[發明專利]探針組件及其榫接式電容探針

在審

• 申請號: 201711074633.7
• 申請日: 2017-11-03
• 公開（公告）號: CN109752573A
• 公開（公告）日: 2019-05-14
• 發明（設計）人: 謝智鵬;蘇偉志
• 申請（專利權）人: 中華精測科技股份有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 聶慧荃;鄭特強

1.一種榫接式電容探針，其特征在于，所述榫接式電容探針包括：

一探針結構，所述探針結構具有一探針本體以及一設置在所述探針本體上的第一卡接部；

一導電結構，所述導電結構設置在所述探針結構的一側，所述導電結構具有一對應于所述第一卡接部的第二卡接部，且所述導電結構通過所述第二卡接部而設置在所述探針結構的所述第一卡接部上；以及

一介電結構，所述介電結構設置在所述探針結構與所述導電結構之間。

2.如權利要求1所述的榫接式電容探針，其特征在于，所述探針結構具有一對應于所述介電結構的裸露部，且所述探針結構通過所述裸露部而電性連接于所述導電結構，其中，所述介電結構具有一與所述探針結構相互接觸的第一表面以及一與所述導電結構相互接觸的第二表面。

3.如權利要求1所述的榫接式電容探針，其特征在于，所述探針結構與所述導電結構彼此電性絕緣，且所述介電結構具有一與所述探針結構相互接觸的第一表面以及一與所述導電結構相互接觸的第二表面。

4.如權利要求1所述的榫接式電容探針，其特征在于，所述介電結構設置在所述探針結構的所述第一卡接部與所述導電結構的所述第二卡接部之間。

5.如權利要求1所述的榫接式電容探針，其特征在于，所述探針結構的電阻率小于5x102Ωm。

6.如權利要求1所述的榫接式電容探針，其特征在于，所述導電結構的電阻率小于5x102Ωm。

7.如權利要求1所述的榫接式電容探針，其特征在于，所述介電結構的電阻率大于或等于108Ωm。

8.一種探針組件，其特征在于，所述探針組件包括：

一轉接載板，所述轉接載板具有多個容置槽；

一探針承載座，所述探針承載座設置在所述轉接載板上；以及

多個榫接式電容探針，多個所述榫接式電容探針設置在所述承載座上，且多個所述榫接式電容探針分別設置在多個所述容置槽之中，其中，每一個所述榫接式電容探針包括一探針結構、一導電結構以及一介電結構；

其中，所述探針結構具有一探針本體以及一設置在所述探針本體上的第一卡接部，所述導電結構設置在所述探針結構的一側，所述導電結構具有一對應于所述第一卡接部的第二卡接部，且所述導電結構通過所述第二卡接部而設置在所述探針結構的所述第一卡接部上，所述介電結構設置在所述探針結構的所述第一卡接部與所述導電結構的所述第二卡接部之間。

9.如權利要求8所述的探針組件，其特征在于，所述探針結構具有一對應于所述介電結構的裸露部，且所述探針結構通過所述裸露部而電性連接于所述導電結構，其中，所述介電結構具有一與所述探針結構相互接觸的第一表面以及一與所述導電結構相互接觸的第二表面。

10.如權利要求8所述的探針組件，其特征在于，所述探針結構與所述導電結構彼此電性絕緣，且所述介電結構具有一與所述探針結構相互接觸的第一表面以及一與所述導電結構相互接觸的第二表面。