[發明專利]無源UHFRFID標簽抗干擾能力測試裝置及方法

在審

• 申請號: 201711099861.X
• 申請日: 2017-11-09
• 公開（公告）號: CN107991549A
• 公開（公告）日: 2018-05-04
• 發明（設計）人: 冀京秋;賀明;方堅
• 申請（專利權）人: 中京復電(上海)電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 上海諾衣知識產權代理事務所(普通合伙)31298
• 代理人: 韓國輝

1.一種無源UHF RFID標簽抗干擾能力測試裝置，其特征在于，包射頻信號分析裝置，RFID標簽讀寫器，干擾源，合路器，天線及環形器，所述射頻信號分析裝置的輸入接口連接所述環形器的第一端口，所述RFID標簽讀寫器的射頻接口連接所述合路器的第一輸入接口，所述干擾源的射頻接口連接所述合路器的第二輸入接口，所述合路器的輸出接口連接所述環形器的第二端口，所述環形器的第三端口連接所述天線，還包括一電波暗室，所述天線設置于所述電波暗室內，一待測試標簽置于所述電波暗室內，并與所述天線具有預定距離。

2.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述射頻信號分析裝置為矢量信號分析儀。

3.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述干擾源為矢量信號發生器。

4.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述RFID標簽讀寫器的工作頻率為840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。

5.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述電波暗室內徑2.5米。

6.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述預定距離為1米。

7.一種無源UHF RFID標簽靈敏度測試方法，其特征在于，應用如權利要求1-6中任一所述的無源UHF RFID標簽靈敏度測試裝置，還包括如下步驟：

步驟1，根據測試項目定義復數個測試用例，并選取一測試用例；

步驟2，根據選取的所述測試用例設置所述RFID標簽讀寫器參數；

步驟3，根據選取的所述測試用例設置所述射頻信號分析裝置參數，使所述射頻信號分析裝置工作于相應的信號分析模式；

步驟4，使所述RFID標簽讀寫器向所述待測試標簽發送指令；

步驟5，使所述射頻信號分析裝置采集所述RFID標簽讀寫器與所述待測試標簽通信過程中的射頻信號；

步驟6，根據采集到的所述射頻信號，調整所述RFID標簽讀寫器的發射功率至所述待測試標簽可正確應答的一第一臨界值；

步驟7，使所述干擾源發射干擾信號，并以一定步長逐漸增加發射功率，直至所述待測試標簽無法正確應答的一第二臨界值；

步驟8，判斷當前RFID標簽讀寫器的發射功率是否大于所述第一臨界值一預定值，如否增加所述RFID標簽讀寫器的發射功率至所述待測試標簽可正確應答，并返回所述步驟7；

步驟9，記錄當前所述干擾源的發射功率。

8.如權利要求7所述的測試方法，其特征在于，所述步驟4中，所述RFID標簽讀寫器發射功率設置為20dBm。

9.如權利要求7所述的測試方法，其特征在于，所述預定步長為0.25dBm。

10.如權利要求7所述的測試方法，其特征在于，所述預定值為2dBm。