[發明專利]一種陣列基板、測試方法及顯示裝置

在審

• 申請號: 201711048840.5
• 申請日: 2017-10-31
• 公開（公告）號: CN107578735A
• 公開（公告）日: 2018-01-12
• 發明（設計）人: 戴榮磊
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司44202
• 代理人: 郝傳鑫,熊永強

技術領域

本發明涉及測試設備領域，尤其涉及一種陣列基板、測試方法及顯示裝置。

背景技術

隨著液晶顯示器(Liquid Crystal Display，LCD)的不斷發展，它被廣泛用于電子產品的顯示設備，如手機、數碼相機、電視、電腦等。隨著人們對LCD顯示效果的要求提高，LCD的窄邊框設計成為研究熱點。窄邊框的LCD可以有效降低拼接屏中拼接縫的寬度，顯著提高圖像顯示的有效面積從而提高整體的顯示效果，有利于提高觀看者的沉浸感。

在液晶顯示器制作過程中，由于陣列基板制程復雜導致產品良率不高。為了提高成盒后的產品良率，在陣列基板制作完成后，需要進行基板上顯示元件以及線路的測試(Array Test)，基板測試的結果對于后期的維修至關重要。一般地，用于基板測試的測試電路位于邊框處，對實現窄邊框提出了挑戰。因此，如何在保證基板測試性能的情況下達到窄邊框的效果是目前亟需解決的問題。

發明內容

本發明實施例提供一種能夠保證基板測試性能的情況下達到窄邊框的效果的陣列基板。

進一步，提供一種包括前述陣列基板的顯示裝置。

進一步，提供一種前述陣列基板的測試方法。

本發明實施例第一方面提供一種陣列基板，陣列基板包括顯示區和位于顯示區邊緣的非顯示區，顯示區包括呈矩陣排列的多個用于圖像顯示的像素單元以及連接像素單元的多條數據線，數據線用于提供數據信號至像素單元并沿第一方向延伸設置，非顯示區包括測試電路。該測試電路包括：測試切換控制端，用于輸入測試切換控制信號，第一測試控制端，用于輸入低電平信號，第一數量的第二測試控制端，用于輸入測試信號。開關單元，包括第一數量且沿第一方向并列設置的第一開關元件，第一開關元件連接測試切換控制端和第一測試控制端，開關單元依據測試切換控制信號控制陣列基板處于非測試狀態。沿與第一方向垂直的第二方向并列設置的多個測試單元，每個測試單元連接開關單元、第一數量的第二測試控制端，以及分別連接第一數量對應的數據線，所述開關單元依據所述測試切換控制信號控制所述陣列基板處于測試狀態時，測試單元依據測試信號測試對應的數據線以及像素單元電氣特性。

本發明實施例第二方面提供一種測試方法，用于測試陣列基板中的像素陣列，陣列基板包括顯示區和位于顯示區邊緣的非顯示區，顯示區包括呈矩陣排列的多個用于圖像顯示的像素單元以及連接像素單元的多條數據線，數據線用于提供數據信號至像素單元，非顯示區包括測試電路，測試電路包括測試切換控制端、第一測試控制端、第一數量的第二測試控制端、開關單元，多個測試單元，其中，開關單元包括第一數量且沿第一方向并列設置的第一開關元件，第一開關元件包括第一控制端，第一導電端與第二導電端，多個測試單元沿與第一方向垂直的第二方向并列設置，每個測試單元包括電壓輸入接口和第一數量的第二開關元件，且第一開關元件與第二開關元件一一對應，第二開關元件包括第二控制端，第三導電端與第四導電端，該方法包括：在非測試階段，控制第一數量的第一開關元件導通，并控制第一測試控制端輸入的低電平信號通過導通的第一數量的第一開關元件傳輸至對應的第二開關元件，以使第二開關元件截止，以切斷測試電路與多條數據線之間的連接。在測試階段，控制第一數量的第一開關元件截止，并控制測試單元依據第一數量的第二測試控制端輸入的測試信號測試對應的數據線以及像素單元電氣特性。

本發明實施例第三方面提供一種顯示裝置，該顯示裝置包括上述第一方面的陣列基板。

相較于現有技術，通過將第一數量的第一開關元件沿第一方向并列設置，并將多個測試單元沿與第一方向垂直的第二方向并列設置，可以有效減少測試電路在第一方向上所占的空間，進而在保證基板測試性能的情況下達到窄邊框的效果。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發明實施例提供的一種顯示裝置的結構示意圖；

圖2是如圖1所示顯示裝置中的陣列基板的結構示意圖；

圖3是陣列基板的測試電路示意圖；

圖4是如圖3所示測試電路的控制時序圖；

圖5是本發明實施例提供的陣列基板的測試方法流程示意圖。

具體實施方式