[發(fā)明專利]一種獲取和計算工程巖體代表性RQD值的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711075965.7 | 申請日： | 2017-11-06 |
| 公開（公告）號： | CN107941194B | 公開（公告）日： | 2019-11-19 |
| 發(fā)明（設計）人： | 鄭俊;呂慶;唐歸;尚岳全;丁振杰 | 申請（專利權）人： | 浙江大學 |
| 主分類號： | G01C1/00 | 分類號： | G01C1/00;G01C9/00;G01C17/00 |
| 代理公司： | 33212 杭州中成專利事務所有限公司 | 代理人： | 周世駿<國際申請>=<國際公布>=<進入 |
| 地址： | 310058 浙江*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 獲取 計算 工程 代表性 rqd 方法 | ||
1.一種獲取和計算工程巖體代表性RQD值的方法，其特征在于，包括以下步驟：
(1)結構面產(chǎn)狀測量
測量巖石結構面的產(chǎn)狀，測量數(shù)據(jù)的數(shù)量應滿足結構面分組的要求；
(2)結構面分組
對結構面產(chǎn)狀的測量數(shù)據(jù)進行結構面分組，其組數(shù)記為N；
(3)計算各組結構面的平均產(chǎn)狀
對于每一個結構組，分別采用式(7)計算其相應的平均產(chǎn)狀：
式中，i為結構面組號，δmi為第i組結構面的平均傾角，θmi為第i組結構面的平均傾向，(xri，yri，zri)是i組所有結構面的向上法向量的合向量，具體由式(8)確定：
其中，δij和θij是第i組的第j個結構面的傾角和傾向，Ni是第i組的結構面數(shù)量；
(4)現(xiàn)場RQD的測量
在巖石的露頭或開挖面上布設M條不同方向的測線，M≥N；測量相鄰兩個結構面與測線交點的長度lj，由式(9)計算每條測線的RQD值：
其中，l′j為長度大于0.1m的lj，L為測線的總長度；J為長度大于0.1m的lj的總數(shù)量；
同時，用羅盤測量每條測線的傾伏角與傾伏向；
(5)計算各條測線方向上的結構面線密度
將步驟(4)中計算得到的各條測線方向上的RQD值代入式(1)中，即可求出其相應的結構面線密度λ：
RQD＝100e-0.1λ(0.1λ+1) (1)
(6)計算各組結構面平均法向量上的結構面線密度
將步驟(5)中得到的各條測線方向上的結構面線密度λ代入式(6)中，得到由M個式子構成的方程組：
其中，N為結構面組的個數(shù)；E(·)為函數(shù)的期望，λmi是沿結構面組平均法向量方向上的結構面線密度，ni是結構面法向量，nmi為結構面組的平均法向量方向；
若M＝N，則直接解出N組結構面組的平均法向量上的線密度；若M＞N，則利用最小二次誤差法解出N組結構面組的平均法向量上的線密度；
(7)求代表性RQD及方向
將得到的結構面線密度再代入式(1)中，則得到每條測線上的RQD值；找出其中最小的RQD值即為代表性RQD值，其對應(α，β)即為代表性RQD方向。
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