[發明專利]知識節點選擇測試方法及其所應用計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 201711080201.7
• 申請日: 2017-11-06
• 公開（公告）號: CN107943853A
• 公開（公告）日: 2018-04-20
• 發明（設計）人: 平震宇
• 申請（專利權）人: 浙江三米教育科技有限公司
• 主分類號: G06F17/30
• 分類號: G06F17/30;G06Q50/20
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙)31219
• 代理人: 高彥

技術領域

本發明涉及用于知識程度檢驗的計算機系統技術領域，特別是涉及知識節點選擇測試方法及其所應用計算機設備和存儲介質。

背景技術

知識結構是由多個節點(knowledge node)構成的有向圖(directed graph)，用以描述構成一個完整知識所需掌握的所有節點，及掌握節點的先后順序。節點間箭頭的方向隱含了由基礎到復雜的知識構成順序，起點為下位節點，終點為上位節點，理解上位節點的知識須先理解下位節點的知識，換言之，上位節點的知識范圍涵蓋了其下位節點的所有知識。

如圖1所示，B指向A，則A是B的上位節點亦是B的直接上位節點；反之，B是 A的下位節點亦是A的直接下位節點。同理，D指向B，B是D的上位節點亦B的直接上位節點，由于B指向A，所以A亦是D的上位節點，反之，D亦是A的下位節點。

傳統測驗對所有受測者一視同仁，無論知識水準的高或低，每位受測者均須作答該次測驗中的所有試題。因此，傳統測驗最大缺點就是測驗時間較長，無法依據受測者實際對知識的掌握程度來減少測驗時間。

自適應系統的意義為系統會依據當前用戶的不同，自動匹配最適合的內容給用戶。自適應的概念正好可以用來解決傳統測驗的問題。

以知識結構作為基礎的自適應測驗，依照知識結構，針對每個節點設計試題，試題答對視為掌握該節點的知識，答錯視為未掌握該節點的知識，每次測試必須涵蓋該知識結構中的所有節點。由于知識結構的特性，上位涵蓋了下位的知識，因此答對某節點的試題，代表其下位節點亦答對；反之，某節點若答錯，表示其上位節點也有答錯的可能。

因此，自適應測驗發展出兩個主要的策略，一種是從最上位節點開始進行測試的上到下策略，另一種則為自最下位節點開始測試的下到上策略。兩種策略相較于傳統測驗，均可省去許多道題不需做。

請查看下表1，結合圖1的知識結構來看，受測者樣本S1到S5，從掌握全部節點到完全未掌握節點，和傳統測驗相比較，均可大幅減少所需測驗節點。而上到下策略與下到上策略兩者之間的落差，在于知識結構呈現傾向上位少、下位多的三角形，或是下位少、上位多的倒三角形，由于圖1是呈現傾向三角形的知識結構，所以上到下策略可以省去較多節點不需測試。

表1

無論是上到下策略或下到上策略，都有適合使用的受測者群體。最適合使用上到下策略的群體，是知識水準偏上的群體；反之，最適合使用下到上策略的群體，是知識水準偏下的群體。若未識別出適用的受測者群體，而采行了相反的策略，最糟的狀況，就和傳統測驗一樣所有試題全測。如表1，若受測者群體程度和S5相仿，卻采行了上到下策略，情況就是全測；反之，若受測者群體程度和S1相仿，采行下到上策略的結果一樣也是全測。

實際上，在常態分布原則下，受測者群體知識水準落在中等的范圍。回歸到自適應測驗的初衷——通過匹配在該次測驗中最符合受測者知識水準的試題，以減少受測者耗費于過低或過高于其知識水準試題的時間。顯然，前述兩種策略均無法達成。

因此，如何選取最佳適配于受測者的節點，以節省測試時間，提升測試效率，已成為業界亟待解決的技術問題。

發明內容

鑒于以上所述現有技術的缺點，本發明的目的在于提供知識節點選擇測試方法及其所應用計算機設備和存儲介質，從而解決現有技術中的問題。

為實現上述目的及其他相關目的，本發明提供一種知識節點選擇測試方法，應用于知識節點結構，所述知識節點結構包含多個節點，至少部分節點間存在上、下位關系，每個節點均關聯有知識內容、及用于測試該知識內容掌握程度的測試題；所述方法包括：設計多種類型的權重評價指數，其中，所述權重評價指數的類型包括：節點相關類型、群體受測者相關類型、及個體受測者相關類型；所述節點相關類型的權重評價指數是根據各所述節點的上和/ 或下位程度來定義的，所述群體受測者相關類型的權重評價指數是根據所述知識節點結構的受測者群體的群體測試結果樣本來定義的，所述個體受測者相關類型的權重評價指數是根據受測者的個人測試結果樣本來定義的；在受測者進行每次測試時，綜合計算所述多種權重評價指數以生成對應每一個節點的權重值；按所述權重值遞變的選點順序選擇節點并派發對應的測試題給受測者。