[發(fā)明專利]測(cè)量系統(tǒng)和測(cè)量方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711097070.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-11-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107655858B | 公開(公告)日: | 2023-08-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何俊;張哲;王義平;王英;廖常銳 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/45 | 分類號(hào): | G01N21/45;G01N21/01 |
| 代理公司: | 深圳市恒申知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 王利彬 |
| 地址: | 518060 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)量 系統(tǒng) 測(cè)量方法 | ||
1.一種測(cè)量系統(tǒng),用于測(cè)量光學(xué)固化膠的彈光系數(shù),其特征在于,所述測(cè)量系統(tǒng)包括:光信號(hào)傳輸單元、處理單元和壓應(yīng)力發(fā)生單元;
所述光信號(hào)傳輸單元包括:光信號(hào)單元和傳導(dǎo)光纖,所述光信號(hào)單元通過傳導(dǎo)光纖與所述光學(xué)固化膠連接,所述處理單元與所述光信號(hào)單元連接,所述壓應(yīng)力發(fā)生單元與所述處理單元連接;
所述處理單元,用于產(chǎn)生控制信號(hào),將所述控制信號(hào)傳輸至所述壓應(yīng)力發(fā)生單元,所述控制信號(hào)用于控制所述壓應(yīng)力發(fā)生單元對(duì)所述光學(xué)固化膠施加預(yù)設(shè)的穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力組;所述處理單元包括:光譜采集單元和運(yùn)算控制單元;所述運(yùn)算控制單元包括:運(yùn)算單元和儲(chǔ)存單元;
所述光信號(hào)單元,用于產(chǎn)生初始光信號(hào),將所述初始光信號(hào)通過所述傳導(dǎo)光纖傳輸至所述光學(xué)固化膠,并將所述光學(xué)固化膠在不同穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力作用下反射的干涉光信號(hào)傳輸至所述處理單元;
所述處理單元,還用于處理由所述光信號(hào)單元獲得的干涉光信號(hào),以得到所述光學(xué)固化膠在不同穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力作用下的彈光系數(shù),具體包括:
所述光譜采集單元對(duì)所述干涉光信號(hào)進(jìn)行處理,得到所述運(yùn)算單元可以處理的干涉光譜,并將所述干涉光譜傳輸至所述儲(chǔ)存單元;
所述儲(chǔ)存單元將所述光譜采集單元傳輸?shù)乃龈缮婀庾V,傳輸至所述運(yùn)算單元;
所述運(yùn)算單元對(duì)所述儲(chǔ)存單元傳輸?shù)乃龈缮婀庾V進(jìn)行尋峰掃描,得到在每個(gè)穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力下預(yù)設(shè)極小值處的波長(zhǎng),并將所述預(yù)設(shè)極小值處的波長(zhǎng)傳輸給所述儲(chǔ)存單元;
所述儲(chǔ)存單元還儲(chǔ)存有系數(shù)數(shù)據(jù),該系數(shù)數(shù)據(jù)包括:所述穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力組的大小變化范圍、變化步長(zhǎng)和保持恒壓的時(shí)間以及所述光學(xué)固化膠的彈性模量、泊松比、原始厚度和原始折射率,還儲(chǔ)存有計(jì)算彈光系數(shù)的遞推公式,所述儲(chǔ)存單元將所述系數(shù)數(shù)據(jù)、所述遞推公式和由所述運(yùn)算單元獲得的所述預(yù)設(shè)極小值處的波長(zhǎng)傳輸給運(yùn)算單元;
所述運(yùn)算單元根據(jù)所述儲(chǔ)存單元傳輸?shù)乃鱿禂?shù)數(shù)據(jù)和所述預(yù)設(shè)極小值處的波長(zhǎng),并根據(jù)所述儲(chǔ)存單元傳輸?shù)乃鲞f推公式:
(1)
得到每個(gè)穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力下,所述光學(xué)固化膠的彈光系數(shù),并將所述彈光系數(shù)傳輸給所述儲(chǔ)存單元;
式(1)中為在大小為的所述穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力的作用下所述光學(xué)固化膠的彈光系數(shù),m為正整數(shù),為所述穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力組中第N個(gè)穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力的大小,為所述穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力組中第N-1個(gè)穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力的大小,為在大小為的所述穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力的作用下所述預(yù)設(shè)極小值處的波長(zhǎng),為在大小為的所述穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力的作用下所述預(yù)設(shè)極小值處的波長(zhǎng)的變化量,為在大小為的所述穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力的作用下所述光學(xué)固化膠的厚度,為在大小為的所述穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力的作用下所述光學(xué)固化膠的厚度的變化量,為在大小為的所述穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力的作用下所述光學(xué)固化膠的折射率,為所述變化步長(zhǎng),應(yīng)使預(yù)設(shè)極小值處的波長(zhǎng)的變化量的最小值大于該光譜采集單元的采樣波長(zhǎng)間隔的兩倍;
所述和根據(jù)所述光學(xué)固化膠的原始厚度和彈性模量計(jì)算得到;
所述根據(jù)所述遞推公式(1)和初始條件:所述光學(xué)固化膠的原始折射率n遞推得到。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)量系統(tǒng),其特征在于,所述光信號(hào)單元包括:
光源單元和光纖耦合器;
所述光纖耦合器包括:第一接口、第二接口和第三接口;
所述光源單元通過所述第一接口與所述光纖耦合器連接;
所述光纖耦合器通過所述第二接口與所述傳導(dǎo)光纖的一端連接;
所述光學(xué)固化膠固化在所述傳導(dǎo)光纖的另一端;
所述處理單元通過所述第三接口與所述光纖耦合器連接;
所述光源單元,用于產(chǎn)生初始光信號(hào)并通過所述第一接口將所述初始光信號(hào)傳遞至所述光纖耦合器;
所述光纖耦合器,用于將由所述第一接口獲得的初始光信號(hào),通過所述第二接口傳遞至傳導(dǎo)光纖;
所述傳導(dǎo)光纖,用于將由所述第二接口獲得的初始光信號(hào)傳輸至所述光學(xué)固化膠,并將所述光學(xué)固化膠在不同穩(wěn)態(tài)壓應(yīng)力作用下反射的干涉光信號(hào)通過所述第二接口傳輸至所述光纖耦合器;
所述光纖耦合器,還用于將由所述第二接口獲得的干涉光信號(hào),通過所述第三接口傳輸至所述處理單元。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳大學(xué),未經(jīng)深圳大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711097070.3/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 測(cè)量設(shè)備、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量配件和測(cè)量方法
- 測(cè)量尺的測(cè)量組件及測(cè)量尺
- 測(cè)量輔助裝置、測(cè)量裝置和測(cè)量系統(tǒng)
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量容器、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)、測(cè)量程序以及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量電路、測(cè)量方法及測(cè)量設(shè)備
- 一種對(duì)H型鋼形位變形量的測(cè)量裝置及其測(cè)量方法
- 用于測(cè)量電容的方法
- 車距測(cè)量方法及裝置、車輛相對(duì)速度測(cè)量方法及裝置
- 一種長(zhǎng)波ASF測(cè)量方法
- 輸電桿塔基礎(chǔ)地基破裂面的簡(jiǎn)易測(cè)量方法
- 墨滴體積的校準(zhǔn)方法及其校準(zhǔn)系統(tǒng)、打印設(shè)備
- 車距測(cè)量方法及裝置、車輛相對(duì)速度測(cè)量方法及裝置
- 金屬鍍層厚度的測(cè)量方法
- 聲波測(cè)量裝置及聲波測(cè)量裝置的工作方法
- 一種鋼-混組合結(jié)構(gòu)相對(duì)滑移量測(cè)量裝置及測(cè)量方法





