[發明專利]一種陣列基板、測試方法及顯示裝置

在審

• 申請號: 201711048840.5
• 申請日: 2017-10-31
• 公開（公告）號: CN107578735A
• 公開（公告）日: 2018-01-12
• 發明（設計）人: 戴榮磊
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司44202
• 代理人: 郝傳鑫,熊永強

1.一種陣列基板，所述陣列基板包括顯示區和位于所述顯示區邊緣的非顯示區，所述顯示區包括呈矩陣排列的多個用于圖像顯示的像素單元以及連接所述像素單元的多條數據線，所述數據線用于提供數據信號至所述像素單元并沿第一方向延伸設置，所述非顯示區包括測試電路，其特征在于，所述測試電路包括：

測試切換控制端，用于輸入測試切換控制信號，第一測試控制端，用于輸入低電平信號，第一數量的第二測試控制端，用于輸入測試信號；

開關單元，包括所述第一數量且沿所述第一方向并列設置的第一開關元件，所述第一開關元件連接所述測試切換控制端和所述第一測試控制端，所述開關單元依據所述測試切換控制信號控制所述陣列基板處于非測試狀態；

沿與所述第一方向垂直的第二方向并列設置的多個測試單元，每個測試單元連接所述開關單元、所述第二測試控制端，以及分別連接所述第一數量對應的所述數據線，所述開關單元依據所述測試切換控制信號控制所述陣列基板處于測試狀態時，所述測試單元依據所述測試信號測試對應的數據線以及像素單元電氣特性。

2.根據權利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述第一開關元件包括第一控制端，第一導電端與第二導電端，其中，所述第一數量的第一開關元件的所述第一導電端連接所述第一測試控制端，所述第一數量的第一開關元件的所述第一控制端連接所述測試切換控制端，所述第一數量的第一開關元件的所述第二導電端連接所述測試單元；

所述每個測試單元包括電壓輸入接口和所述第一數量的第二開關元件，且所述第一開關元件與所述第二開關元件一一對應，所述第二開關元件包括第二控制端，第三導電端與第四導電端，其中，所述第二開關元件的所述第二控制端連接所述第一開關元件的第二導電端和所述第二測試控制端，所述第二開關元件的所述第三導電端連接所述電壓輸入接口，所述第二開關元件的所述第四導電端連接所述數據線。

3.根據權利要求2所述的陣列基板，其特征在于，在測試階段，所述測試切換控制端輸入測試切換控制信號，與所述測試切換控制端相連接的所述第一開關元件的所述第一控制端接收所述測試切換控制信號，所述測試切換控制信號為低電平信號，所述低電平信號用于控制所述第一開關元件截止；

所述第一數量的第二測試控制端輸入測試信號，與所述第一數量的第二測試控制端相連接的所述第一數量的第二開關元件的所述第二控制端接收所述測試信號，所述測試信號用于控制所述第一數量的第二開關元件分時導通；

所述電壓輸入接口輸入電壓信號，與所述電壓輸入接口相連接的所述第二開關元件的所述第三導電端接收所述電壓信號，所述電壓信號通過導通的所述第二開關元件傳輸至對應的數據線。

4.根據權利要求2所述的陣列基板，其特征在于，所述第一測試控制端輸入低電平信號，所述低電平信號用于在所述第一測試控制端連接的所述第一開關元件導通的情況下，控制所述第一開關元件對應的所述第二開關元件截止。

5.根據權利要求4所述的陣列基板，其特征在于，在非測試階段，所述測試切換控制端輸入測試切換控制信號，與所述測試切換控制端相連接的所述第一開關元件的所述第一控制端接收所述測試切換控制信號，所述測試切換控制信號為高電平信號，所述高電平信號用于控制所述第一開關元件導通；

所述第一測試控制端輸入的所述低電平信號通過導通的所述第一開關元件傳輸至對應的所述第二開關元件，所述第二開關元件的所述第二控制端接收所述低電平信號，所述低電平信號控制所述第二開關元件截止，以斷開所述測試電路與所述多條數據線之間的連接。