[發(fā)明專利]有源UHF射頻標(biāo)簽防碰撞測試裝置及方法

在審

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• 申請日: 2017-11-09
• 公開（公告）號: CN107832814A
• 公開（公告）日: 2018-03-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 冀京秋;蔣亦青;余舒浩;邱落
• 申請（專利權(quán)）人: 中京復(fù)電(上海)電子科技有限公司
• 主分類號: G06K17/00
• 分類號: G06K17/00
• 代理公司: 上海諾衣知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)31298
• 代理人: 韓國輝

1.一種有源UHF射頻標(biāo)簽防碰撞測試裝置，其特征在于，包括一RFID標(biāo)簽讀寫器，及一待測試標(biāo)簽陣列，所述RFID標(biāo)簽讀寫器及所述待測試標(biāo)簽陣列設(shè)置于一電波暗室中，還包括一上位機(jī)，設(shè)置于所述電波暗室外，并與所述RFID標(biāo)簽讀寫器信號連接。

2.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述RFID標(biāo)簽讀寫器包括天線，所述天線正對所述待測試標(biāo)簽陣列中心，且與所述待測試標(biāo)簽陣列中心具有預(yù)定距離。

3.如權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述預(yù)定距離為2米。

4.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述待測試標(biāo)簽陣列中包括36枚待測試標(biāo)簽，兩枚所述待測試標(biāo)簽中心的橫向間距及縱向間距均為200mm。

5.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述待測試標(biāo)簽陣列中包括36枚待測試標(biāo)簽，及36枚參考標(biāo)簽，所述待測試標(biāo)簽與所述參考標(biāo)簽相互間隔的設(shè)置，且中心的橫向間距及縱向間距均為200mm。

6.一種有源UHF射頻標(biāo)簽防碰撞測試方法，其特征在于，應(yīng)用如權(quán)利要求1-4中任一所述的有源UHF射頻標(biāo)簽防碰撞測試裝置，還包括以下步驟：

步驟1，所述上位機(jī)控制所述RFID標(biāo)簽讀寫器盤點(diǎn)所述待測試標(biāo)簽陣列；

步驟2，記錄所述RFID標(biāo)簽讀寫器盤點(diǎn)所用時間；

步驟3，盤點(diǎn)結(jié)束后記錄所述RFID標(biāo)簽讀寫器識別的所述待測試標(biāo)簽陣列中的待測試標(biāo)簽的數(shù)量；

步驟4，將待測試標(biāo)簽陣列中的待測試標(biāo)簽與相同數(shù)量的參考標(biāo)簽相互間隔的重新排列成待測試標(biāo)簽陣列；

步驟5，所述上位機(jī)控制所述RFID標(biāo)簽讀寫器盤點(diǎn)所述待測試標(biāo)簽陣列；

步驟6，記錄所述RFID標(biāo)簽讀寫器盤點(diǎn)所用時間；

步驟7，盤點(diǎn)結(jié)束后記錄所述RFID標(biāo)簽讀寫器識別的所述待測試標(biāo)簽陣列中的待測試標(biāo)簽的數(shù)量。

7.如權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征在于，所述步驟2中的所述盤點(diǎn)時間為所述RFID標(biāo)簽讀寫器從發(fā)送第一次指令至盤點(diǎn)結(jié)束所用時間。

8.如權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征在于，所述步驟6中的所述盤點(diǎn)時間為所述RFID標(biāo)簽讀寫器從發(fā)送第一次指令至盤點(diǎn)結(jié)束所用時間。