[發明專利]無源UHFRFID標簽反射散射強度測試方法在審
| 申請號： | 201711099862.4 | 申請日： | 2017-11-09 |
| 公開（公告）號： | CN107907748A | 公開（公告）日： | 2018-04-13 |
| 發明（設計）人： | 冀京秋;余舒浩;邱落 | 申請（專利權）人： | 中京復電(上海)電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R29/08 | 分類號： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 上海諾衣知識產權代理事務所(普通合伙)31298 | 代理人： | 韓國輝 |
| 地址： | 201203 上海市浦東*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 無源 uhfrfid 標簽 反射 散射 強度 測試 方法 | ||
1.一種無源UHF RFID標簽反射散射強度測試方法，其特征在于，提供一RFID標簽讀寫器及一射頻信號分析裝置，包括以下步驟：
步驟1，根據測試項目定義復數個測試用例，并選取一測試用例；
步驟2，根據選取的所述測試用例設置所述RFID標簽讀寫器參數；
步驟3，根據選取的所述測試用例設置所述射頻信號分析裝置參數，使所述射頻信號分析裝置工作于相應的信號分析模式；
步驟4，使所述RFID標簽讀寫器以無線形式向一置于電波暗室內的待測試標簽發送指令；
步驟5，使所述射頻信號分析裝置采集所述RFID標簽讀寫器與所述待測試標簽通信過程中的射頻信號；
步驟6，分析采集到的所述射頻信號，并記錄所述待測試標簽返回信號的反射強度；
步驟7，根據所述待測試標簽返回信號的反射強度，計算所述待測試標簽端的反向散射強度；
步驟8，選取下一測試用例，并重復所述步驟2至所述步驟7，直至所有所述測試用例測試完畢。
2.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，還包括天線及環形器，所述射頻信號分析裝置的輸入接口連接所述環形器的第一端口，所述RFID標簽讀寫器的射頻接口連接所述環形器的第二端口，所述環形器的第三端口連接所述天線，所述天線設置于所述電波暗室內，所述待測試標簽置于所述電波暗室內，并與所述天線具有預定距離。
3.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述射頻信號分析裝置為矢量信號分析儀。
4.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述RFID標簽讀寫器的工作頻率為840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。
5.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述電波暗室內徑2.5米。
6.如權利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述預定距離為1米。
7.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述步驟2中，所述RFID標簽讀寫器發射功率設置為20dBm。
8.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述步驟4中，所述指令為滿足T2要求的啟動查詢命令。
9.如權利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述天線極化方式為線極化。
10.如權利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述天線增益為8.5dBi。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中京復電(上海)電子科技有限公司，未經中京復電(上海)電子科技有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711099862.4/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
