，通過紅外檢測頭(31)檢測光學薄膜平整度。
2.根據權利要求1所述的一種檢測光學薄膜平整度的裝置，其特征在于，所述抬升滾筒(12)通過抬升裝置(4)進行抬升，所述抬升裝置(4)一端設置在底盤(2)上端面，另一端與抬升滾筒(12)側端面上的固定架連接。
3.根據權利要求2所述的一種檢測光學薄膜平整度的裝置，其特征在于，所述抬升裝置(4)包括固定板(41)和升降桿(42)，所述抬升裝置(4)在裝置啟動后，升降桿(42)向上抬升至與固定滾筒(11)相匹配。
4.根據權利要求1所述的一種檢測光學薄膜平整度的裝置，其特征在于，所述固定滾筒(11)和抬升滾筒(12)設置有兩組，分別設置在進入口(13)內側和出入口(14)內側，檢測板(3)設置在兩組滾筒中間。
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