[發明專利]有源UHF射頻標簽防碰撞測試裝置及方法

在審

• 申請號: 201711099810.7
• 申請日: 2017-11-09
• 公開（公告）號: CN107832814A
• 公開（公告）日: 2018-03-23
• 發明（設計）人: 冀京秋;蔣亦青;余舒浩;邱落
• 申請（專利權）人: 中京復電(上海)電子科技有限公司
• 主分類號: G06K17/00
• 分類號: G06K17/00
• 代理公司: 上海諾衣知識產權代理事務所(普通合伙)31298
• 代理人: 韓國輝

技術領域

本發明涉及射頻標簽技術領域，尤其涉及一種有源UHF射頻標簽防碰撞測試裝置及方法。

背景技術

射頻識別技術是二十世紀九十年代興起的一種無線的、非接觸方式的自動識別技術，是近幾年發展起來的前沿科技項目。該技術主要是利用射頻信號通過空間耦合實現無接觸信息傳遞并通過所傳遞的信息達到識別目的。射頻識別技術的顯著優點在于非接觸性，因此完成識別工作時無需人工干預，能夠實現識別自動化且不易損壞；可識別高速運動的射頻標簽，也可同時識別多個射頻標簽，操作快捷方便；射頻標簽不怕油漬、灰塵污染等惡劣環境，且可以穿透非金屬物體進行識別，抗干擾能力強。

現有的射頻標簽技術中，有源UHF RFID(特高頻射頻標簽)被廣泛的應用于物聯網中，其中標簽讀寫器是配合有源UHF RFID工作的主要設備，然而，由于目前缺少對有源UHF RFID標簽讀寫器的測試設備和測試方法，使得各種工作指標不統一的有源UHF RFID標簽讀寫器流入終端領域，造成物聯網或者相應的使用環境工作不穩定。

發明內容

針對現有技術中存在的上述問題，現提供一種有源UHF射頻標簽防碰撞測試裝置及方法。

為實現上述目的，本發明采用了如下的技術方案：

一種有源UHF射頻標簽防碰撞測試裝置，其中，包括一RFID標簽讀寫器，及一待測試標簽陣列，所述RFID標簽讀寫器及所述待測試標簽陣列設置于一電波暗室中，還包括一上位機，設置于所述電波暗室外，并與所述RFID標簽讀寫器信號連接。

本發明的另一方面，所述RFID標簽讀寫器包括天線，所述天線正對所述待測試標簽陣列中心，且與所述待測試標簽陣列中心具有預定距離。

本發明的另一方面，所述預定距離為2米。

本發明的另一方面，所述待測試標簽陣列中包括36枚待測試標簽，兩枚所述待測試標簽中心的橫向間距及縱向間距均為200mm。

本發明的另一方面，所述待測試標簽陣列中包括36枚待測試標簽，及36枚參考標簽，所述待測試標簽與所述參考標簽相互間隔的設置，且中心的橫向間距及縱向間距均為200mm。

本發明還包括，一種有源UHF射頻標簽防碰撞測試方法，其中，應用上述的有源UHF射頻標簽防碰撞測試裝置，還包括以下步驟：

步驟1，所述上位機控制所述RFID標簽讀寫器盤點所述待測試標簽陣列；

步驟2，記錄所述RFID標簽讀寫器盤點所用時間；

步驟3，盤點結束后記錄所述RFID標簽讀寫器識別的所述待測試標簽陣列中的待測試標簽的數量；

步驟4，將待測試標簽陣列中的待測試標簽與相同數量的參考標簽相互間隔的重新排列成待測試標簽陣列；

步驟5，所述上位機控制所述RFID標簽讀寫器盤點所述待測試標簽陣列；

步驟6，記錄所述RFID標簽讀寫器盤點所用時間；

步驟7，盤點結束后記錄所述RFID標簽讀寫器識別的所述待測試標簽陣列中的待測試標簽的數量。

本發明的另一方面，所述步驟2中的所述盤點時間為所述RFID標簽讀寫器從發送第一次指令至盤點結束所用時間。

本發明的另一方面，所述步驟6中的所述盤點時間為所述RFID標簽讀寫器從發送第一次指令至盤點結束所用時間。

本發明獲得了以下有益效果：

可對有源UHF射頻標簽防碰撞能力進行有效的測試。

附圖說明

圖1為本發明有源UHF射頻標簽防碰撞測試裝置的結構示意圖；

圖2為本發明有源UHF射頻標簽防碰撞測試裝置中待測試標簽陣列的結構示意圖；

圖3為本發明有源UHF射頻標簽防碰撞測試裝置中待測試標簽與參考標簽共同形成待測試標簽陣列的結構示意圖；

圖4為本發明有源UHF射頻標簽防碰撞測試方法的流程框圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對本發明作進一步說明，但不作為本發明的限定。

本發明提供一種有源UHF射頻標簽防碰撞測試裝置，如圖1所示，其中，包括一RFID標簽讀寫器1，及一待測試標簽陣列2，所述RFID標簽讀寫器1及所述待測試標簽陣列2設置于一電波暗室3中，還包括一上位機4，設置于所述電波暗室3外，并與所述RFID標簽讀寫器1信號連接。

本發明的另一方面，所述RFID標簽讀寫器1包括天線5，所述天線5正對所述待測試標簽陣列2中心，且與所述待測試標簽陣列2中心具有預定距離。

本發明的另一方面，所述預定距離為2米。