[發明專利]一種獲取和計算工程巖體代表性RQD值的方法有效
| 申請號: | 201711075965.7 | 申請日: | 2017-11-06 |
| 公開(公告)號: | CN107941194B | 公開(公告)日: | 2019-11-19 |
| 發明(設計)人: | 鄭俊;呂慶;唐歸;尚岳全;丁振杰 | 申請(專利權)人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | G01C1/00 | 分類號: | G01C1/00;G01C9/00;G01C17/00 |
| 代理公司: | 33212 杭州中成專利事務所有限公司 | 代理人: | 周世駿<國際申請>=<國際公布>=<進入 |
| 地址: | 310058 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 獲取 計算 工程 代表性 rqd 方法 | ||
本發明涉及工程巖體質量評價與分級領域,旨在提供一種獲取和計算工程巖體代表性RQD值的方法。該方法包括以下步驟:結構面產狀測量;結構面分組;計算各組結構面的平均產狀;現場RQD的測量;計算各條測線方向上的結構面線密度;計算各組結構面平均法向量上的結構面線密度;求代表性RQD及方向。本發明明確了最小RQD為代表性RQD,給出了根據已知幾個方向上的RQD值計算任意方向上的RQD值的方法,從而消除了當前獲取RQD方法的弊端;相比現有RQD的獲取方法,本發明只需額外測一些結構面的產狀,現場方便測得。
技術領域
本發明涉及工程巖體質量評價與分級(分類)領域,具體涉及一種獲取和計算工程巖體代表性RQD值的方法。
背景技術
巖體工程涉及范圍甚廣,主要包括水利工程、采礦工程、土木工程、石油工程、交通工程、軍事工程等。受長期地質作用,巖體本身具有復雜的幾何特性和物理力學特性,加上賦存環境復雜,造成巖體工程評價和設計多依賴經驗,難以把握。為此,依據規范的測試和試驗,建立一種基礎性巖體質量評價方法,實現工程巖體分級(分類),并根據行業要求與經驗提出支護措施,對提高巖體工程設計與施工的合理性具有重要的意義。現有的工程巖體質量評價與分級(分類)方法主要有RMR、MRMR、Q、SRM、BQ、GSI、SRMR、M-RMR、M-RMC、CCI等,這些分級方法除GSI和BQ方法外均涉及一個共同的輸入參數RQD(Rock qualitydesignation,巖石質量指標)。由此可見RQD對巖體質量評價與分級非常重要。
然而,很多工程師和研究人員意識到RQD有一大弊端——方向性,即不同方向上的RQD有不同的值。如圖1所示,沿y軸方向上的RQD最小,值為85;沿x軸或z軸方向上的RQD最大,為100。當前若利用鉆孔獲取RQD時一般都取豎直方向,若利用測線法獲得RQD值時一般都是取豎直方向或水平方向。這種做法致使針對同一工程巖體不同的人采用不同的方法得到的RQD值不一樣,有較大的盲目性,獲得RQD未必能反映出巖體的節理度,顯然不合理。針對RQD的方向性這一問題,需要探尋出一種獲取和計算工程巖體代表性RQD值的方法。
發明內容
本發明要解決的技術問題是,克服現有技術中獲取RQD值方法的不足,提供一種獲取和計算工程巖體代表性RQD值的方法。
為解決技術問題,本發明的解決方案是:
提供一種獲取和計算工程巖體代表性RQD值的方法,包括以下步驟:
(1)結構面產狀測量
測量巖石結構面的產狀,測量數據的數量應滿足結構面分組的要求;
(2)結構面分組
對結構面產狀測量數據進行結構面分組,其組數記為N;
(3)計算各組結構面的平均產狀
對于每一個結構組,分別采用式(7)計算其相應的平均產狀:
式中,i為結構面組號,δmi為第i組結構面的平均傾角,θmi為第i組結構面的平均傾向,(xri,yri,zri)是i組所有結構面的向上法向量的合向量,具體由式(8)確定:
其中,δij和θij是第i組的第j個結構面的傾角和傾向,Ni是第i組的結構面數量;
(4)現場RQD的測量
在巖石的露頭或開挖面上布設M條不同方向的測線,M≥N;測量相鄰兩個結構面與測線交點的長度lj,由式(9)計算每條測線的RQD值:
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于浙江大學,未經浙江大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711075965.7/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種薄膜太陽能電池接線盒
- 下一篇:一種車輪沖角測量系統裝置及方法





