[發(fā)明專利]一種氮化鎵基紅光外延片結(jié)構(gòu)及制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711052308.0 | 申請日: | 2017-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN107845710B | 公開(公告)日: | 2019-08-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 姜紅苓;鐘玉煌;田淑芬 | 申請(專利權(quán))人: | 江蘇新廣聯(lián)半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/06 | 分類號: | H01L33/06;H01L33/32;H01L33/00 |
| 代理公司: | 無錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 曹祖良 |
| 地址: | 214192 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 氮化 紅光 外延 結(jié)構(gòu) 制備 方法 | ||
本發(fā)明提供一種氮化鎵基紅光外延片結(jié)構(gòu)及制備方法,包括藍寶石襯底、緩沖層、N型層、有源區(qū)發(fā)光層和P型層,在藍寶石襯底上依次覆蓋有緩沖層、N型層、有源區(qū)發(fā)光層和P型層,其特征在于:所述有源區(qū)發(fā)光層包含若干對MQW阱層和壘層,且MQW阱層和壘層分別為InyGa1?yN量子阱阱層和GaN壘層,其中,y的范圍為0.1~0.3;本發(fā)明是以GaN基結(jié)構(gòu)來生長紅光外延片,其結(jié)構(gòu)簡單、原材料安全、工藝容易實現(xiàn),安全可靠,有利于降低對人體的傷害和環(huán)境的污染。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種紅光外延片結(jié)構(gòu)及制備方法,尤其是一種以GaN基生長結(jié)構(gòu)生長紅光外延片及制備方法,屬于半導(dǎo)體外延結(jié)構(gòu)的技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
20世紀(jì)90年代初,隨著紅、橙 、黃色AlGaInP高亮度LED的產(chǎn)業(yè)化,揭開了LED發(fā)展的新篇章。A1GaInP紅光LED具有電流承受力強、發(fā)光效率高以及耐高溫等優(yōu)點,在照明、顯示、指示燈中的應(yīng)用具有不可替代的地位,廣泛應(yīng)用于汽車、電子等照明的各個領(lǐng)域。
磷化鎵紅光外延片是目前制造紅色LED發(fā)光二極管的核心基礎(chǔ)材料,而普通紅光LED的用量是目前所有LED中最大的一種,約占LED總產(chǎn)量的40~50%。近幾年政府和相關(guān)研究機構(gòu)高度重視LED外延生長和芯片制造技術(shù)的開發(fā),投入了大量資金和人力加以研究,其發(fā)展速度和技術(shù)成熟度較高。然而,由于生長紅光外延片的主要原材料包含As和P成份等劇毒物質(zhì),生長過程及后期維護中不可避免地對人體及環(huán)境產(chǎn)生一定的危害。
目前,使用GaN基生長的外延片,雖然無毒無污染,但是現(xiàn)有工藝方法使用GaN基生長的外延片只能達到藍綠光的波段,無法實現(xiàn)紅光顯示,因此,尋找無毒無污染或較小污染的生長紅光LED的方法已成為迫切需要解決的技術(shù)難題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中的缺點,提供一種以GaN基結(jié)構(gòu)生長紅光外延片及制備方法,該紅光外延片是以GaN基結(jié)構(gòu)來生長紅光外延片,其結(jié)構(gòu)簡單、原材料安全、工藝方便安全可靠,不僅降低了對人體的傷害和環(huán)境的污染,而且實現(xiàn)了紅光顯示。
為實現(xiàn)以上技術(shù)目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:一種氮化鎵基紅光外延片結(jié)構(gòu),包括藍寶石襯底、緩沖層、N型層、有源區(qū)發(fā)光層和P型層,在藍寶石襯底上依次覆蓋有緩沖層、N型層、有源區(qū)發(fā)光層和P型層,其特征在于:所述有源區(qū)發(fā)光層包含若干對MQW阱層和MQW壘層,且MQW阱層和MQW壘層分別為InyGa-yN量子阱阱層和GaN壘層,其中,y的范圍為0.1~0.3。
、根據(jù)權(quán)利要求所述的一種氮化鎵基紅光外延片結(jié)構(gòu),其特征在于,有源區(qū)發(fā)光層中包含5~10對交替分布的InyGa1-yN/GaN。
進一步地,在每對MQW阱層和MQW壘層中,InyGa1-yN量子阱阱層的厚度為2~7nm。
進一步地,在每對MQW阱層和MQW壘層中,GaN壘層的厚度為6~18nm。
進一步地,在每對MQW阱層和MQW壘層中,GaN壘層中摻雜雜質(zhì)為Si元素,且摻雜Si的濃度為5E+16~6E+17atoms/cm3。
進一步地,根據(jù)公式
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