[發明專利]用于計算橫截面積的方法

有效

• 申請號: 201711018064.4
• 申請日: 2017-10-25
• 公開（公告）號: CN107990868B
• 公開（公告）日: 2021-11-09
• 發明（設計）人: 成元珉;李根德;黃仁九
• 申請（專利權）人: AP系統股份有限公司
• 主分類號: G01B21/28
• 分類號: G01B21/28
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 楊文娟;臧建明

1.一種用于計算橫截面積的方法，以計算粘附到襯底上的粘附體的所述橫截面積，其特征在于，用于計算所述橫截面積的所述方法包括：

用于獲取所述粘附體的厚度改變曲線圖的過程；

用于提取在所述粘附體的所述厚度改變曲線圖上的峰頂與基線之間存在的多個過渡點的過程，其中所述基線與所述峰頂之間存在彎曲，所述過渡點接合在一起形成彎曲；

用于設定參考高度的過程，其中所述粘附體的所述厚度改變曲線圖具有多個所述峰頂，所述參考高度是水平高度直線從高度方向的下部上升到上部的情況下，存在所有所述峰頂中的每一個的在兩個點處會合的水平高度直線，將與對應于多個所述峰頂中的所有者的在兩個點處會合的水平高度直線的最小高度設定為所述參考高度；

用于提取所述粘附體的所述厚度改變曲線圖在其上與所述參考高度交叉的相交點的過程；以及

用于使用所述粘附體的所述厚度改變曲線圖上的所述過渡點之間的值計算所述粘附體的所述橫截面積的過程，其中所述過渡點位于比所述相交點的高度低的高度，

其中用于使用所述過渡點之間的所述值計算所述粘附體的所述橫截面積的所述過程包括：

用于選擇所述過渡點當中最靠近所述相交點的所述過渡點的過程；及

用于在通過由兩個選定的過渡點之間的區域的所述值所形成的線和連接所述選定的過渡點的線所形成的圖執行積分計算的過程。

2.根據權利要求1所述的用于計算所述橫截面積的方法，

其中用于獲取所述粘附體的所述厚度改變曲線圖的所述過程包括：

用于獲取所述襯底的均勻性曲線圖的過程；

用于獲取所述粘附體的均勻性曲線圖的過程；以及

用于計算所述襯底的所述均勻性曲線圖和所述粘附體的所述均勻性曲線圖的過程。

3.根據權利要求2所述的用于計算所述橫截面積的方法，其中

用于獲取所述襯底的所述均勻性曲線圖的所述過程包括用于測量在所述襯底上的一個方向上的線上的高度值的過程，

用于獲取所述粘附體的所述均勻性曲線圖的所述過程包括用于測量對應于所述線的所述粘附體的高度值的過程，且

用于計算所述襯底的所述均勻性曲線圖和所述粘附體的所述均勻性曲線圖的所述過程包括用于從所述粘附體的所述均勻性曲線圖減去所述襯底的所述均勻性曲線圖的過程。

4.根據權利要求3所述的用于計算所述橫截面積的方法，其中

用于測量所述襯底的所述高度值的所述過程包括用于通過沿著所述襯底上的所述線在所述一個方向上移動用于測量高度的所述測量儀器來測量所述高度值的過程，且

用于測量所述粘附體的所述高度值的所述過程包括用于通過沿著所述粘附體上的所述線在所述一個方向上移動所述測量儀器來測量所述高度值的過程。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的用于計算所述橫截面積的方法，其中

所述襯底包括玻璃，且

所述粘附體包括涂覆于所述襯底上的原材料。

6.根據權利要求5所述的用于計算所述橫截面積的方法，其中

所述原材料形成多個線，且

計算所述多個線的所述橫截面積。