[發明專利]彈片檢測設備有效
| 申請號： | 201711074864.8 | 申請日： | 2017-11-06 |
| 公開（公告）號： | CN107883995B | 公開（公告）日： | 2023-09-12 |
| 發明（設計）人： | 潘桂斌 | 申請（專利權）人： | 蘇州斯普蘭蒂科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01D21/00 | 分類號： | G01D21/00;G01B7/00 |
| 代理公司： | 蘇州佳捷天誠知識產權代理事務所(普通合伙) 32516 | 代理人： | 石俊飛 |
| 地址： | 215000 江蘇省蘇州市吳江經濟技術開發區*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 彈片 檢測 設備 | ||
1.彈片檢測設備，包括機臺(1)和安裝在機臺上的升降臺(7)，
其特征在于：
還包括設置在升降臺(7)上的導柱(6)，所述導柱(6)可設置壓力值，
設置在機臺(1)的導通測試機(4)，
與導通測試機(4)相連的放置在機臺(1)的PCB板(5)，所述PCB板(5)設置有金屬片(2)、第一金屬環片(2a)和第二金屬環片(2b)，金屬片(2)、第一金屬環片(2a)和第二金屬環片(2b)為同一圓心，金屬片(2)的半徑小于第一金屬環片(2a)的最小半徑，第一金屬環片(2a)的最大半徑小于第二金屬環片(2b)的最小半徑，PCB板(5)兩端設置有定位點(14)，
導柱(6)下壓彈片，當彈片與金屬片(2)和第一金屬環片(2a)接觸且不與第二金屬環片(2b)接觸時，導通測試機(4)檢測到金屬片(2)和第一金屬環片(2a)導通且第二金屬環片(2b)不導通，
導柱(6)下壓彈片，當彈片與第二金屬環片(2b)接觸時，導通測試機(4)檢測到金屬片(2)和第二金屬環片(2b)導通或者第一金屬環片(2a)和第二金屬環片(2b)導通，
導柱(6)下壓彈片，當彈片與金屬片(2)、第一金屬環片(2a)和第二金屬環片(2b)都不接觸時，導通測試機(4)檢測到金屬片(2)、第一金屬環片(2a)和第二金屬環片(2b)兩兩都不導通。
2.如權利要求1所述的彈片檢測設備，其特征在于：所述導通測試機(4)還包括提醒裝置(13)。
3.如權利要求1所述的彈片檢測設備，其特征在于：所述導通測試機(4)包括顯示屏(12)。
4.如權利要求1所述的彈片檢測設備，其特征在于：所述PCB板(5)一端中間位置設置有凹口(15)。
5.如權利要求1所述的彈片檢測設備，其特征在于：所述機臺(1)設置第一啟動按鈕(9)和第二啟動按鈕(10)，第一啟動按鈕(9)和第二啟動按鈕(10)串聯控制升降臺(7)，第一啟動按鈕(9)和第二啟動按鈕(10)位于PCB板(5)兩側。
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