[發明專利]一種用于多個TDI CCD探測器視軸對中的調試方法及系統

有效

• 申請號: 201711142432.6
• 申請日: 2017-11-17
• 公開（公告）號: CN108200424B
• 公開（公告）日: 2020-06-19
• 發明（設計）人: 王珊珊;霍家全;李紅沛
• 申請（專利權）人: 天津津航技術物理研究所
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 中國兵器工業集團公司專利中心 11011
• 代理人: 袁孜

1.一種用于多個TDI CCD探測器視軸對中的調試系統，其特征在于，包括光電綜合測試系統(1)、成像系統、第一經緯儀(3)、第二經緯儀(4)、圖像顯示器；

所述的光電綜合測試系統由平行光管、靶標、光源組成；其能夠選擇不同尺寸的靶標，以及選擇相對應不同譜段探測器的光源；光源經不同尺寸的靶標后，通過平行光管出射平行光，形成不同尺寸的靶標像；能夠針對不同像元尺寸的TDI CCD探測器選擇不同尺寸的靶標；

所述的第一經緯儀、第二經緯儀用于使成像系統與光電綜合測試系統的光軸對準；

所述的成像系統包括TDI CCD探測器、與探測器匹配的光學系統；光學系統、TDI CCD探測器為待調試對象，TDI CCD探測器為多個；

還包括圖像采集系統，圖像采集系統用于實時采集TDI CCD探測器的圖像輸出給圖像顯示器進行顯示；

還包括待調試成像系統設備(2)，所述的待調試成像系統裝置設備(2)包括光學氣浮平臺(5)、二維轉臺工裝(6)、與成像系統光軸平行的平面反射鏡(8)、與成像系統光軸垂直的平面反射鏡(9)；所述的二維轉臺工裝使成像系統中的TDI CCD探測器進行俯仰、方位二維方向的轉動；成像系統安裝于二維轉臺工裝上；二維轉臺工裝(6)位于氣浮光學平臺(5)之上。

2.根據權利要求1所述的一種用于多個TDI CCD探測器視軸對中的調試系統，其特征在于，所述的光電綜合測試系統還包括操控計算機；通過操控計算機選擇不同尺寸的靶標，設置不同譜段的TDI CCD探測器相應的光源。

3.一種用于多個TDI CCD探測器視軸對中的調試方法，其特征在于，該方法包括下述步驟：

步驟一、待調焦的多個TDI CCD探測器的成像系統與光電綜合測試系統的光軸對準；

步驟二、實時采集成像系統的成像圖像，實時顯示面陣模式下TDI CCD探測器的圖像；

步驟三、設置光電綜合測試系統，針對不同譜段的TDI CCD探測器設置相應的光源，針對不同像元尺寸的TDI CCD探測器設置相應的星點靶標；

步驟四、對待調焦的TDI CCD探測器進行焦面調試，具體內容如下：

S41將多個探測器中的任意一個待TDI CCD探測器做為待調試探測器，將其設置為面陣模式；

S42打開光源、選取相應星點靶標，觀察采集到的圖像，從圖像確定中間條紋代表的像元所在探測器器件中的位置坐標；

S43根據圖像位置，將TDI CCD探測器器件沿光軸垂直方向即探測器的線列方向進行移動調試，即將中間條紋調節到某個確定的位置，該位置對應到TDI CCD探測器器件線列像元數的中間位置；

S44按上述S41～S43步驟，將余下各TDI CCD探測器調試至使：各個TDI CCD探測器的對應圖像中的中間條紋均調至到某個確定的位置，該位置對應到各中間條紋圖像對應的TDICCD探測器器件線列像元數的中間位置；

所述的光電綜合測試系統用于針對不同譜段的TDI CCD探測器設置相應的光源，針對不同像元尺寸的TDI CCD探測器設置相應的星點靶標；所述的成像系統包括TDI CCD探測器與探測器匹配的光學系統。

4.根據權利要求3所述的一種用于多個TDI CCD探測器視軸對中的調試方法，其特征在于，步驟一中的成像系統與光電綜合測試系統的光軸對準具體步驟如下：

S11：成像系統與光電綜合測試系統進行粗對準，將成像系統的入光口對準光電綜合測試系統的出光口；

S12：將第一臺經緯儀置于光電綜合測試系統1和成像系統中間；第一經緯儀先瞄準光電綜合測試系統中平行光管；第一經緯儀水平值清零，然后第一經緯儀水平旋轉后對準與成像系統光軸垂直的平面反射鏡(9)；將光電綜合測試系統和成像系統二者的光軸調水平；

S13：將第二臺經緯儀瞄準成像系統俯仰軸的基準鏡，將成像系統俯仰軸系調水平；

S14：重復上述兩個步驟，待光電綜合測試系統和成像系統的光軸對準后，將第一經緯儀、第二經緯儀撤去。

5.根據權利要求3所述的一種用于多個TDI CCD探測器視軸對中的調試方法，其特征在于，步驟三的具體內容為：設置光電綜合測試系統，選取的光電綜合測試系統的星點靶標像覆蓋TDI CCD探測器的級數。