[發(fā)明專利]有源UHF RFID標簽讀寫器雜散輻射的測試方法

在審

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• 申請日: 2017-11-15
• 公開（公告）號: CN108051653A
• 公開（公告）日: 2018-05-18
• 發(fā)明（設計）人: 冀京秋;賀明;蔣亦青;余舒浩
• 申請（專利權）人: 中京復電(上海)電子科技有限公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08
• 代理公司: 上海諾衣知識產權代理事務所(普通合伙) 31298
• 代理人: 韓國輝

本發(fā)明公開了一種有源UHF RFID標簽讀寫器雜散輻射的測試方法，包括，使所述待測試標簽讀寫器向所述RFID標簽發(fā)送選擇文件命令；使所述射頻信號分析裝置測量并記錄所述選擇文件命令于當前載波頻點上下各偏移工作信道帶寬一預定倍數頻率范圍以外的雜散輻射值；根據所述第一雜散輻射功率值計算所述待測試標簽讀寫器的雜散輻射功率。本發(fā)明獲得了以下有益效果：可對有源UHF RFID標簽讀寫器的雜散輻射功率進行有效的測試。

技術領域

本發(fā)明涉及射頻標簽技術領域，尤其涉及一種有源UHF RFID標簽讀寫器雜散輻射的測試方法。

背景技術

射頻識別技術是二十世紀九十年代興起的一種無線的、非接觸方式的自動識別技術，是近幾年發(fā)展起來的前沿科技項目。該技術主要是利用射頻信號通過空間耦合實現無接觸信息傳遞并通過所傳遞的信息達到識別目的。射頻識別技術的顯著優(yōu)點在于非接觸性，因此完成識別工作時無需人工干預，能夠實現識別自動化且不易損壞；可識別高速運動的射頻標簽，也可同時識別多個射頻標簽，操作快捷方便；射頻標簽不怕油漬、灰塵污染等惡劣環(huán)境，且可以穿透非金屬物體進行識別，抗干擾能力強。

現有的射頻標簽技術中，有源UHF RFID(特高頻射頻標簽)被廣泛的應用于物聯網中，然而，由于目前缺少對有源UHF RFID標簽及讀寫器的測試設備和測試方法，使得各種工作指標不統一的有源UHF RFID標簽及讀寫器被混合使用，造成物聯網或者相應的使用環(huán)境工作不穩(wěn)定。

發(fā)明內容

針對現有技術中存在的上述問題，現提供一種有源UHF RFID標簽讀寫器雜散輻射的測試方法。

為實現上述目的，本發(fā)明采用了如下的技術方案：

一種有源UHF RFID標簽讀寫器雜散輻射的測試方法，其中，提供一RFID標簽以及一射頻信號分析裝置，并定義復數個測試用例，還包括以下步驟：

步驟1，選取一所述測試用例；

步驟2，根據選取的所述測試用例設置所述射頻信號分析裝置參數，使所述射頻信號分析裝置工作于相應的信號分析模式；

步驟3，根據選取的測試用例設置一待測試標簽讀寫器的工作參數；

步驟4，使所述待測試標簽讀寫器向所述RFID標簽發(fā)送選擇文件命令；

步驟5，使所述射頻信號分析裝置采集所述待測試標簽讀寫器與所述RFID標簽通信過程中的射頻信號；

步驟6，使所述射頻信號分析裝置測量并記錄所述選擇文件命令于當前載波頻點上下各偏移工作信道帶寬一預定倍數頻率范圍以外的雜散輻射值；

步驟7，根據所述雜散輻射功率值計算所述待測試標簽讀寫器的雜散輻射功率；

步驟8，選取下一測試用例，并重復所述步驟2至所述步驟7，直至所有所述測試用例測試完畢。

本發(fā)明的另一方面，所述射頻信號分析裝置為矢量信號分析儀。

本發(fā)明的另一方面，所述待測試標簽讀寫器的工作頻率為2400.00MHz～2483.50MHz。

本發(fā)明的另一方面，所述待測試標簽讀寫器的工作頻率范圍被劃分成16個信道。

本發(fā)明的另一方面，還提供一上位機及一環(huán)形器，所述RFID標簽連接所述環(huán)形器的第一端口，所述射頻信號分析裝置連接所述環(huán)形器的第二端口，所述待測試標簽讀寫器連接所述環(huán)形器的第三端口，所述上位機信號連接所述待測試標簽讀寫器。

本發(fā)明的另一方面，所述步驟7中沒計算所述待測試標簽讀寫器雜散輻射功率的方法為，所述待測試標簽讀寫器的雜散輻射功率等于所述雜散輻射值減去所述射頻信號分析裝置與所述待測試標簽讀寫器之間的饋線損耗加上所述待測試標簽讀寫器的天線增益。