[發明專利]檢測裝置、檢測方法及存儲設備在審
| 申請號: | 201711015696.5 | 申請日: | 2017-10-26 |
| 公開(公告)號: | CN109708607A | 公開(公告)日: | 2019-05-03 |
| 發明(設計)人: | 陳磊;王志歡;楊明全;張森 | 申請(專利權)人: | 富鼎電子科技(嘉善)有限公司 |
| 主分類號: | G01B21/30 | 分類號: | G01B21/30;G01B21/22;G01B21/00 |
| 代理公司: | 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334 | 代理人: | 劉永輝;鄭杏芳 |
| 地址: | 314102 浙江省嘉興市嘉*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 探針單元 存儲設備 檢測 處理器 種檢測 指令 電性連接 多條指令 檢測裝置 角度偏移 空間位置 探測頭 偏移 標定 加載 存儲 平整 加工 | ||
1.一種檢測裝置,用于對待加工的工件的空間位置進行檢測,該檢測裝置包括:
處理器,適于實現各指令;
探針單元,該探針單元與該處理器電性連接;
存儲設備,適于存儲多條指令,所述指令適于由所述處理器加載并執行:
控制該探針單元,并對該探針單元的探測頭進行標定;
控制該探針單元對一工件的水平表面上的多個點進行檢測,并根據檢測數據進行計算以判斷該工件是否放置平整;
控制該探針單元對該工件的側面上的多個點進行檢測,并根據檢測數據與上述多個點的理論坐標值計算出工件在第一方向及與該第一方向相垂直的第二方向的偏差值以判斷該工件在該第一方向及該第二方向的是否發生偏移;及
控制該探針單元對該工件的一側面上的多個點進行檢測,并根據檢測數據以及上述多個點的理論坐標值計算出工件在該第一方向與該第二方向所在的平面上的偏移角度以判斷該工件在該第一方向與該第二方向所在的平面上的是否發生角度偏移。
2.如權利要求1所述的檢測裝置,其特征在于:所述指令適于由該處理器加載并執行:
對該工件上的任一點進行檢測。
3.如權利要求1所述的檢測裝置,其特征在于:該檢測裝置還包括提示單元,該提示單元與該處理器電性連接,所述指令適于由該處理器加載并執行:
在該工件放置出現不平整、位置偏差及角度偏移異常情況時,該提示單元做出提醒。
4.如權利要求1所述的檢測裝置,其特征在于:該檢測裝置還包括校正單元,該校正單元與該處理器電性連接,所述指令適于由該處理器加載并執行:
在該工件出現不平整、位置偏差及角度偏移的異常時,該校正單元對該工件進行校正。
5.如權利要求1所述的檢測裝置,其特征在于:該檢測裝置還包括顯示單元,該顯示單元用于顯示標定的相關參數、檢測數據及處理器處理后的數據,該顯示單元還用于輸入相關指令并將該指令信息傳送至該處理器及該存儲設備。
6.一種檢測方法,其包括:
將一工件放置于一加工裝置的固定治具上;
對一探針單元的探測頭進行標定,并標定出檢測坐標原點;
控制該探針單元對該工件的水平表面上的多個點進行檢測,并根據檢測數據進行計算以判斷工件是否放置平整;
控制該探針單元對該工件的側面上的多個點進行檢測,并根據檢測數據與上述多個點的理論坐標值計算出工件在第一方向及與該第一方向相垂直的第二方向的偏差值以判斷該工件在該第一方向及該第二方向的是否發生偏移;及
控制該探針單元對該工件的一側面上的多個點進行檢測,并根據檢測數據以及上述多個點的理論坐標值計算出工件在該第一方向與該第二方向所在的平面上的偏移角度以判斷該工件在該第一方向與該第二方向所在的平面上的是否發生角度偏移。
7.如權利要求6所述的檢測方法,其特征在于:在檢測該工件是否放置平整的步驟中,具體為:控制該探針檢測該工件的水平表面上的三個點P1(X1,Y1,Z1),P2(X2,Y2,Z2)及P3(X3,Y3,Z3),將上述三個點的Z值進行比較并計算出最高值和最低值的差值,且將上述差值與預先設定的安全值進行比較,當上述差值大于安全值,則判斷該工件并未放置平整,當上述差值小于安全值,則判斷該工件放置平整。
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