[發明專利]無源UHFRFID標簽抗干擾能力測試裝置及方法

在審

• 申請號: 201711099861.X
• 申請日: 2017-11-09
• 公開（公告）號: CN107991549A
• 公開（公告）日: 2018-05-04
• 發明（設計）人: 冀京秋;賀明;方堅
• 申請（專利權）人: 中京復電(上海)電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 上海諾衣知識產權代理事務所(普通合伙)31298
• 代理人: 韓國輝

技術領域

本發明涉及射頻標簽技術領域，尤其涉及一種無源UHF RFID標簽抗干擾能力測試裝置及方法。

背景技術

射頻識別技術是二十世紀九十年代興起的一種無線的、非接觸方式的自動識別技術，是近幾年發展起來的前沿科技項目。該技術主要是利用射頻信號通過空間耦合實現無接觸信息傳遞并通過所傳遞的信息達到識別目的。射頻識別技術的顯著優點在于非接觸性，因此完成識別工作時無需人工干預，能夠實現識別自動化且不易損壞；可識別高速運動的射頻標簽，也可同時識別多個射頻標簽，操作快捷方便；射頻標簽不怕油漬、灰塵污染等惡劣環境，且可以穿透非金屬物體進行識別，抗干擾能力強。

現有的射頻標簽技術中，無源UHF RFID(特高頻射頻標簽)被廣泛的應用于物聯網中，然而，由于目前缺少對無源UHF RFID的測試設備和測試方法，使得各種工作指標不統一的無源UHF RFID被混合使用，造成物聯網或者相應的使用環境工作不穩定。

發明內容

針對現有技術中存在的上述問題，現提供一種無源UHF RFID標簽抗干擾能力測試裝置及方法。

為實現上述目的，本發明采用了如下的技術方案：

一種無源UHF RFID標簽抗干擾能力測試裝置，其中，包射頻信號分析裝置，RFID標簽讀寫器，干擾源，合路器，天線及環形器，所述射頻信號分析裝置的輸入接口連接所述環形器的第一端口，所述RFID標簽讀寫器的射頻接口連接所述合路器的第一輸入接口，所述干擾源的射頻接口連接所述合路器的第二輸入接口，所述合路器的輸出接口連接所述環形器的第二端口，所述環形器的第三端口連接所述天線，還包括一電波暗室，所述天線設置于所述電波暗室內，一待測試標簽置于所述電波暗室內，并與所述天線具有預定距離。

本發明的另一方面，所述射頻信號分析裝置為矢量信號分析儀。

本發明的另一方面，所述干擾源為矢量信號發生器。

本發明的另一方面，所述RFID標簽讀寫器的工作頻率為840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。

本發明的另一方面，所述電波暗室內徑2.5米。

本發明的另一方面，所述預定距離為1米。

本發明還包括一種無源UHF RFID標簽靈敏度測試方法，其中，應用上述的無源UHF RFID標簽靈敏度測試裝置，還包括如下步驟：

步驟1，根據測試項目定義復數個測試用例，并選取一測試用例；

步驟2，根據選取的所述測試用例設置所述RFID標簽讀寫器參數；

步驟3，根據選取的所述測試用例設置所述射頻信號分析裝置參數，使所述射頻信號分析裝置工作于相應的信號分析模式；

步驟4，使所述RFID標簽讀寫器向所述待測試標簽發送指令；

步驟5，使所述射頻信號分析裝置采集所述RFID標簽讀寫器與所述待測試標簽通信過程中的射頻信號；

步驟6，根據采集到的所述射頻信號，調整所述RFID標簽讀寫器的發射功率至所述待測試標簽可正確應答的一第一臨界值；

步驟7，使所述干擾源發射干擾信號，并以一定步長逐漸增加發射功率，直至所述待測試標簽無法正確應答的一第二臨界值；

步驟8，判斷當前RFID標簽讀寫器的發射功率是否大于所述第一臨界值一預定值，如否增加所述RFID標簽讀寫器的發射功率至所述待測試標簽可正確應答，并返回所述步驟7；

步驟9，記錄當前所述干擾源的發射功率。

本發明的另一方面，所述步驟4中，所述RFID標簽讀寫器發射功率設置為20dBm。

本發明的另一方面，所述預定步長為0.25dBm。

本發明的另一方面，所述預定值為2dBm。

本發明獲得了以下有益效果：

可對無源UHF RFID標簽抗干擾能力進行測試。

附圖說明

圖1為本發明無源UHF RFID標簽抗干擾能力測試裝置的結構示意圖；

圖2為本發明無源UHF RFID標簽抗干擾能力測試方法的流程框圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對本發明作進一步說明，但不作為本發明的限定。