[發明專利]屏幕檢測方法及設備

有效

• 申請號: 201711029868.4
• 申請日: 2017-10-27
• 公開（公告）號: CN107749268B
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 宋秀峰
• 申請（專利權）人: 歌爾光學科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G01N21/95
• 代理公司: 北京太合九思知識產權代理有限公司 11610
• 代理人: 劉戈

1.一種屏幕檢測方法，其特征在于，包括：

采集檢測圖像；

確定所述檢測圖像中的缺陷點；

選取兩點距離小于預設距離閾值的任意兩個目標缺陷點；

根據所述任意兩個目標缺陷點構成的第一線段，確定所述第一線段對應第一預設區域內的像素點；

如果所述第一預設區域內的像素點滿足缺陷條件，確定待檢測屏幕存在特殊缺陷；

其中，所述如果所述第一預設區域內的像素點滿足缺陷條件，確定待檢測屏幕存在特殊缺陷包括：

計算位于所述第一預設區域內的像素點的第一綜合像素特征；

確定與所述任意兩個目標缺陷點構成的第一線段，相距第一預設距離且平行的第二線段；

確定所述第二線段對應的第二預設區域的像素點；

計算位于所述第二預設區域內的像素點的第二綜合像素特征；

如果所述第一綜合像素特征與所述第二綜合像素特征的第一差值，大于預設特征閾值，確定所述屏幕存在特殊缺陷。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定所述檢測圖像中的缺陷點包括：

確定所述檢測圖像的中心區域的中心像素特征；

根據所述檢測圖像行像素特征以及列像素特征，確定與所述中心像素特征的特征差異滿足預設條件的有效區域；

確定所述檢測圖像的有效區域中的缺陷點。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述檢測圖像行像素特征以及列像素特征，確定與所述中心像素特征的特征差異滿意預設條件的有效區域包括：

從第一行開始，依次計算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征與所述中心像素特征的特征差異滿足預設條件，記錄第一行數；

從最后一行開始，依次計算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征與所述中心像素特征的特征差異滿足預設條件，記錄第二行數；

從第一列開始，依次計算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征與所述中心像素特征的特征差異滿足預設條件，記錄第一列數；

從最后一列開始，依次計算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征與所述中心像素特征的特征差異滿足預設條件，記錄第二列數；

根據所述第一行數以及第一列數構成的第一頂點，以及所述第二行數以及的第二列數構成的第二頂點，確定所述有效區域。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定與所述任意兩個目標缺陷點構成的第一線段，相距預設距離，且平行的第二線段包括：

確定所述任意兩個目標缺陷點構成的第一線段所在直線的斜率；

如果所述斜率的絕對值大于1，將所述第一線段沿第一方向平行移動所述預設距離，確定與所述第一線段平行的第二線段；

如果所述斜率的絕對值小于1，將所述第一線段沿第二方向平行移動所述預設距離，確定與所述第一線段平行的第二線段。

5.一種屏幕檢測設備，其特征在于，包括：處理器，以及與所述處理器連接的存儲器；

所述存儲器用于存儲一條或多條計算機指令；其中，所述一條或多條計算機指令供所述處理器調用執行；

所述處理器用于：

采集檢測圖像；

確定所述檢測圖像中的缺陷點；

選取兩點距離小于預設距離閾值的任意兩個目標缺陷點；

根據所述任意兩個目標缺陷點構成的第一線段，確定所述第一線段對應第一預設區域內的像素點；

如果所述第一預設區域內的像素點滿足缺陷條件，確定待檢測屏幕存在特殊缺陷；

其中，所述處理器處理如果所述第一預設區域內的像素點滿足缺陷條件，確定待檢測屏幕存在特殊缺陷具體是：

計算位于所述第一預設區域內的像素點的第一綜合像素特征；

確定與所述任意兩個目標缺陷點構成的第一線段，相距第一預設距離且平行的第二線段；

確定所述第二線段對應的第二預設區域的像素點；

計算位于所述第二預設區域內的像素點的第二綜合像素特征；

如果所述第一綜合像素特征與所述第二綜合像素特征的第一差值，大于預設特征閾值，確定所述屏幕存在特殊缺陷。