[發(fā)明專利]無(wú)源UHFRFID標(biāo)簽反射散射強(qiáng)度測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711099862.4
• 申請(qǐng)日: 2017-11-09
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107907748A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-04-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 冀京秋;余舒浩;邱落
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中京復(fù)電(上海)電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R29/08
• 分類號(hào): G01R29/08
• 代理公司: 上海諾衣知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)31298
• 代理人: 韓國(guó)輝

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及射頻標(biāo)簽技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種無(wú)源UHF RFID標(biāo)簽反射散射強(qiáng)度測(cè)試方法。

背景技術(shù)

射頻識(shí)別技術(shù)是二十世紀(jì)九十年代興起的一種無(wú)線的、非接觸方式的自動(dòng)識(shí)別技術(shù)，是近幾年發(fā)展起來(lái)的前沿科技項(xiàng)目。該技術(shù)主要是利用射頻信號(hào)通過(guò)空間耦合實(shí)現(xiàn)無(wú)接觸信息傳遞并通過(guò)所傳遞的信息達(dá)到識(shí)別目的。射頻識(shí)別技術(shù)的顯著優(yōu)點(diǎn)在于非接觸性，因此完成識(shí)別工作時(shí)無(wú)需人工干預(yù)，能夠?qū)崿F(xiàn)識(shí)別自動(dòng)化且不易損壞；可識(shí)別高速運(yùn)動(dòng)的射頻標(biāo)簽，也可同時(shí)識(shí)別多個(gè)射頻標(biāo)簽，操作快捷方便；射頻標(biāo)簽不怕油漬、灰塵污染等惡劣環(huán)境，且可以穿透非金屬物體進(jìn)行識(shí)別，抗干擾能力強(qiáng)。

現(xiàn)有的射頻標(biāo)簽技術(shù)中，無(wú)源UHF RFID(特高頻射頻標(biāo)簽)被廣泛的應(yīng)用于物聯(lián)網(wǎng)中，然而，由于目前缺少對(duì)無(wú)源UHF RFID的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方法，使得各種工作指標(biāo)不統(tǒng)一的無(wú)源UHF RFID被混合使用，造成物聯(lián)網(wǎng)或者相應(yīng)的使用環(huán)境工作不穩(wěn)定。

發(fā)明內(nèi)容

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問(wèn)題，現(xiàn)提供一種無(wú)源UHF RFID標(biāo)簽反射散射強(qiáng)度測(cè)試方法。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用了如下的技術(shù)方案：

一種無(wú)源UHF RFID標(biāo)簽反射散射強(qiáng)度測(cè)試方法，其中，提供一RFID標(biāo)簽讀寫器及一射頻信號(hào)分析裝置，包括以下步驟：

步驟1，根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目定義復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試用例，并選取一測(cè)試用例；

步驟2，根據(jù)選取的所述測(cè)試用例設(shè)置所述RFID標(biāo)簽讀寫器參數(shù)；

步驟3，根據(jù)選取的所述測(cè)試用例設(shè)置所述射頻信號(hào)分析裝置參數(shù)，使所述射頻信號(hào)分析裝置工作于相應(yīng)的信號(hào)分析模式；

步驟4，使所述RFID標(biāo)簽讀寫器以無(wú)線形式向一置于電波暗室內(nèi)的待測(cè)試標(biāo)簽發(fā)送指令；

步驟5，使所述射頻信號(hào)分析裝置采集所述RFID標(biāo)簽讀寫器與所述待測(cè)試標(biāo)簽通信過(guò)程中的射頻信號(hào)；

步驟6，分析采集到的所述射頻信號(hào)，并記錄所述待測(cè)試標(biāo)簽返回信號(hào)的反射強(qiáng)度；

步驟7，根據(jù)所述待測(cè)試標(biāo)簽返回信號(hào)的反射強(qiáng)度，計(jì)算所述待測(cè)試標(biāo)簽端的反向散射強(qiáng)度；

步驟8，選取下一測(cè)試用例，并重復(fù)所述步驟2至所述步驟7，直至所有所述測(cè)試用例測(cè)試完畢。

本發(fā)明的另一方面，還包括天線及環(huán)形器，所述射頻信號(hào)分析裝置的輸入接口連接所述環(huán)形器的第一端口，所述RFID標(biāo)簽讀寫器的射頻接口連接所述環(huán)形器的第二端口，所述環(huán)形器的第三端口連接所述天線，所述天線設(shè)置于所述電波暗室內(nèi)，所述待測(cè)試標(biāo)簽置于所述電波暗室內(nèi)，并與所述天線具有預(yù)定距離。

本發(fā)明的另一方面，所述射頻信號(hào)分析裝置為矢量信號(hào)分析儀。

本發(fā)明的另一方面，所述RFID標(biāo)簽讀寫器的工作頻率為840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。

本發(fā)明的另一方面，所述電波暗室內(nèi)徑2.5米。

本發(fā)明的另一方面，所述預(yù)定距離為1米。

本發(fā)明的另一方面，所述步驟2中，所述RFID標(biāo)簽讀寫器發(fā)射功率設(shè)置為20dBm。

本發(fā)明的另一方面，所述步驟4中，所述指令為滿足T2要求的啟動(dòng)查詢命令。

本發(fā)明的另一方面，所述天線極化方式為線極化。

本發(fā)明的另一方面，所述天線增益為8.5dBi。

本發(fā)明獲得了以下有益效果：

可對(duì)無(wú)源UHF RFID標(biāo)簽的反射散射強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)試。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明無(wú)源UHF RFID標(biāo)簽反射散射強(qiáng)度測(cè)試方法的流程框圖；

圖2為本發(fā)明無(wú)源UHF RFID標(biāo)簽反射散射強(qiáng)度測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明，但不作為本發(fā)明的限定。

本發(fā)明提供一種無(wú)源UHF RFID標(biāo)簽反射散射強(qiáng)度測(cè)試方法，如圖1、圖2所示，其中，提供一RFID標(biāo)簽讀寫器2及一射頻信號(hào)分析裝置1，包括以下步驟：

步驟1，根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目定義復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試用例，并選取一測(cè)試用例；

步驟2，根據(jù)選取的所述測(cè)試用例設(shè)置所述RFID標(biāo)簽讀寫器2的參數(shù)；

步驟3，根據(jù)選取的所述測(cè)試用例設(shè)置所述射頻信號(hào)分析裝置1的參數(shù)，使所述射頻信號(hào)分析裝置1工作于相應(yīng)的信號(hào)分析模式；

步驟4，使所述RFID標(biāo)簽讀寫器2以無(wú)線形式向一置于電波暗室6內(nèi)的待測(cè)試標(biāo)簽5發(fā)送指令；

步驟5，使所述射頻信號(hào)分析裝置1采集所述RFID標(biāo)簽讀寫器2與所述待測(cè)試標(biāo)簽5通信過(guò)程中的射頻信號(hào)；