[發(fā)明專利]有源UHF RFID標(biāo)簽讀寫(xiě)器雜散輻射的測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711126490.X
• 申請(qǐng)日: 2017-11-15
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108051653A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-05-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 冀京秋;賀明;蔣亦青;余舒浩
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中京復(fù)電(上海)電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R29/08
• 分類號(hào): G01R29/08
• 代理公司: 上海諾衣知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31298
• 代理人: 韓國(guó)輝

1.一種有源UHF RFID標(biāo)簽讀寫(xiě)器雜散輻射的測(cè)試方法，其特征在于，提供一RFID標(biāo)簽以及一射頻信號(hào)分析裝置，并定義復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試用例，還包括以下步驟：

步驟1，選取一所述測(cè)試用例；

步驟2，根據(jù)選取的所述測(cè)試用例設(shè)置所述射頻信號(hào)分析裝置參數(shù)，使所述射頻信號(hào)分析裝置工作于相應(yīng)的信號(hào)分析模式；

步驟3，根據(jù)選取的測(cè)試用例設(shè)置一待測(cè)試標(biāo)簽讀寫(xiě)器的工作參數(shù)；

步驟4，使所述待測(cè)試標(biāo)簽讀寫(xiě)器向所述RFID標(biāo)簽發(fā)送選擇文件命令；

步驟5，使所述射頻信號(hào)分析裝置采集所述待測(cè)試標(biāo)簽讀寫(xiě)器與所述RFID標(biāo)簽通信過(guò)程中的射頻信號(hào)；

步驟6，使所述射頻信號(hào)分析裝置測(cè)量并記錄所述選擇文件命令于當(dāng)前載波頻點(diǎn)上下各偏移工作信道帶寬一預(yù)定倍數(shù)頻率范圍以外的雜散輻射值；

步驟7，根據(jù)所述雜散輻射功率值計(jì)算所述待測(cè)試標(biāo)簽讀寫(xiě)器的雜散輻射功率；

步驟8，選取下一測(cè)試用例，并重復(fù)所述步驟2至所述步驟7，直至所有所述測(cè)試用例測(cè)試完畢。

2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述射頻信號(hào)分析裝置為矢量信號(hào)分析儀。

3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述待測(cè)試標(biāo)簽讀寫(xiě)器的工作頻率為2400.00MHz～2483.50MHz。

4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述待測(cè)試標(biāo)簽讀寫(xiě)器的工作頻率范圍被劃分成16個(gè)信道。

5.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，還提供一上位機(jī)及一環(huán)形器，所述RFID標(biāo)簽連接所述環(huán)形器的第一端口，所述射頻信號(hào)分析裝置連接所述環(huán)形器的第二端口，所述待測(cè)試標(biāo)簽讀寫(xiě)器連接所述環(huán)形器的第三端口，所述上位機(jī)信號(hào)連接所述待測(cè)試標(biāo)簽讀寫(xiě)器。

6.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟7中沒(méi)計(jì)算所述待測(cè)試標(biāo)簽讀寫(xiě)器雜散輻射功率的方法為，所述待測(cè)試標(biāo)簽讀寫(xiě)器的雜散輻射功率等于所述雜散輻射值減去所述射頻信號(hào)分析裝置與所述待測(cè)試標(biāo)簽讀寫(xiě)器之間的饋線損耗加上所述待測(cè)試標(biāo)簽讀寫(xiě)器的天線增益。

7.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟6中，所述測(cè)量所述雜散輻射值覆蓋的頻段為30.00MHz-3600.00MHz。

8.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述所屬步驟6中，測(cè)量所述雜散輻射值時(shí)，所述射頻信號(hào)分析裝置的頻譜分辨率帶寬設(shè)置為100KHz。

9.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，于所述步驟1之前，預(yù)先初始化所述RFID標(biāo)簽的文件格式、權(quán)限及內(nèi)容。

10.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述預(yù)定倍數(shù)為2.5倍。