[發明專利]硬盤冷數據校驗方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 201711049651.X
• 申請日: 2017-10-31
• 公開（公告）號: CN107818025B
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 王志浩
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/07
• 分類號: G06F11/07;G06F11/30
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

本發明公開了一種硬盤冷數據校驗的方法，包括，實時獲取硬盤底板上各個區域的溫度參數；判斷在第一預設時間周期內，各個所述區域中是否存在溫度參數大于預設溫度閾值的區域，如果是，則對溫度參數大于預設溫度閾值的所述區域的數據進行校驗；對在第二預設時間周期內，未被校驗和恢復各個區域的數據進行校驗；其中，所述第一預設時間周期的時長小于所述第二預設時間周期的時長。本發明避免了由于溫度過高導致數據發生錯誤而未及時對錯誤數據進行校驗，并最終導致數據完全不可恢復的問題，提高了數據的安全可靠性。本發明中還公開了一種硬盤冷數據校驗的裝置、設備及計算機可讀存儲介質，具有上述有益效果。

技術領域

本發明涉及存儲技術領域，特別是涉及一種硬盤冷數據校驗方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質。

背景技術

Cold storage （冷數據）存放的是不常用的數據，例如各類電商網站存儲的各種不常使用的歷史訂單數據等，一般采用的是大量底端商品化硬盤組成冗余硬盤陣列，保證了對歷史數據存取的速度和容量要求。但是大量的低端商品化硬盤存在不可避免的位衰減問題，位衰減是指存儲在存儲介質中的數據的性能和完整性的緩慢惡化。硬盤完全閑置或者過度磨損、灰塵等污染物、背景輻射以及高熱等會提高位衰減的發生率。

目前，為了避免位衰減導致存儲介質中的數據的性能和完整性惡化，主要采用的方式是周期性的對所有數據進行校驗，以恢復數據的正確性，保證數據的性能和完整性。但是這種校驗方式存在數據校驗不及時的問題，可能導致某些數據永久性丟失。

發明內容

本發明的目的是提供一種硬盤冷數據校驗方法，解決了對數據校驗不及時導致數據永久性丟失的問題，提高了數據存儲的可靠性。

本發明的另一目的是提供一種硬盤冷數據校驗裝置、設備及計算機可讀存儲介質。

為解決上述技術問題，本發明提供一種硬盤冷數據校驗的方法，其特征在于，包括：

實時獲取硬盤底板上各個區域的溫度參數；判斷在第一預設時間周期內，各個所述區域中是否存在溫度參數大于預設溫度閾值的區域，如果是，則對溫度參數大于預設溫度閾值的所述區域的數據進行校驗；對在第二預設時間周期內，未被校驗和恢復各個區域的數據進行校驗；其中，所述第一預設時間周期的時長小于所述第二預設時間周期的時長。

其中，所述對溫度參數大于預設溫度閾值的所述區域的數據進行校驗包括：

判斷所述區域的數據是否存在錯誤數據，如果是，則在所述硬盤上的數據中獲取與所述錯誤數據的位于同一條帶的數據，并根據與所述錯誤數據的位于同一條帶的數據對所述錯誤數據進行數據恢復。

其中，在對溫度參數大于預設溫度閾值的所述區域的數據進行校驗之后，還包括：

判斷在第一預設時間周期內，溫度參數大于預設溫度閾值的所述區域的數量是否超過預設數量，如果是，則減小所述第一預設時間周期時長。

其中，還包括：

接收處理IO業務完成的信息，判斷完成所述IO業務的區域在第三預設時間段內是否進行過數據校驗，如果否，則對所述區域的數據進行校驗和恢復。

其中，還包括：

輸出第一預設時間周期、第二預設時間周期以及第三預設時間段的時長、預設溫度閾值和預設數量閾值等參數；

和/或者接收第一預設時間周期、第二預設時間周期以及第三預設時間段的時長、預設溫度閾值和預設數量閾值等參數。

本發明還提供一種硬盤冷數據校驗的裝置，包括：

獲取模塊，用于實時獲取硬盤底板上各個區域的溫度參數；

判斷模塊，用于判斷在第一預設時間周期內，各個所述區域中是否存在溫度參數大于預設溫度閾值的區域；