[發明專利]一種測試方法在審
| 申請號： | 201711100092.0 | 申請日： | 2017-11-09 |
| 公開（公告）號： | CN108020772A | 公開（公告）日： | 2018-05-11 |
| 發明（設計）人： | 潘照榮;張坤 | 申請（專利權）人： | 晶晨半導體(上海)股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01R1/067 |
| 代理公司： | 上海申新律師事務所 31272 | 代理人： | 俞滌炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦東新區張江*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測試 方法 | ||
1.一種測試方法，其特征在于，提供一測試設備以測試待測主板，所述待測主板具有一獨立接口，所述獨立接口包括接地觸點、電源觸點、數據觸點，所述測試設備包括分別對應于所述接地觸點、電源觸點、數據觸點接地探針、供電探針、數據探針，所述測試方法包括以下步驟：
步驟S1、將所述待測主板放置在所述測試設備的測試工位上；
步驟S2、先使所述接地探針接觸所述待測主板，以消除所述待測主板與所述測試設備之間的地電位差；
步驟S3、再使所述供電探針接觸所述待測主板，以穩定所述待測主板的電壓；
步驟S4、然后使所述數據探針接觸所述待測主板，以對所述待測主板進行測試。
2.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述接地探針、供電探針、數據探針固定于一測試模塊上；
所述測試模塊設置于所述測試工位的上方；
所述測試模塊于測試時壓向所述待測主板，以使所述接地探針、供電探針、數據探針接觸所述待測主板。
3.如權利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述接地探針、供電探針、數據探針可伸縮。
4.如權利要求3所述的測試方法，其特征在于，相較于所述測試模塊，所述接地探針高于所述供電探針，并且所述供電探針高于所述數據探針；
于所述測試模塊壓向所述待測主板時所述接地探針、供電探針、數據探針依次接觸所述待測主板。
5.如權利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述測試設備包括：
驅動裝置，連接所述測試模塊，所述驅動裝置用于在測試時驅動所述測試模塊壓向所述待測主板，以及在測試結束時驅動所述測試模塊回到初始位置。
6.如權利要求5所述的測試方法，其特征在于，所述測試設備包括：
控制器，連接所述驅動裝置，用于控制所述驅動裝置完成相應的驅動動作。
7.如權利要求5所述的測試方法，其特征在于，所述驅動裝置為氣動機械結構。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于晶晨半導體(上海)股份有限公司，未經晶晨半導體(上海)股份有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711100092.0/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
