[發明專利]一種銅基止推軸承表面劃痕處理工藝與裝置

在審

• 申請號: 201711133793.4
• 申請日: 2017-11-16
• 公開（公告）號: CN107717715A
• 公開（公告）日: 2018-02-23
• 發明（設計）人: 王承秋;張輝;沈錫榮
• 申請（專利權）人: 無錫佳力欣精密機械有限公司
• 主分類號: B24B37/00
• 分類號: B24B37/00
• 代理公司: 北京科家知識產權代理事務所(普通合伙)11427
• 代理人: 陳娟

1.一種銅基止推軸承表面劃痕處理工藝和裝置，其特征在于：包括上研磨盤(1)、下研磨盤(2)、上轉軸(3)、下轉軸(4)、隔圈(5)和外圈(6)，所述上研磨盤(1)中心處設有上轉軸(3)，所述下研磨盤(2)中心處設有下轉軸(4)，所述上研磨盤(1)和下研磨盤(2)的盤面上均設有研磨層(7)，所述隔圈(5)設在下研磨盤(2)上，所述隔圈(5)套在外圈(6)的齒柱(62)上，所述隔圈(5)上的圓周方向設有多個用于放置止推軸承的定位通孔(51)。

2.根據權利要求1所述的銅基止推軸承表面劃痕處理裝置，其特征在于：所述隔圈(5)安裝在外圈(6)上是指外圈(6)上設有齒孔(61)，所述齒孔(61)內裝有齒柱(62)，所述隔圈(5)邊緣套在外圈齒柱(62)上。

3.根據權利要求1所述的銅基止推軸承表面劃痕處理裝置，其特征在于:所述隔圈(5)由若干扇形塊拼成。

4.根據權利要求1所述的銅基止推軸承表面劃痕處理裝置，其特征在于：所述研磨層(7)由立方氮化硼CNB材料制成。