[發明專利]測量系統和測量方法

有效

• 申請號: 201711097070.3
• 申請日: 2017-11-09
• 公開（公告）號: CN107655858B
• 公開（公告）日: 2023-08-18
• 發明（設計）人: 何俊;張哲;王義平;王英;廖常銳
• 申請（專利權）人: 深圳大學
• 主分類號: G01N21/45
• 分類號: G01N21/45;G01N21/01
• 代理公司: 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312
• 代理人: 王利彬

本發明提供一種彈光系數的測量系統，涉及測量領域。該測量系統包括：光信號傳輸單元、處理單元和壓應力發生單元。光信號傳輸單元包括：光信號單元和傳導光纖，光信號單元通過傳導光纖與光學固化膠連接，處理單元與光信號單元連接，壓應力發生單元與處理單元連接。處理單元，用于產生控制信號，將控制信號傳輸至壓應力發生單元，控制信號用于控制應力發生單元對光學固化膠施加應力。光信號單元，用于產生初始光信號，將初始光信號通過傳導光纖傳輸至光學固化膠，并將光學固化膠在不同應力下反射的干涉光信號傳輸至處理單元。處理單元，還用于處理干涉光信號，得到光學固化膠的彈光系數。本發明還提供一種彈光系數的測量方法，可簡化光路調節。

技術領域

本發明涉及測量領域，尤其涉及一種測量系統和一種測量方法。

背景技術

光學固化膠在各行業均有廣泛的應用，當光學固化膠用作光學介質時，外界應力對光學固化膠的折射率的影響，即彈光系數，是需要被著重考慮的光學固化膠的性質。對光學固化膠的彈光系數的測量顯得尤為重要。

現有的光學固化膠的彈光系數測量系統在空間中將光照射向棱鏡，這種測量系統對入射光的空間位置和角度的要求嚴格，普遍存在光路調節復雜的問題。

發明內容

本發明提供一種測量系統，用于測量光學固化膠的彈光系數，可以解決現有測量系統的對入射光的空間位置和角度的要求嚴格，光路調節復雜的問題。

該測量系統包括：光信號傳輸單元、處理單元和壓應力發生單元；

所述光信號傳輸單元包括：光信號單元和傳導光纖，所述光信號單元通過傳導光纖與所述光學固化膠連接，所述處理單元與所述光信號單元連接，所述壓應力發生單元與所述處理單元連接；

所述處理單元，用于產生控制信號，將所述控制信號傳輸至所述壓應力發生單元，所述控制信號用于控制所述壓應力發生單元對所述光學固化膠施加預設的穩態壓應力組；

所述光信號單元，用于產生初始光信號，將所述初始光信號通過所述傳導光纖傳輸至所述光學固化膠，并將所述光學固化膠在不同穩態壓應力作用下反射的干涉光信號傳輸至所述處理單元；

所述處理單元，還用于處理由所述光信號單元獲得的干涉光信號，以得到所述光學固化膠在不同穩態壓應力作用下的彈光系數。

該測量系統，由于通過傳導光纖將初始光信號傳遞至光學固化膠，故對入射光的空間位置和角度的要求低，光路調節簡單。

本發明還提供一種測量方法，利用測量系統測量得到光學固化膠的彈光系數，可以解決現有測量方法的對入射光的空間位置和角度的要求嚴格，光路調節復雜的問題。

其中所述測量系統包括：光信號傳輸單元、處理單元和壓應力發生單元，所述光信號傳輸單元包括光信號單元和傳導光纖，所述測量方法包括：

所述處理單元產生控制信號，并將所述控制信號傳輸至所述壓應力發生單元；

所述壓應力發生單元響應于所述控制信號，對所述光學固化膠施加預設的穩態壓應力組；

所述光信號單元，產生初始光信號，通過所述傳導光纖將所述初始光信號傳輸至所述光學固化膠，獲取所述光學固化膠在不同穩態壓應力作用下反射的干涉光信號，并傳輸給所述處理單元；

所述處理單元，對所述光信號單元傳輸的所述干涉光信號進行處理，得到所述光學固化膠在不同穩態壓應力作用下的彈光系數，并將所述彈光系數傳輸給所述儲存單元。

該測量方法，由于通過傳導光纖將初始光信號傳遞至光學固化膠，故對入射光的空間位置和角度的要求低，光路調節簡單。

附圖說明