[發明專利]FPGA芯片中DSP模塊的功能測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201711130799.6
• 申請日: 2017-11-15
• 公開（公告）號: CN107942240B
• 公開（公告）日: 2020-03-31
• 發明（設計）人: 蒯金;周忠斌
• 申請（專利權）人: 深圳市紫光同創電子有限公司
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317;G01R31/3181
• 代理公司: 深圳市精英專利事務所 44242
• 代理人: 劉貽盛

1.一種FPGA芯片中DSP模塊的功能測試方法，其特征在于，所述功能測試方法包括以下步驟：

對FPGA芯片內部的每一DSP模塊進行相同功能配置，并通過所述FPGA芯片內部的MEM模塊讀取輸入激勵到每一所述DSP模塊中；

將每一所述DSP模塊的輸出結果分別與所述MEM模塊存儲的期望輸出結果進行異或比較，得到每一所述DSP模塊的多組多位異或結果；

對每一所述DSP模塊的多組多位異或結果依次進行反饋式或運算，以依次將前一組或運算結果反饋回來跟后一組進行或運算，使得所述多組多位異或結果最終減至成一位輸出，以獲得每一所述DSP模塊的測試結果；

所述對FPGA芯片內部的每一DSP模塊進行相同功能配置，并通過所述FPGA芯片內部的MEM模塊讀取輸入激勵到每一所述DSP模塊中的步驟具體包括：

對每一所述DSP模塊進行相同功能配置，并利用所述FPGA芯片中的內部布線資源，將所述FPGA芯片中所有DSP模塊對應的輸入與MEM模塊的輸出連接在一起；

所述FPGA芯片啟動到喚醒狀態后，通過所述MEM模塊讀取輸入激勵到每一所述DSP模塊中。

2.如權利要求1所述的功能測試方法，其特征在于，所述DSP模塊的功能包括I/O特性功能、Preadder特性功能、Mult特性功能及Postadder特性功能。

3.如權利要求1所述的功能測試方法，其特征在于，所述功能測試方法還包括以下步驟：

將所有所述DSP模塊的測試結果進行或運算，以獲得所述FPGA芯片的DSP功能測試結果。

4.如權利要求1所述的功能測試方法，其特征在于，所述功能測試方法還包括以下步驟：

通過移位寄存器鏈依次掃描每一所述DSP模塊的測試結果，以掃描出功能異常的所述DSP模塊。

5.如權利要求4所述的功能測試方法，其特征在于，所述移位寄存器鏈包括若干與每一所述DSP模塊一一對應的移位寄存器。

6.一種FPGA芯片中DSP模塊的功能測試裝置，其特征在于，所述功能測試裝置包括：

輸入激勵單元，用于對FPGA芯片內部的每一DSP模塊進行相同功能配置，并通過所述FPGA芯片內部的MEM模塊讀取輸入激勵到每一所述DSP模塊中，具體為對每一所述DSP模塊進行相同功能配置，并利用所述FPGA芯片中的內部布線資源，將所述FPGA芯片中所有DSP模塊對應的輸入與MEM模塊的輸出連接在一起，并在所述FPGA芯片啟動到喚醒狀態后，通過所述MEM模塊讀取輸入激勵到每一所述DSP模塊中；

異或比較單元，用于將每一所述DSP模塊的輸出結果分別與所述MEM模塊存儲的期望輸出結果進行異或比較，得到每一所述DSP模塊的多組多位異或結果；

一級處理單元，用于對每一所述DSP模塊的多組多位異或結果依次進行反饋式或運算，以依次將前一組或運算結果反饋回來跟后一組進行或運算，使得所述多組多位異或結果最終減至成一位輸出，以獲得每一所述DSP模塊的測試結果。

7.如權利要求6所述的功能測試裝置，其特征在于，所述DSP模塊的功能包括I/O特性功能、Preadder特性功能、Mult特性功能及Postadder特性功能。

8.如權利要求6所述的功能測試裝置，其特征在于，所述功能測試裝置還包括二級處理單元，用于將所有所述DSP模塊的測試結果進行或運算，以獲得所述FPGA芯片的功能測試結果。

9.如權利要求6所述的功能測試裝置，其特征在于，所述功能測試裝置還包括異常定位單元，用于通過移位寄存器鏈依次掃描每一所述DSP模塊的測試結果，以掃描出功能異常的所述DSP模塊；所述移位寄存器鏈包括若干與每一所述DSP模塊一一對應的移位寄存器。