[發明專利]存儲器模塊、包括其的存儲系統及其錯誤校正方法

有效

• 申請號: 201711114093.0
• 申請日: 2017-11-13
• 公開（公告）號: CN108376554B
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: 樸鐘現;李圣恩;具滋現;鄭承奎
• 申請（專利權）人: 愛思開海力士有限公司
• 主分類號: G11C29/42
• 分類號: G11C29/42;G11C29/44
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 李琳;王建國

1.一種存儲系統的錯誤校正方法，包括：

從多個存儲器芯片中讀取讀取數據和錯誤校正碼；

使用錯誤校正碼來校正讀取數據的錯誤；

如果所述錯誤的校正失敗，則將讀取數據和錯誤校正碼暫時儲存在緩沖器中；

將特定輸入測試模式寫入所述多個存儲器芯片中，讀取寫入所述多個存儲器芯片中的輸出測試模式，并且基于所述輸入測試模式與所述輸出測試模式之間的比較結果來檢測發生芯片修復的故障芯片；

基于檢測到的故障芯片的位置而使用儲存在緩沖器中的錯誤校正碼來重新校正儲存在緩沖器中的讀取數據的錯誤；并且

將錯誤已校正的讀取數據和錯誤校正碼重新寫入所述多個存儲器芯片中。

2.根據權利要求1所述的錯誤校正方法，其中，重新校正儲存在緩沖器中的讀取數據的錯誤的步驟包括：

通過使用儲存在緩沖器中的錯誤校正碼來計算來自儲存在緩沖器中的讀取數據的校正子而產生校正子標志；

基于檢測到的故障芯片的位置來產生用于確定擦除符號的位置的擦除位置多項式；

通過將校正子標志乘以擦除位置多項式來輸出修改的校正子；

使用修改的校正子來計算錯誤位置多項式的系數和錯誤評價多項式的系數；

從錯誤位置多項式和錯誤評價多項式來計算錯誤的位置，以及計算在所計算出的錯誤位置處的錯誤的權重；以及

基于錯誤的位置和錯誤的權重來校正儲存在緩沖器中的讀取數據的錯誤。

3.根據權利要求1所述的錯誤校正方法，其中，錯誤校正碼為里德-索洛蒙錯誤校正碼。

4.根據權利要求1所述的錯誤校正方法，其中，所述存儲系統校正所述錯誤，所述錯誤包括在所述多個存儲器芯片中發生的N比特位隨機錯誤和一個芯片修復錯誤，其中，N是1或更大的整數。

5.根據權利要求1所述的錯誤校正方法，其中，錯誤校正碼的比特位的數量通過[2*(位置未知的錯誤的可校正符號的數量)+(位置已知的錯誤的可校正符號的數量)]來確定，其中，每個可校正符號由M比特位形成，M為2或更大的整數。

6.根據權利要求1所述的錯誤校正方法，其中，當錯誤的校正成功時，確定不存在故障芯片，并且錯誤的校正被終止。

7.根據權利要求1所述的錯誤校正方法，其中，特定輸入測試模式包括全0模式或全1模式。

8.一種存儲系統，包括：

多個存儲器芯片，它們適用于儲存數據和錯誤校正碼；

錯誤校正電路，其適用于使用從所述多個存儲器芯片讀取的錯誤校正碼來校正從所述多個存儲器芯片讀取的數據的錯誤，并且如果錯誤的校正失敗，則將讀取數據和錯誤校正碼暫時儲存在緩沖器中；以及

故障芯片檢測電路，其適用于：如果所述錯誤的校正失敗，則將特定輸入測試模式寫入所述多個存儲器芯片中，讀取寫入所述多個存儲器芯片中的輸出測試模式，并且基于所述輸入測試模式與所述輸出測試模式之間的比較結果來檢測發生芯片修復的故障芯片，

其中，錯誤校正電路基于檢測到的故障芯片的位置而使用儲存在緩沖器中的錯誤校正碼來重新校正儲存在緩沖器中的讀取數據的錯誤，并且將錯誤已校正的讀取數據和錯誤校正碼重新寫入所述多個存儲器芯片中。

9.根據權利要求8所述的存儲系統，其中，錯誤校正電路包括：

校正子發生器，其適用于通過使用錯誤校正碼計算來自讀取數據的校正子而產生校正子標志；

擦除位置計算器，其適用于基于檢測到的故障芯片的位置來產生用于確定擦除符號的位置的擦除位置多項式；

乘法器，其適用于通過將校正子標志乘以擦除位置多項式來輸出修改的校正子；

伯利坎普-梅西算法處理器，其適用于使用修改的校正子來計算錯誤位置多項式的系數和錯誤評價多項式的系數；

錢氏搜索/福尼算法處理器，其適用于從錯誤位置多項式和錯誤評價多項式來計算錯誤的位置，并且計算在所計算出的錯誤位置處的錯誤的權重；以及

錯誤校正單元，其適用于基于錯誤的位置和錯誤的權重來校正讀取數據的錯誤。