[發(fā)明專利]電荷放大器貯存壽命預(yù)測方法、裝置、存儲介質(zhì)和計(jì)算機(jī)設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711108210.2 | 申請日: | 2017-11-08 |
| 公開(公告)號: | CN107918704A | 公開(公告)日: | 2018-04-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李坤蘭;張博;邱森寶;胡湘洪;王春輝;黃創(chuàng)綿;羅琴 | 申請(專利權(quán))人: | 中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司44224 | 代理人: | 黃曉慶 |
| 地址: | 510610 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電荷 放大器 貯存 壽命 預(yù)測 方法 裝置 存儲 介質(zhì) 計(jì)算機(jī) 設(shè)備 | ||
1.一種電荷放大器貯存壽命的預(yù)測方法,其特征在于,包括:
獲取電荷放大器貯存壽命的特征參數(shù)以及所述特征參數(shù)對應(yīng)的特征數(shù)據(jù)序列;
當(dāng)所述特征數(shù)據(jù)序列單調(diào)遞減且所述特征數(shù)據(jù)序列中的特征數(shù)據(jù)值大于所述特征參數(shù)的預(yù)設(shè)失效閾值時,將所述特征數(shù)據(jù)序列作為建模特征數(shù)據(jù)序列;
根據(jù)所述建模特征數(shù)據(jù)序列,基于時間響應(yīng)函數(shù)求解,得到電荷放大器貯存壽命的預(yù)測模型;
根據(jù)所述電荷放大器貯存壽命的預(yù)測模型,得到電荷放大器貯存壽命。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電荷放大器貯存壽命的預(yù)測方法,其特征在于,所述獲取電荷放大器貯存壽命的特征參數(shù)的步驟包括:
獲取電荷放大器貯存壽命的各性能參數(shù)對應(yīng)的監(jiān)測數(shù)據(jù)序列;
對各所述監(jiān)測數(shù)據(jù)序列進(jìn)行均值和方差的無偏估計(jì),得到各性能參數(shù)對應(yīng)的統(tǒng)計(jì)量;
將所述各性能參數(shù)對應(yīng)的統(tǒng)計(jì)量分別與預(yù)設(shè)統(tǒng)計(jì)量進(jìn)行比較,得到電荷放大器貯存壽命的特征參數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電荷放大器貯存壽命的預(yù)測方法,其特征在于,所述將所述各性能參數(shù)對應(yīng)的統(tǒng)計(jì)量分別與預(yù)設(shè)統(tǒng)計(jì)量進(jìn)行比較,得到電荷放大器貯存壽命的特征參數(shù)的步驟包括:
將所述各性能參數(shù)對應(yīng)的統(tǒng)計(jì)量分別與預(yù)設(shè)統(tǒng)計(jì)量進(jìn)行比較,當(dāng)所述性能參數(shù)的統(tǒng)計(jì)量大于所述性能參數(shù)的預(yù)設(shè)統(tǒng)計(jì)量時,將所述性能參數(shù)作為電荷放大器貯存壽命的特征參數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電荷放大器貯存壽命的預(yù)測方法,其特征在于,所述獲取所述特征參數(shù)對應(yīng)的特征數(shù)據(jù)序列的步驟包括:
獲取所述特征參數(shù)對應(yīng)的特征數(shù)據(jù)監(jiān)測序列;
基于插值法對所述特征數(shù)據(jù)監(jiān)測序列進(jìn)行處理,得到特征數(shù)據(jù)序列。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電荷放大器貯存壽命的預(yù)測方法,其特征在于,所述根據(jù)所述建模特征數(shù)據(jù)序列,基于時間響應(yīng)函數(shù)求解,得到電荷放大器貯存壽命的預(yù)測模型的步驟包括:
建立時間響應(yīng)函數(shù)的表達(dá)式,所述時間響應(yīng)函數(shù)的表達(dá)式包括第一參數(shù)和第二參數(shù);
建立所述第一參數(shù)的計(jì)算公式和所述第二參數(shù)的計(jì)算公式,基于所述建模特征數(shù)據(jù)序列,求解得到第一參數(shù)數(shù)值和第二參數(shù)數(shù)值;
根據(jù)所述第一參數(shù)數(shù)值、所述第二參數(shù)數(shù)值和所述時間響應(yīng)函數(shù)的表達(dá)式,得到電荷放大器的特征參數(shù)對應(yīng)的時間響應(yīng)函數(shù);
根據(jù)所述特征參數(shù)對應(yīng)的預(yù)設(shè)失效閾值和所述特征參數(shù)對應(yīng)的時間響應(yīng)函數(shù),得到電荷放大器貯存壽命的預(yù)測模型。
6.一種電荷放大器貯存壽命的預(yù)測裝置,其特征在于,包括:
特征參數(shù)獲取模塊,用于獲取電荷放大器貯存壽命的特征參數(shù)以及所述特征參數(shù)對應(yīng)的特征數(shù)據(jù)序列;
建模序列獲取模塊,用于當(dāng)所述特征數(shù)據(jù)序列單調(diào)遞減且所述特征數(shù)據(jù)序列中的特征數(shù)據(jù)值大于所述特征參數(shù)的預(yù)設(shè)失效閾值時,將所述特征數(shù)據(jù)序列作為建模特征數(shù)據(jù)序列;
預(yù)測模型獲取模塊,用于根據(jù)所述建模特征數(shù)據(jù)序列,基于時間響應(yīng)函數(shù)求解,得到電荷放大器貯存壽命的預(yù)測模型;
貯存壽命計(jì)算模塊,用于根據(jù)所述電荷放大器貯存壽命的預(yù)測模型,得到電荷放大器貯存壽命。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電荷放大器貯存壽命的預(yù)測裝置,其特征在于,所述特征參數(shù)獲取模塊包括:
性能參數(shù)獲取單元,用于獲取電荷放大器貯存壽命的各性能參數(shù)對應(yīng)的監(jiān)測數(shù)據(jù)序列;
統(tǒng)計(jì)量獲取單元,用于對各所述監(jiān)測數(shù)據(jù)序列進(jìn)行均值和方差的無偏估計(jì),得到各性能參數(shù)對應(yīng)的統(tǒng)計(jì)量;
特征參數(shù)獲取單元,用于將所述各性能參數(shù)對應(yīng)的統(tǒng)計(jì)量分別與預(yù)設(shè)統(tǒng)計(jì)量進(jìn)行比較,得到電荷放大器貯存壽命的特征參數(shù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電荷放大器貯存壽命的預(yù)測裝置,其特征在于,所述特征參數(shù)獲取模塊包括:
監(jiān)測數(shù)據(jù)獲取單元,用于獲取所述特征參數(shù)對應(yīng)的特征數(shù)據(jù)監(jiān)測序列;
插值處理單元,用于基于插值法對所述特征數(shù)據(jù)監(jiān)測序列進(jìn)行處理,得到特征數(shù)據(jù)序列。
9.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備,包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述處理器執(zhí)行所述程序時實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-5中任意一項(xiàng)所述方法的步驟。
10.一種存儲介質(zhì),其上存儲有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-5中任意一項(xiàng)所述方法的步驟。
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