[發(fā)明專利]屏幕檢測方法及設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711029868.4 | 申請日: | 2017-10-27 |
| 公開(公告)號: | CN107749268B | 公開(公告)日: | 2021-06-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 宋秀峰 | 申請(專利權(quán))人: | 歌爾光學科技有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00;G01N21/95 |
| 代理公司: | 北京太合九思知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11610 | 代理人: | 劉戈 |
| 地址: | 261061 山東省濰坊市高新區(qū)東*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 屏幕 檢測 方法 設(shè)備 | ||
本申請公開了一種屏幕檢測方法及設(shè)備,所述方法包括:采集檢測圖像;確定所述檢測圖像中的缺陷點;選取兩點距離小于預設(shè)距離閾值的任意兩個目標缺陷點;根據(jù)所述任意兩個目標缺陷點構(gòu)成的第一線段,確定所述第一線段對應第一預設(shè)區(qū)域內(nèi)的像素點;如果所述第一預設(shè)區(qū)域內(nèi)的像素點滿足缺陷條件,確定所述待檢測屏幕存在特殊缺陷。本申請實施例實現(xiàn)特殊缺陷的自動化檢測。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請屬于圖像處理技術(shù)領(lǐng)域,具體地說,涉及一種屏幕檢測方法及設(shè)備。
背景技術(shù)
隨著科技的迅速發(fā)展,OLED(Organic Light-Emitting Diode,有機發(fā)光二極管)屏由于其具有自發(fā)光性、廣視角、高對比、低耗電、高反應速率等優(yōu)點,被廣泛應用在各種電子設(shè)備中,特別是VR設(shè)備中,VR設(shè)備利用OLED屏幕顯示虛擬場景的場景內(nèi)容,以使用戶觀看到具有立體感的虛擬場景。
為了確保使電子設(shè)備正常使用,且達到較好的分辨率,通常需要對OLED屏進行屏幕檢測,以確定是否存在缺陷。現(xiàn)有的屏幕檢測方式,多是控制OLED屏輸出不同顏色的檢測圖像,通過采集所述OLED屏輸出的檢測圖像,對所述檢測圖像進行檢測可以獲得所述檢測圖像中的存在缺陷的像素點,進而可以確定OLED屏幕中的缺陷點。
但是,現(xiàn)有的這種檢測方式只能檢測屏幕中的缺陷點,對于劃痕或者面積較大的特殊缺陷無法檢測出來,只能依據(jù)檢測人員的眼睛的直接觀察來判斷,人眼會存在視覺疲勞,容易造成缺陷遺漏,漏檢率較高。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本申請?zhí)峁┝艘环N屏幕檢測方法及設(shè)備,主要通過自動判斷方法來確定顯示屏幕中是否存在劃痕缺陷,以解決現(xiàn)有技術(shù)中對劃痕缺陷漏檢率較高的技術(shù)問題。
為了解決上述技術(shù)問題,本申請?zhí)峁┝艘环N屏幕檢測方法,其特征在于,包括:
采集檢測圖像;
確定所述檢測圖像中的缺陷點;
選取兩點距離小于預設(shè)距離閾值的任意兩個目標缺陷點;
根據(jù)所述任意兩個目標缺陷點構(gòu)成的第一線段,確定所述第一線段對應第一預設(shè)區(qū)域內(nèi)的像素點;
如果所述第一預設(shè)區(qū)域內(nèi)的像素點滿足缺陷條件,確定所述待檢測屏幕存在特殊缺陷。
可選地,所述確定所述檢測圖像中的缺陷點包括:
確定所述檢測圖像的中心區(qū)域的中心像素特征;
根據(jù)所述檢測圖像行像素特征以及列像素特征,確定與所述中心像素特征的特征差異滿意預設(shè)條件的有效區(qū)域;
確定所述檢測圖像的有效區(qū)域中的缺陷點。
可選地,所述根據(jù)所述檢測圖像行像素特征以及列像素特征,確定與所述中心像素特征的特征差異滿意預設(shè)條件的有效區(qū)域包括:
從第一行開始,依次計算每一行的行像素特征,直至任一行的行像素特征與所述中心像素特征的特征差異滿足預設(shè)條件,記錄第一行數(shù);
從最后一行開始,依次計算每一行的行像素特征,直至任一行的行像素特征與所述中心像素特征的特征差異滿足預設(shè)條件,記錄第二行數(shù);
從第一列開始,依次計算每一列的列像素特征,直至任一列的列像素特征與所述中心像素特征的特征差異滿足預設(shè)條件,記錄第一列數(shù);
從最后一列開始,依次計算每一列的列像素特征,直至任一列的列像素特征與所述中心像素特征的特征差異滿足預設(shè)條件,記錄第二列數(shù);
根據(jù)所述第一行數(shù)以及第一列數(shù)構(gòu)成的第一頂點,以及所述第二行數(shù)以及的第二列數(shù)構(gòu)成的第二頂點,確定所述有效區(qū)域。
可選地,所述如果所述第一預設(shè)區(qū)域內(nèi)的像素點滿足缺陷條件,確定所述待檢測屏幕存在特殊缺陷包括:
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