[發(fā)明專利]一種用于多個TDI CCD探測器視軸對中的調試方法及系統(tǒng)

有效

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• 申請日: 2017-11-17
• 公開（公告）號: CN108200424B
• 公開（公告）日: 2020-06-19
• 發(fā)明（設計）人: 王珊珊;霍家全;李紅沛
• 申請（專利權）人: 天津津航技術物理研究所
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 中國兵器工業(yè)集團公司專利中心 11011
• 代理人: 袁孜

本發(fā)明解決的技術問題是提供一種用于多個TDI CCD探測器視軸對中的調試方法及系統(tǒng)，屬于視軸調試技術領域，為一種簡單快捷高效的多個TDI CCD探測器視軸對中的調試方法和系統(tǒng)，其利用軟件測試灰度值將星點靶標像的信息進行讀取，通過圖像采集直接反映出TDI CCD探測器視軸位置，將各個探測器的位置調準。該方法和系統(tǒng)能夠使得成像質量得到保證，多譜段多探測器圖像融合滿足系統(tǒng)成像要求。

技術領域

本發(fā)明屬于視軸調試技術領域，涉及一種用于多個TDI CCD探測器視軸對中的調試方法。

背景技術

某型高分辨紅外成像系統(tǒng)采用多個TDI CCD長線列器件，以此達到多譜段成像效果。TDI CCD是一種特殊的線陣CCD器件，其利用時間延遲積分技術，通過TDI CCD的多級光敏元對運動的同一目標多次積分，可在低照度條件下獲得高靈敏度、高分辨率的圖像。為保證多譜段的成像融合，多個探測器視軸的一致性必須一致，否則各探測器位置出現(xiàn)偏移，容易造成各探測器圖像扭曲、傾斜，在圖像融合時易導致有效成像區(qū)域較小，無效區(qū)域增大等，因此多個TDI CCD探測器視軸對中則十分關鍵。

發(fā)明內容

針對現(xiàn)應用需求，本發(fā)明解決的技術問題是提供一種用于多個TDI CCD探測器視軸對中的調試方法。為一種簡單快捷高效的多個TDI CCD探測器視軸對中的調試方法，其特點是利用軟件測試灰度值將星點靶標像的信息進行讀取，通過圖像采集直接反映出TDICCD探測器視軸位置，將各個探測器的位置調準。

本發(fā)明的技術方案是:一種用于多個TDI CCD探測器視軸對中的調試系統(tǒng)，包括光電綜合測試系統(tǒng)、成像系統(tǒng)、第一經緯儀、第二經緯儀、圖像顯示器；所述的光電綜合測試系統(tǒng)由平行光管、靶標、光源組成；其能夠選擇不同尺寸的靶標，以及選擇相對應不同譜段探測器的光源；光源經不同尺寸的靶標后，通過平行光管出射平行光，形成不同尺寸的靶標像；能夠針對不同像元尺寸的TDI CCD探測器選擇不同尺寸的靶標；所述的第一經緯儀、第二經緯儀用于使成像系統(tǒng)與光電綜合測試系統(tǒng)的光軸對準；所述的成像系統(tǒng)包括TDI CCD探測器、與探測器匹配的光學系統(tǒng)；光學系統(tǒng)、TDI CCD探測器為待調試對象，TDI CCD探測器為多個；還包括圖像采集系統(tǒng)，圖像采集系統(tǒng)用于實時采集TDI CCD探測器的圖像輸出給圖像顯示器進行顯示，還包括待調試成像系統(tǒng)設備，所述的待調試成像系統(tǒng)裝置設備包括光學氣浮平臺、二維轉臺工裝、與成像系統(tǒng)光軸平行的平面反射鏡、與成像系統(tǒng)光軸垂直的平面反射鏡；所述的二維轉臺工裝使成像系統(tǒng)中的TDI CCD探測器進行俯仰、方位二維方向的轉動；成像系統(tǒng)安裝于二維轉臺工裝上；二維轉臺工裝位于氣浮光學平臺之上。

優(yōu)選地，上述的一種用于多個TDI CCD探測器視軸對中的調試系統(tǒng)，其特征在于，所述的光電綜合測試系統(tǒng)還包括操控計算機；通過操控計算機選擇不同尺寸的靶標，設置不同譜段的TDI CCD探測器相應的光源。

一種用于多個TDI CCD探測器視軸對中的調試方法，該方法包括下述步驟：

步驟一、待調焦的多個TDI CCD探測器的成像系統(tǒng)與光電綜合測試系統(tǒng)的光軸對準；

步驟二、實時采集成像系統(tǒng)的成像圖像，實時顯示面陣模式下TDI CCD探測器的圖像；

步驟三、設置光電綜合測試系統(tǒng)，針對不同譜段的TDI CCD探測器設置相應的光源，針對不同像元尺寸的TDI CCD探測器設置相應的星點靶標；

步驟四、對待調焦的TDI CCD探測器進行焦面調試，具體內容如下：

S41將多個探測器中的任意一個待TDI CCD探測器做為待調試探測器，將其設置為面陣模式；

S42打開光源、選取相應星點靶標，觀察采集到的圖像，從圖像確定中間條紋代表的像元所在探測器器件中的位置坐標；