[發(fā)明專利]檢測裝置、檢測方法及存儲(chǔ)設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711015696.5
• 申請(qǐng)日: 2017-10-26
• 公開（公告）號(hào): CN109708607A
• 公開（公告）日: 2019-05-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳磊;王志歡;楊明全;張森
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 富鼎電子科技（嘉善）有限公司
• 主分類號(hào): G01B21/30
• 分類號(hào): G01B21/30;G01B21/22;G01B21/00
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44334
• 代理人: 劉永輝;鄭杏芳

本發(fā)明提出一種檢測裝置，用于對(duì)待加工的工件的空間位置進(jìn)行檢測，其包括：處理器，適于實(shí)現(xiàn)各指令；探針單元，該探針單元與該處理器電性連接；存儲(chǔ)設(shè)備，適于存儲(chǔ)多條指令，所述指令適于由所述處理器加載并執(zhí)行：控制該探針單元，并對(duì)該探針單元的探測頭進(jìn)行標(biāo)定；控制該探針單元檢測一工件是否放置平整；控制該探針單元檢測該工件在該第一方向及該第二方向的是否發(fā)生偏移；及控制該探針單元檢測該工件在該第一方向與該第二方向所在的平面上的是否發(fā)生角度偏移。同時(shí)，本發(fā)明還提出了一種檢測方法及存儲(chǔ)設(shè)備。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種檢測裝置，特別是一種用于對(duì)待加工工件進(jìn)行檢測的檢測裝置及檢測方法。

背景技術(shù)

在數(shù)控加工過程中，對(duì)工件的尺寸及空間位置等進(jìn)行測量以對(duì)工件進(jìn)行精確定位而提高對(duì)工件的加工良率。對(duì)于工件簡單的幾何量測量，操作者可以在數(shù)控機(jī)床上直接用量具測量；對(duì)于工件的空間位置等比較復(fù)雜的測量問題，由于常規(guī)量具無法完成，操作者必須使用專用的測量設(shè)備。然而，現(xiàn)有的測量設(shè)備結(jié)構(gòu)復(fù)雜且需要由經(jīng)過專門訓(xùn)練的專業(yè)人員去完成測量過程并對(duì)測量結(jié)果進(jìn)行理解和判斷，檢測用軟件的學(xué)習(xí)和應(yīng)用較困難，操作復(fù)雜。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于上述狀況，有必要提供一種能夠?qū)ぜy量方便且操作簡單的檢測裝置。

一種檢測裝置，用于對(duì)待加工的工件的空間位置進(jìn)行檢測，該檢測裝置包括：

處理器，適于實(shí)現(xiàn)各指令；

探針單元，該探針單元與該處理器電性連接；

存儲(chǔ)設(shè)備，適于存儲(chǔ)多條指令，所述指令適于由所述處理器加載并執(zhí)行：

控制該探針單元，并對(duì)該探針單元的探測頭進(jìn)行標(biāo)定；

控制該探針單元對(duì)一工件的水平表面上的多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行檢測，并根據(jù)檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算以判斷該工件是否放置平整；

控制該探針單元對(duì)該工件的側(cè)面上的多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行檢測，并根據(jù)檢測數(shù)據(jù)與上述多個(gè)點(diǎn)的理論坐標(biāo)值計(jì)算出工件在第一方向及與該第一方向相垂直的第二方向的偏差值以判斷該工件在該第一方向及該第二方向的是否發(fā)生偏移；及

控制該探針單元對(duì)該工件的一側(cè)面上的多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行檢測，并根據(jù)檢測數(shù)據(jù)以及上述多個(gè)點(diǎn)的理論坐標(biāo)值計(jì)算出工件在該第一方向與該第二方向所在的平面上的偏移角度以判斷該工件在該第一方向與該第二方向所在的平面上的是否發(fā)生角度偏移。

一種檢測方法，其包括：

將一工件放置于一加工裝置的固定治具上；

對(duì)一探針單元的探測頭進(jìn)行標(biāo)定，并標(biāo)定出檢測坐標(biāo)原點(diǎn)；

控制該探針單元對(duì)該工件的水平表面上的多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行檢測，并根據(jù)檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算以判斷工件是否放置平整；

控制該探針單元對(duì)該工件的側(cè)面上的多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行檢測，并根據(jù)檢測數(shù)據(jù)與上述多個(gè)點(diǎn)的理論坐標(biāo)值計(jì)算出工件在第一方向及與該第一方向相垂直的第二方向的偏差值以判斷該工件在該第一方向及該第二方向的是否發(fā)生偏移；及

控制該探針單元對(duì)該工件的一側(cè)面上的多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行檢測，并根據(jù)檢測數(shù)據(jù)以及上述多個(gè)點(diǎn)的理論坐標(biāo)值計(jì)算出工件在該第一方向與該第二方向所在的平面上的偏移角度以判斷該工件在該第一方向與該第二方向所在的平面上的是否發(fā)生角度偏移。

一種存儲(chǔ)設(shè)備，該存儲(chǔ)設(shè)備存儲(chǔ)多條指令，所述指令適于由處理器加載并執(zhí)行：

控制一探針單元，并對(duì)該探針單元的探測頭進(jìn)行標(biāo)定；

控制該探針單元對(duì)一工件的水平表面上的多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行檢測，并根據(jù)檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算以判斷該工件是否放置平整；