[發明專利]硬盤冷數據校驗方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 201711049651.X
• 申請日: 2017-10-31
• 公開（公告）號: CN107818025B
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 王志浩
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/07
• 分類號: G06F11/07;G06F11/30
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

1.一種硬盤冷數據校驗方法，其特征在于，包括：

實時獲取硬盤底板上各個區域的溫度參數；

判斷在第一預設時間周期內，各個所述區域中是否存在溫度參數大于預設溫度閾值的區域，如果是，則對溫度參數大于預設溫度閾值的所述區域的數據進行校驗；

對在第二預設時間周期內，未被校驗和恢復各個區域的數據進行校驗；

其中，所述第一預設時間周期的時長小于所述第二預設時間周期的時長；

還包括：

接收處理IO業務完成的信息，判斷完成所述IO業務的區域在第三預設時間段內是否進行過數據校驗，如果否，則對所述區域的數據進行校驗和恢復；其中所述第三預設時間段小于所述第一預設周期的時長。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對溫度參數大于預設溫度閾值的所述區域的數據進行校驗包括：

判斷所述區域的數據是否存在錯誤數據，如果是，則在所述硬盤上的數據中獲取與所述錯誤數據的位于同一條帶的數據，并根據與所述錯誤數據的位于同一條帶的數據對所述錯誤數據進行數據恢復。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在對溫度參數大于預設溫度閾值的所述區域的數據進行校驗之后，還包括：

判斷在第一預設時間周期內，溫度參數大于預設溫度閾值的所述區域的數量是否超過預設數量，如果是，則減小所述第一預設時間周期時長。

4.根據權利要求1至3任一項所述的方法，其特征在于，還包括：

輸出第一預設時間周期、第二預設時間周期以及第三預設時間段的時長、預設溫度閾值和預設數量閾值；

和/或者接收第一預設時間周期、第二預設時間周期以及第三預設時間段的時長、預設溫度閾值和預設數量閾值。

5.一種硬盤冷數據校驗裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于實時獲取硬盤底板上各個區域的溫度參數；

判斷模塊，用于判斷在第一預設時間周期內，各個所述區域中是否存在溫度參數大于預設溫度閾值的區域；

校驗模塊，用于如果在第一預設時間周期內，各個所述區域中存在溫度參數大于預設溫度閾值的區域，則對溫度參數大于預設溫度閾值的所述區域的數據進行校驗；對在第二預設時間周期內，未被校驗和恢復各個區域的數據進行校驗；

所述判斷模塊還用于：

接收處理IO業務完成的信息，判斷完成所述IO業務的區域在第三預設時間段內是否進行過數據校驗，如果否，則對所述區域的數據進行校驗；其中所述第三預設時間段小于所述第一預設周期的時長。

6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述判斷模塊還用于：

在對溫度參數大于預設溫度閾值的所述區域的數據進行校驗之后，判斷在第一預設時間周期內，溫度參數大于預設溫度閾值的所述區域的數量是否超過預設數量，如果是，則減小所述第一預設時間周期時長。

7.一種硬盤冷數據校驗設備，其特征在于，包括：

存儲器，用于存儲硬盤冷數據校驗程序；

處理器，用于執行所述硬盤冷數據校驗程序時實現如權利要求1-4任一項所述硬盤冷數據校驗方法的步驟。

8.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有硬盤冷數據校驗程序，所述硬盤冷數據校驗程序被處理器執行時實現如權利要求1-4任一項所述硬盤冷數據校驗方法的步驟。