[發明專利]一種處理盒的顯影檢測方法及處理盒

有效

• 申請號: 201711065278.7
• 申請日: 2017-11-02
• 公開（公告）號: CN108073063B
• 公開（公告）日: 2022-03-18
• 發明（設計）人: 劉金蓮;黃萬紅;容學宇
• 申請（專利權）人: 納思達股份有限公司
• 主分類號: G03G21/18
• 分類號: G03G21/18
• 代理公司: 北京匯思誠業知識產權代理有限公司 11444
• 代理人: 王剛;龔敏

本發明涉及一種處理盒的顯影檢測方法及處理盒，該處理盒可拆卸地安裝在電子成像裝置中，電子成像裝置包括發光元件和受光元件，所述處理盒包括第一透光元件和第二透光元件，所述電子成像裝置通過發光元件發出檢測光至處理盒的第一透光元件并將檢測光反射至第二透光元件，所述第二透光元件將檢測光引導至所述電子成像裝置的受光元件中，當受光元件沒有接收到檢測光或接收到的檢測光的光強度或光照時間低于預設值時，所述電子成像裝置識別所述處理盒，所述處理盒可與電子成像裝置進行顯影工作。

技術領域

本發明涉及一種處理盒的檢測方法及處理盒。

背景技術

在現有技術中，處理盒可拆卸地安裝在電子成像裝置上。該電子成像裝置內設有輸出旋轉驅動力的驅動頭。處理盒一般包括有接收旋轉力的驅動組件、顯影單元、顯影劑、控粉單元以及容納上述單元的殼體，另外根據不同種類的處理盒結構，還額外地設置有感光單元、充電單元、清潔單元以及攪拌單元等。該處理盒的驅動組件沿顯影單元或感光單元的軸向設置在處理盒的一端，通過該驅動組件與電子成像裝置中的驅動頭相互嚙合后進而將旋轉的驅動力傳遞至處理盒中，最后驅動處理盒內部的旋轉單元(如顯影單元、感光單元、攪拌單元等)轉動，參與電子成像裝置的顯影作業(即常說的“打印”)。

隨著處理盒在電子成像裝置中的顯影作業，處理盒內的顯影劑也隨之被消耗，因此，為檢測出處理盒內的顯影劑的余量，需通過電子成像裝置內的檢測機構對處理盒內的顯影劑進行余量檢測。

如圖1所示，為處理盒b的側面剖視圖，處理盒b的顯影倉b100的顯影劑容納腔b150內收容有顯影劑，顯影倉b100的上表面設置有上透光元件b1a及入射表面b1a1，顯影倉b100的底表面設置有下透光元件b2a及出射表面b2a1，上透光元件b1a和下透光元件b2a在顯影倉b100的高度上對應設置。電子成像裝置中設有與入射表面b1a1對應的發光元件LS101(如發光二級管(LED)的發光部)，與出射表面b2a1對應的受光元件LS102。在處理盒b安裝在電子成像裝置時，發光元件LS101通過發射出檢測光至上透光元件b1a的入射表面b1a1并引導至反射面后將檢測光進行反射至與之對應處于顯影倉b100底部的下透光元件b2a，最后經過反射將檢測光從出射表面b2a1向外輸出并被受光元件LS102進行接收。這里，電子成像裝置內還設有連接發光元件LS101和受光元件LS102的檢測裝置，檢測裝置將對受光元件LS102接收到的檢測光進行檢測判斷，若檢測光的光強度或光照時間達不到預設值，則判斷處理盒b還剩余有顯影劑；若檢測光的光強度或光照時間達到預設值，則判斷處理盒b中的顯影劑已經消耗完畢并提示使用者補充顯影劑或更換處理盒。

然而，目前已有使用兩組光檢測件(兩對發光元件和受光元件)對處理盒進行檢測以確定使用者安裝的處理盒是否為該預設目標處理盒的新型的電子成像裝置，僅有一組透光元件(上透光元件和下透光元件)的現有處理盒已經不能適應在該新型的電子成像裝置上。

發明內容

本發明提供一種處理盒的顯影檢測方法及處理盒，實現與設有兩組光檢測件的電子成像裝置進行匹配適用；處理盒內部沒有裝載有顯影劑的情況下可以對處理盒進行顯影檢測。

為了解決以上的技術問題，本發明采取的技術方案是：

一種處理盒的顯影檢測方法，該處理盒可拆卸地安裝在電子成像裝置中，電子成像裝置包括發光元件和受光元件，所述處理盒包括第一透光元件和第二透光元件，其特征在于：

所述電子成像裝置通過發光元件發出檢測光至處理盒的第一透光元件，第一透光元件再將檢測光反射至第二透光元件，所述第二透光元件將檢測光引導至所述電子成像裝置的受光元件中，當受光元件沒有接收到檢測光或接收到的檢測光的光強度或光照時間低于預設值時，所述電子成像裝置識別所述處理盒，所述處理盒可與電子成像裝置進行顯影工作；

所述處理盒的顯影檢測方法包括如下步驟：

A.對所述處理盒的顯影單元表面進行涂覆顯影劑；