[發(fā)明專利]一種瓷磚平整度檢測(cè)裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711005582.2
• 申請(qǐng)日: 2017-10-24
• 公開（公告）號(hào): CN107655427A
• 公開（公告）日: 2018-02-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張偉群
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 佛山市邁迅機(jī)電有限公司
• 主分類號(hào): G01B11/30
• 分類號(hào): G01B11/30
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司44202
• 代理人: 麥小嬋,郝傳鑫

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及陶瓷生產(chǎn)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種瓷磚平整度檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)

瓷磚是由耐火的金屬氧化物及半金屬氧化物經(jīng)研磨、混合、壓制、施釉、燒結(jié)等過程而形成的一種建筑材料。其通常被鑲嵌在建筑物的表面上，在保護(hù)建筑物的同時(shí)，起到裝飾的作用。但是，由于加工工藝的原因，瓷磚在燒結(jié)的過程中通常會(huì)出現(xiàn)彎曲、翹曲、扭曲等變形，導(dǎo)致瓷磚的表面不平整，從而影響瓷磚的質(zhì)量。因此，為了確保瓷磚的質(zhì)量，在瓷磚生產(chǎn)的過程中，需要對(duì)瓷磚的平整度進(jìn)行抽檢，以便及時(shí)發(fā)現(xiàn)不合格的產(chǎn)品。

目前，對(duì)于瓷磚平整度的抽檢一般是采用人工抽樣以及手工檢測(cè)的方式，由于瓷磚檢測(cè)的自動(dòng)化程度低，導(dǎo)致檢測(cè)時(shí)間長(zhǎng)且人力耗費(fèi)大，從而使得瓷磚的生產(chǎn)效率低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種瓷磚平整度檢測(cè)裝置，以解決對(duì)于現(xiàn)有瓷磚平整度的抽檢，由于采用人工檢測(cè)的方式而導(dǎo)致檢測(cè)時(shí)間長(zhǎng)和人力耗費(fèi)大的技術(shù)問題，以提高瓷磚的生產(chǎn)效率。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種瓷磚平整度檢測(cè)裝置，包括檢測(cè)平臺(tái)以及設(shè)于所述檢測(cè)平臺(tái)上的第一縱向?qū)к墶⒌诙v向?qū)к壓偷谝粰M向?qū)к墸龅谝豢v向?qū)к壟c所述第二縱向?qū)к壪鄬?duì)設(shè)置，所述第一橫向?qū)к壍囊欢丝苫瑒?dòng)地連接在所述第一縱向?qū)к墸龅谝粰M向?qū)к壍牧硪欢丝苫瑒?dòng)地連接在所述第二縱向?qū)к壣希?/p>

所述瓷磚平整度檢測(cè)裝置還包括檢測(cè)組件和控制器，所述檢測(cè)組件可滑動(dòng)地連接在所述第一橫向?qū)к壣希宜鰴z測(cè)組件的輸出端與所述控制器的第一輸入端電連接。

作為優(yōu)選方案，所述控制器還用于：控制所述檢測(cè)組件沿方形瓷磚的四邊及對(duì)角線滑動(dòng)。

作為優(yōu)選方案，所述檢測(cè)組件包括第一滑塊以及連接在所述第一滑塊上的傳感器，所述檢測(cè)組件通過所述第一滑塊可滑動(dòng)地連接在所述第一橫向?qū)к壣希凰鰝鞲衅鞯妮敵龆伺c所述檢測(cè)組件的輸出端電連接。

作為優(yōu)選方案，所述第一滑塊的一端設(shè)有向下延伸的第一翻邊，所述傳感器連接在所述第一翻邊上。

作為優(yōu)選方案，所述傳感器為激光位移傳感器。

作為優(yōu)選方案，所述檢測(cè)平臺(tái)上設(shè)有第一電機(jī)，所述第一電機(jī)的輸出軸與所述第一橫向?qū)к壍囊欢诉B接，所述第一電機(jī)的輸入端與所述控制器的第一控制端電連接。

作為優(yōu)選方案，所述瓷磚平整度檢測(cè)裝置還包括第二滑塊和第三滑塊，所述第一橫向?qū)к壍囊欢送ㄟ^所述第二滑塊可滑動(dòng)地連接在所述第一縱向?qū)к壣希龅谝粰M向?qū)к壍牧硪欢送ㄟ^所述第三滑塊可滑動(dòng)地連接在所述第二縱向?qū)к壣稀?/p>

作為優(yōu)選方案，所述檢測(cè)平臺(tái)上還設(shè)有第二電機(jī)，所述第二電機(jī)的輸出軸分別與所述第一縱向?qū)к壍囊欢撕退龅诙v向?qū)к壍囊欢诉B接，所述第二電機(jī)的輸入端與所述控制器的第二控制端電連接。

作為優(yōu)選方案，所述第二電機(jī)上設(shè)有連接桿，所述連接桿的一端與所述第二電機(jī)的輸出軸連接，并與所述第一縱向?qū)к壍囊欢诉B接，所述連接桿的另一端與所述第二縱向?qū)к壍囊欢诉B接。

作為優(yōu)選方案，所述瓷磚平整度檢測(cè)裝置上還設(shè)有多個(gè)用于定位瓷磚四周的定位件，且多個(gè)所述定位件設(shè)于所述第一縱向?qū)к壓退龅诙v向?qū)к壷g。

本發(fā)明提供一種瓷磚平整度檢測(cè)裝置，包括檢測(cè)平臺(tái)以及設(shè)于檢測(cè)平臺(tái)上的第一縱向?qū)к墶⒌诙v向?qū)к壓偷谝粰M向?qū)к墸谝豢v向?qū)к壟c第二縱向?qū)к壪鄬?duì)設(shè)置，第一橫向?qū)к壍囊欢丝苫瑒?dòng)地連接在第一縱向?qū)к墸谝粰M向?qū)к壍牧硪欢丝苫瑒?dòng)地連接在第二縱向?qū)к壣希淮纱u平整度檢測(cè)裝置還包括檢測(cè)組件和控制器，檢測(cè)組件可滑動(dòng)地連接在第一橫向?qū)к壣希覚z測(cè)組件的輸出端與控制器的第一輸入端電連接。通過控制器控制檢測(cè)組件在第一橫向?qū)к壣匣瑒?dòng)，同時(shí)控制第一橫向?qū)к壴诘谝豢v向?qū)к壓偷诙v向?qū)к壣匣瑒?dòng)，以使檢測(cè)組件能夠在第一縱向?qū)к壓偷诙v向?qū)к壷g滑動(dòng)，從而使得檢測(cè)組件能夠自動(dòng)且充分地檢測(cè)瓷磚的表面，以提高瓷磚檢測(cè)的自動(dòng)化程度，進(jìn)而有效地避免了由于人工檢測(cè)瓷磚的平整度而導(dǎo)致檢測(cè)時(shí)間長(zhǎng)和人力耗費(fèi)大，以提高瓷磚的生產(chǎn)效率。

附圖說明

圖1是本發(fā)明實(shí)施例中的瓷磚平整度檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明實(shí)施例中的檢測(cè)組件的檢測(cè)軌跡的示意圖。

其中，1、檢測(cè)平臺(tái)；11、調(diào)節(jié)底座；12、滑輪；2、第一縱向?qū)к墸?1、第二滑塊；3、第二縱向?qū)к墸?1、第三滑塊；4、第一橫向?qū)к墸?、檢測(cè)組件；51、第一滑塊；511、第一翻邊；52、傳感器；6、第一電機(jī)；7、第二電機(jī)；71、連接桿；8、定位件；9、方形瓷磚；91、上邊緣；92、下邊緣；93、左邊緣；94、右邊緣。

具體實(shí)施方式