[發(fā)明專利]點(diǎn)膠高度的調(diào)節(jié)方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711037235.8 | 申請日: | 2017-10-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107597516B | 公開(公告)日: | 2020-02-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 向軍軍;易丹;周子寒 | 申請(專利權(quán))人: | 東莞華貝電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | B05C11/10 | 分類號(hào): | B05C11/10 |
| 代理公司: | 31283 上海弼興律師事務(wù)所 | 代理人: | 薛琦;羅朗 |
| 地址: | 523808 廣東省東莞*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 高度 調(diào)節(jié) 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明公開了一種點(diǎn)膠高度的調(diào)節(jié)方法及系統(tǒng),所述調(diào)節(jié)方法包括:采集工件的點(diǎn)膠面上多個(gè)目標(biāo)點(diǎn)膠點(diǎn)的相對高度值,所述相對高度值為目標(biāo)點(diǎn)膠點(diǎn)與參考點(diǎn)膠點(diǎn)之間的相對高度差值;計(jì)算每個(gè)目標(biāo)點(diǎn)膠點(diǎn)的實(shí)際點(diǎn)膠高度值,所述實(shí)際點(diǎn)膠高度值為所述目標(biāo)點(diǎn)膠點(diǎn)的相對高度值與所述參考點(diǎn)膠點(diǎn)的理論點(diǎn)膠高度值之和;根據(jù)所述實(shí)際點(diǎn)膠高度值自動(dòng)調(diào)節(jié)每個(gè)目標(biāo)點(diǎn)膠點(diǎn)的點(diǎn)膠高度。本發(fā)明通過采集工件的點(diǎn)膠面上的多個(gè)目標(biāo)點(diǎn)膠點(diǎn)的相對高度值,結(jié)合參考點(diǎn)膠點(diǎn)的理論點(diǎn)膠高度值來獲得每個(gè)所述目標(biāo)點(diǎn)膠點(diǎn)對應(yīng)的實(shí)際點(diǎn)膠高度值,進(jìn)而根據(jù)實(shí)際點(diǎn)膠高度值對工件的點(diǎn)膠面上的每個(gè)目標(biāo)點(diǎn)膠點(diǎn)分別進(jìn)行點(diǎn)膠高度的調(diào)節(jié),從而實(shí)現(xiàn)自動(dòng)調(diào)整工件的點(diǎn)膠面的點(diǎn)膠高度的目的。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及點(diǎn)膠技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種點(diǎn)膠高度的調(diào)節(jié)方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
隨著技術(shù)的快速發(fā)展及用戶對產(chǎn)品的使用要求的提高,通訊類電子產(chǎn)品的邊框做的越來越窄。由于邊框太窄,采用傳統(tǒng)泡棉膠粘接已經(jīng)不能滿足COVER LENS(玻璃屏)與前殼粘接的可靠性,容易出現(xiàn)COVER LENS拉拔力無法通過可靠性測試,COVER LENS發(fā)生起翹的情況,甚至在用戶正常使用產(chǎn)品過程中發(fā)生起翹的情況。為了提高COVER LENS與前殼之間的粘接強(qiáng)度,前殼與COVER LENS的粘接會(huì)越來越多的是采用點(diǎn)膠工藝,點(diǎn)膠工藝控制好,可以保證兩者之間的粘接強(qiáng)度,因此,在這種窄邊框背景下,點(diǎn)膠工藝顯得尤為重要。
點(diǎn)膠工藝的主要影響因素有:膠水加熱溫度、點(diǎn)膠針頭大小、點(diǎn)膠出膠壓力、針頭高度等。點(diǎn)膠工藝的好壞直接體現(xiàn)在膠量的均勻性上,膠量的不均勻性表現(xiàn)在局部多膠或者斷膠,多膠導(dǎo)致溢膠所需的空間加大,容易導(dǎo)致外觀溢膠從而導(dǎo)致外觀不良等問題;斷膠會(huì)導(dǎo)致粘接強(qiáng)度下降,拉拔力偏小,可靠性差等問題。而膠量均勻性最關(guān)鍵的影響因素為針頭出膠口和工件的點(diǎn)膠面之間的距離。如圖1所示,圖中h1表示針頭出膠口和理想點(diǎn)膠工件的點(diǎn)膠面之間的理論距離。可見,理論點(diǎn)膠工件的點(diǎn)膠面上各個(gè)點(diǎn)膠點(diǎn)與針頭出膠口之間的距離都是相同的。而現(xiàn)有的實(shí)際操作過程中,由于工件點(diǎn)膠面的平面度往往很難保證,尤其是大尺寸的產(chǎn)品,平面度較差,例如7寸iPad(平板電腦)的全塑膠前殼平面度只能控制在0.5mm以內(nèi),和點(diǎn)膠高度相當(dāng)。如圖2所示,圖中h2表示針頭出膠口和實(shí)際點(diǎn)膠工件的點(diǎn)膠面之間的實(shí)際距離,可見,實(shí)際點(diǎn)膠工件的點(diǎn)膠面上各個(gè)點(diǎn)膠點(diǎn)與針頭出膠口之間的距離往往是不同的。且現(xiàn)有一般通過人工采用點(diǎn)膠機(jī)到工件的點(diǎn)膠面進(jìn)行點(diǎn)膠時(shí),90%時(shí)間都是在調(diào)整針頭出膠口和點(diǎn)膠面之間的距離,很難保證膠量均勻性,距離太小容易出現(xiàn)膠量少,距離太大容易出現(xiàn)局部斷膠或者膠量偏多,因此,人工調(diào)節(jié)點(diǎn)膠高度存在出膠口和點(diǎn)膠面之間的點(diǎn)膠高度的調(diào)節(jié)效率及準(zhǔn)確度低,可靠性差的缺陷。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是為了克服現(xiàn)有技術(shù)的點(diǎn)膠機(jī)采用人工調(diào)節(jié)點(diǎn)膠高度,存在出膠口和點(diǎn)膠面之間的點(diǎn)膠高度的調(diào)節(jié)效率及準(zhǔn)確度低,可靠性差的缺陷,目的在于提供一種點(diǎn)膠高度的調(diào)節(jié)方法及系統(tǒng)。
本發(fā)明是通過下述技術(shù)方案來解決上述技術(shù)問題:
本發(fā)明提供一種點(diǎn)膠高度的調(diào)節(jié)方法,所述調(diào)節(jié)方法包括:
采集工件的點(diǎn)膠面上多個(gè)目標(biāo)點(diǎn)膠點(diǎn)的相對高度值,所述相對高度值為目標(biāo)點(diǎn)膠點(diǎn)與參考點(diǎn)膠點(diǎn)之間的相對高度差值;
計(jì)算每個(gè)目標(biāo)點(diǎn)膠點(diǎn)的實(shí)際點(diǎn)膠高度值,所述實(shí)際點(diǎn)膠高度值為所述目標(biāo)點(diǎn)膠點(diǎn)的相對高度值與所述參考點(diǎn)膠點(diǎn)的理論點(diǎn)膠高度值之和;
根據(jù)所述實(shí)際點(diǎn)膠高度值自動(dòng)調(diào)節(jié)每個(gè)目標(biāo)點(diǎn)膠點(diǎn)的點(diǎn)膠高度。
可選地,所述采集工件的點(diǎn)膠面上多個(gè)目標(biāo)點(diǎn)膠點(diǎn)的相對高度值的步驟包括:
選取工件的點(diǎn)膠面上的任意一點(diǎn)作為參考點(diǎn)膠點(diǎn),并控制深度測試儀采集所述參考點(diǎn)膠點(diǎn)的高度值;
控制所述深度測試儀從所述參考點(diǎn)膠點(diǎn)開始沿著點(diǎn)膠軌跡運(yùn)動(dòng)一周,采集多個(gè)目標(biāo)點(diǎn)膠點(diǎn)的高度值;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于東莞華貝電子科技有限公司,未經(jīng)東莞華貝電子科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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